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観察・分析

Heイオン顕微鏡

Heイオン顕微鏡
  • 走査型ヘリウムイオン顕微鏡


光学顕微鏡

蛍光顕微鏡
  • ライブセル高速イメージング・全反射蛍光顕微鏡
  • プレートリーダー
  • 正立蛍光顕微鏡(微分干渉)(蛍光顕微鏡群)
  • 正立蛍光顕微鏡(位相差)(蛍光顕微鏡群)
試料作製
  • レーザーマイクロダイセクションシステム
  • クライオスタット(光顕用凍結ミクロトーム)
ラマン顕微鏡
  • レーザーラマン顕微鏡
レーザー顕微鏡
  • 3次元測定レーザー顕微鏡
  • カラーレーザー顕微鏡
  • 共焦点レーザー走査型蛍光顕微鏡


三次元解析

FIB
  • 微細組織三次元マルチスケール解析装置
  • TEM試料作製用集束イオンビーム加工装置
X線CT
  • マイクロフォーカスX線CT装置


電子顕微鏡

FIB
  • FIB加工装置
  • FIB加工装置
  • FIB加工装置
  • デュアルビーム加工観察装置
  • FIB-SEMダブルビーム装置
  • 集束イオンビーム加工装置
  • 清浄表面組織観察FIB-SEM装置
SEM
  • ミニSEM+EDX
  • FE-SEM(SU8000)+EDX
  • FE-SEM(S-4800)+EDX
  • 走査電子顕微鏡
  • 極低加速電圧電界放出形走査電子顕微鏡
  • 超高分解能電界放出形走査電子顕微鏡
  • 電界放出形走査電子顕微鏡
  • 走査電子顕微鏡
  • 走査電子顕微鏡
  • 卓上電子顕微鏡
  • FE-SEM(SU8230)+EDX
  • 走査型電子顕微鏡
TEM
  • 透過電子顕微鏡
  • 実動環境対応物理分析電子顕微鏡
  • 300kV電界放出形透過電子顕微鏡
  • 200kV電界放出形透過電子顕微鏡
  • 200kV透過電子顕微鏡
  • HRTEM解析システム
  • 電子線トモグラフィー解析システム
  • 300kV電界放出形電子顕微鏡
  • 単原子分析電子顕微鏡
  • 走査透過電子顕微鏡
  • 冷陰極電界放出形電子顕微鏡
  • 冷陰極電界放出形ローレンツ電子顕微鏡
  • 100kV透過電子顕微鏡
  • (現在使用不可)200kV透過電子顕微鏡
  • 実動環境対応電子線ホログラフィー電子顕微鏡
  • 原子識別電子顕微鏡
  • 局所変形観察・解析電子顕微鏡(透過型電子顕微鏡)
  • 広空間・高分解能分析電子顕微鏡
試料作製
  • ピックアップシステム
  • イオンスパッタ
  • クロスセクションポリッシャ
  • ウルトラミクロトーム
  • ディンプルグラインダー (TEM試料作製装置群)
  • 精密イオン研磨装置(PIPS Ⅱ)(TEM試料作製装置群)
  • 精密イオン研磨装置 (TEM試料作製装置群)
  • イオンスライサー (TEM試料作製装置群)
  • ターボ式真空蒸着装置(TEM試料作製装置群)
  • オスミウムコーター (TEM試料作製装置群)
  • オスミウムコータ(2)
  • カーボンコーター (TEM試料作製装置群)
  • ハイブリッドコーター
  • 白金コーター(TEM試料作製装置群)
  • 自動精密切断機 ISOMET (TEM試料作製装置群)
  • くさび形研磨装置 マルチプレップ (TEM試料作製装置群)
  • 精密コーティングシステム (TEM試料作製装置群)
  • 平面研磨装置
  • 金コーター
  • 超音波ディスクカッター
  • TEM試料作製補助装置群(TEM試料作製装置群)
  • 低加速イオン研磨装置(セラミックス試料作製装置群)
  • 小型精密切断器 (セラミックス試料作製装置群)
  • 卓上研磨機(セラミックス試料作製装置群) 
  • 標準形デジタルインジケータ(セラミックス試料作製装置群)
  • ディンプルグラインダ(セラミックス試料作製装置群)
  • ホットプレート(セラミックス試料作製装置群 )
  • マルチコーター(セラミックス試料作製装置群)
  • 精密イオン研磨装置(セラミックス試料作製装置群)
  • 精密イオン研磨装置(セラミックス試料作製装置群)
  • 無損傷電子顕微鏡試料薄片化装置
表面電子顕微鏡
  • スピン偏極低エネルギー電子顕微鏡


トンネル顕微鏡

STM
  • 極低温・高磁場走査型トンネル顕微鏡
  • 低温走査型トンネル顕微鏡


プローブ顕微鏡

AFM
  • 原子間力顕微鏡
  • AFM(原子間力顕微鏡)
  • ナノサーチ顕微鏡
SPM
  • 走査プローブ顕微鏡
  • 環境制御型周波数変調方式走査型プローブ顕微鏡


共用装置