電子顕微鏡ステーションユーザーズミーティング / TEM station User's meeting
日頃はNIMS電子顕微鏡ステーションをご利用いただきありがとうございます。
この度、2017年1月より1か月間、Gatan OneVIewとDENSsolutionsホルダーを組み合わせたその場観察システムをJEM-ARM200Fに搭載して皆様にご利用いただける機会を設けました。
つきましては、それらシステムの紹介とNIMSの実動環境計測技術グループ、電子顕微鏡ステーションにおける基礎・応用研究・ユーザー共用の紹介を目的としたユーザーズミーティングを開催いたします。
年末のお忙しい時期とは存じますが、ぜひご参加くださいますようお願い申し上げます。
なお、JEM-ARM200Fにおける OneView+DENSsolutions その場観察システムの詳細やご利用方法に関しましては、こちらをご覧ください。
Thank you very much for the utilization of the facility of NIMS TEM Station.
From January 2017 we will have an opportunity that you can use JEM-ARM200F
with Gatan OneVIew and DENSsolutions holder for a month.
Before it, we will organize a TEM Station User's meeting to introduce that system
and our groups.
Please feel free to participate in our event.
会場 | 物質・材料研究機構 千現地区 千現第1会議室 NIMS, Sengen Central Building Meeting Room No.1 |
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開催日: 時間 | 2016.12.01, 13:00 - 16:30 |
参加料 | 無料 (意見交換会 : 2000円) / Free (Public meeting: 2,000) |
定員 / Quota | 85名(ラボツアー10名) 85 persons (Labo tour :10 persons) |
参加申し込み / Entry | 参加申し込みはこちら
※ラボツアーをご希望の方は11月24日(木)までに参加申し込みが必要です。
定員の10名をこえた場合、抽選となりますのでご了承ください。
※If you hope to take part in Labo tour, please enter until 11/24.
Please note that when the number of applicants reaches 10, we decide by drawing lots.
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お問い合わせ |
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プログラム
13:10-13:55 DENSsolutions社製その場観察用MEMSホルダーの紹介
13:55-14:40 In-situ記録に最適化されたOneView、K2-IS 高速CMOSカメラ
15:45-16:20 NIMS技術開発・共用部門電子顕微鏡ステーションにおけるその場観察事例紹介
16:20-16:30 Closing
16:30-17:10 ラボツアー(千現ファイン棟JEM-ARM200F)
関連ファイル・リンク
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