電子顕微鏡ユニット
2023.04.01 更新
電子顕微鏡ユニットは、研究の種々のフェーズにおける電子顕微鏡観察を広範にサポートします。透過型電子顕微鏡や走査型電子顕微鏡、集束イオンビーム装置等の利用サポートや特殊観察技術を用いた最先端の観察・解析を実施しています。NIMS外の方でも、当ユニットの装置や技術を、マテリアル先端リサーチインフラ (ARIM) や NIMSオープンファシリティ (NOF) 等のいくつかの方法で利用することができます。
専門分野・サポート対象
電子顕微鏡観察を強力にサポート
電子顕微鏡ユニットでは :
- 最新の超高分解能分析電子顕微鏡を中心とした最先端の電顕分析技術を基に、特に電子線損傷を受けやすい試料などの従来困難だった課題に対し、課題解決のための技術をパッケージとして提供しています。
- 多目的電顕から高分解能電顕まで、幅広い機能をカバーする透過型電子顕微鏡群と解析技術を共用化するとともに、電顕技術全般のレベルアップに向けた取り組みを実施しています。
- 3D結晶方位解析等、メゾスケールの材料組織解析に特化した最先端のSEMやFIB-SEMを中心とした電顕分析技術を基に、課題解決のための技術をパッケージとして提供しています。
NIMS外の方々へも共用・支援を提供
NIMS外の研究者の方々にもm、最先端の電子顕微鏡と関連設備を利用して頂くことができます。
ご利用の際は、経験・知識の豊富な技術スタッフが全面的にサポートいたします。
ご利用方法は2通りあります。
NIMS独自の事業です。ご利用により得られた成果は非公開です。
https://www.nims-open-facility.jp/
