電子顕微鏡ユニット

電子顕微鏡観察をNIMS内外の研究者へ強力にサポート

電子顕微鏡ユニット（Electron Microscopy Unit, NIMS）は、研究の種々のフェーズにおける電子顕微鏡観察を広範にサポートします。

透過型電子顕微鏡（TEM）や走査型電子顕微鏡（SEM）、集束イオンビーム装置（FIB）等の利用サポートや特殊観察技術を用いた最先端の観察・解析を実施しています。

NIMS外の方でも、当ユニットの装置や技術を、マテリアル先端リサーチインフラ（ARIM）やNIMSオープンファシリティ（NOF）等のいくつかの方法で利用することができます。詳細は「利用方法」及び「装置一覧」をご覧ください。

最新情報：

  2025.9.11  最新情報 
以下の装置の夜間利用を開始します。NIMS職員の方で、Bライセンスを取得済みの装置について夜間の単独利用を許可されれば、Aライセンス利用者として夜間の予約が可能になります。希望される方は、まずはユニット事務局（tem[at]nims.go.jp）へご相談ください。

  • TEM試料作製装置群　（精密計測実験棟103室）
     ※平日9:00-20:30まで利用可（要予約装置は20:00まで）
  • NB5000およびHelios 650　（精密計測実験棟129室）
     ※AM・PMセッションに加え、Nightセッション（平日17:00-20:30）も利用可
    •   2025.9.5  最新情報 
    「NIMS微細構造解析装置管理システム」の名称が「NIMS電子顕微鏡ユニット装置管理システム」に変更されました。システム操作上の大きな変更点はございませんが、予約等のお知らせメールがtem-regist[at]nims.go.jpから配信されるようになりますので、その点のみご注意ください（変更前：info-arim[at]nims.go.jp）。
      2025.3.17
    2025年度の利用申請受付を開始いたします。利用開始までの手順をご確認の上、お申込みください。ご不明な点がございましたら事務局<tem[at]nims.go.jp>までお問い合わせください。
  • 2025年度利用申請手順（内部利用）
  • 2025年度利用申請手順（外部利用）
    •   2024.9.1
    共用設備等を利用して論文等で成果発表する場合、謝辞の記載が義務化されました。詳細はこちらをご覧ください。
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