ホーム > 共用装置 > 評価・計測

評価・計測

磁場環境

強磁場
  • 大口径超伝導マグネット装置
  • 18T汎用超伝導マグネット装置
  • 15T超伝導スプリットマグネット装置
  • 冷凍機伝導冷却型10T超伝導マグネット装置-Ⅱ
  • 試料振動型磁化測定装置(VSM)
  • 冷凍機伝導冷却型12T超伝導マグネット装置
  • 20Tマグネット・希釈冷凍機システム
  • 20Tマグネット・ヘリウム3冷凍機システム
  • 17Tマグネット・ヘリウム4VTIシステム
  • 強磁場光学測定システム
  • 大口径17Tマグネット
  • 高磁場下材料・プロセス観測・制御装置
  • ヘリウム液化システム


電気計測

試料作製
  • ワイヤーボンダー(1)
  • ワイヤーボンダー(2)
プローバー
  • 室温プローバーシステム
  • 室温プローバー
  • 低温プローバー
  • 液体窒素プローバーシステム


物性評価

材料評価
  • ガス吸着型比表面積・ナノ細孔径評価装置
  • 接触角測定装置(材料分析装置群)
  • 強度物性測定器(材料分析装置群)
  • 薄膜応力測定装置
  • 分光光度計(分子材料分光分析装置群)
  • 紫外可視近赤外分光計V-570
  • 紫外可視近赤外分光計V-7200
  • 蛍光分光光度計(低温測定付属)(分子材料分光分析装置群)
  • 蛍光分光計 
  • 顕微ラマン分光計
  • 顕微PL測定装置
  • レーザー回折式粒度分布測定装置(ナノ材料分析装置群)
  • 動的光散乱(ダイナミック光散乱光度計)(ナノ材料分析装置群)
  • レーザーゼータ電位計(ナノ材料分析装置群)
  • ゼータ電位&粒径測定装置
  • 冷却遠心機
  • 分光エリプソメーター
  • 自動エリプソメーター
  • 熱分析装置(TG/DTA+DSC)


形状測定

表面形状測定
  • 触針式表面段差計
  • 表面段差計
  • 高精度三次元座標測定機


塑性加工

塑性加工
  • 1500トン鍛造シミュレータ
  • 25t加工熱処理シミュレータ


共用装置