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第151回先端計測オープンセミナー

From thin film growth modes to low energy electron microscopy

開催日: 2020.02.27


日時

2020年2月27日 (木) 16:00-17:00

会場

国立研究開発法人 物質・材料研究機構
千現地区 研究本館8階 中セミナー室

参加方法及びお問合わせ

事前登録は必要ありません。
当日会場で受付いたします。
お問い合わせは、右記事務局までご連絡ください。

講演者

Prof. Ernst Bauer, Arizona State University

表題

From thin film growth modes to low energy electron microscopy

講演要旨

 This talk gives a brief history of the invention of low energy electron microscopy (LEEM) starting from the formulation of the three thin film growth modes (Frank-van der Merwe, Stranski-Krastanov and Volmer-Weber).1 On the long road to LEEM lateral averaging methods such as work function change and thermal desorption methods were applied in addition to LEED to determine the phase and bonding of the growing film to obtain experimental insight in the first two growth modes. As the development of LEEM started2 in the early years of metal ultrahigh vacuum technology many technical problems had to be solved in addition to the transfer of the system to a new location so that this imaging method did not become viable until 25 years later.3

  1. Ernst Bauer, Z. Kristallogr. 110 (1958) 372
  2. E. Bauer, 5th Internat. Congr. Electron Microsc. 1961, D-11
  3. W. Telieps and E. Bauer, Ultramicroscopy 17 (1985), 57


イベント・セミナーデータ

イベント・セミナー名
第151回先端計測オープンセミナー
From thin film growth modes to low energy electron microscopy
会場
国立研究開発法人 物質・材料研究機構
千現地区 研究本館8階 中セミナー室
開催日: 時間
2020.02.27
16:00-17:00
参加料
無料

お問合わせ

国立研究開発法人 物質・材料研究機構 先端材料解析研究拠点運営室
Tel:029-859-2643/2839
Fax:029-859-2801
E-Mail: amc=ml.nims.go.jp([ = ] を [ @ ] にしてください)
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