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第146回先端計測オープンセミナー

その場ToF-SIMSとNMFを用いた全固体LIB電極中の異なるLi組成分布の検出

開催日: 2019.08.01 終了


日時

2019年8月1日 (木) 15:00-16:00

会場

国立研究開発法人 物質・材料研究機構
研究本館8階 中セミナー室
交通案内 → こちら

参加方法及びお問合わせ

事前登録は必要ありません。
当日会場で受付いたします。
お問い合わせは、右記事務局までご連絡ください。

講演者

増田秀樹、筑波大学、助教

表題

その場ToF-SIMSとNMFを用いた全固体LIB電極中の異なるLi組成分布の検出

講演要旨

次世代蓄電デバイスとして期待される全固体型リチウムイオン電池内部の電位分布やリチウムイオン分布をオペランド計測する手法として、飛行時間型二次イオン質量分析 (ToF-SIMS) を用いたその場断面計測[1]を開発している。講演では、取得したスペクトラムイメージングデータに非負の行列因子分解[2]を行い、異なるLi組成の分布を可視化する取組みについて紹介する[3]。

[1] H.Masuda, et al., J. Powersources,400(2018)527.
[2] M. Shiga, et al., Ultramicroscopy,170(2016)43.
[3] H.Masuda, et al., submitted.


イベント・セミナーデータ

イベント・セミナー名
第146回先端計測オープンセミナー
その場ToF-SIMSとNMFを用いた全固体LIB電極中の異なるLi組成分布の検出
会場
国立研究開発法人 物質・材料研究機構
研究本館8階 中セミナー室
開催日: 時間
2019.08.01
15:00-16:00
参加料
無料

お問合わせ

国立研究開発法人 物質・材料研究機構 先端材料解析研究拠点運営室
Tel:029-859-2839
Fax:029-859-2801
E-Mail: amc=ml.nims.go.jp([ = ] を [ @ ] にしてください)
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