第4回環境拠点計測グループセミナー開催

日時：平成22年10月6日（水）16：00～17：00
場所：千現地区　研究本館1階　第二会議室
講演者：東京大学大学院工学系研究科　柴田直哉氏
講演題目：Nanostructure characterization using aberration corrected STEM

問い合わせ：環境拠点計測グループ　橋本（NIMS)

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