(JASIS展にご来場の方、ぜひ、聴講をご検討ください。)

JASISコンファレンス SPMセミナー
走査型プローブ顕微鏡を利用したナノスケール電気・力学物性計測

主催：日本顕微鏡学会　走査型プローブ顕微鏡分科会

日時：9月8日（金）9:40〜16:00
場所：幕張メッセ　JASISコンファレンス会場　105会議室
　　　https://www.jasis.jp/
参加費：3500円（学生無料）　当日払(カラー印刷予稿集代)

"9/７（木）までに氏名と所属を下記E-Mailまで登録ください。
件名に「SPMセミナーJASIS」とご記載ください。"

登録先
E-Mail: h.itoh@aist.go.jp　（井藤浩志、産業技術総合研究所）
TEL: 029-861-5752

プログラム（敬称略）
  9:30〜 　　　　開会挨拶
  9:35〜10:30　    中嶋　健（東工大）
　原子間力顕微鏡による高分子材料のナノスケール弾性率マッピング
10:30〜11:25　    三宅　晃司（産業技術総合研究所）
　ナノスケールでの摩擦力評価
11:25〜11:30    事務連絡
11:30〜14:00    昼食休憩・JASIS展
14:00〜14:50　　井藤　浩志（産業技術総合研究所）
　機械物性・電気計測ためのISO標準の利用法
14:50〜15:50　小林　圭（京都大学）
　静電気力顕微鏡/ケルビンプローブフォース顕微鏡による局所電子物性評価
15:50〜16:00    事務連絡・閉会挨拶


URL：http://microscopy.or.jp/bunkakai/
　　 http://www.nims.go.jp/project/amcp/spm/