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No.6 透過型電子顕微鏡による材料解析基礎と応用

透過型電子顕微鏡による材料解析基礎と応用

プログラム概要

JEOL JEM-2100F


  • 対  象 : 初級者
  • 講習形式 : 座学と実習
  • 開 催 日  : (上期)平成30年9月20日(木)
  •      : (下期)平成30年12月13日(木)
  • 時  間 : 9:00~16:30
  • 定  員 : 2名
  • 開催場所 : 千現地区
  • 内  容 : 透過型電子顕微鏡法の基礎と材料解析への応用について座学と実習を行います。


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