NIMS先端計測シンポジウム2012 写真集 2   口頭発表はこちら
2012年2月23日


ポスター発表




ポスター賞 授賞式

最優秀ポスター賞  11票
・篠怺ー志 「第1原理計算による化合物半導体の誘電関数の計算」

最優秀ポスター賞 次席 5票
・品川秀幸 「気密式MAS試料管の開発と応用」

優秀ポスター賞  4票
・CarmenPerez Leon "The Anatase TiO2(101) Surface: an STM and STS Study"

・Michael Marz "Growth mode and electronic states of Ni cluster on the HOPG surface"

・吉川英樹 「電子エネルギー損失スペクトルの因子分析による化合物半導体の誘電関数の導出」

・荻原俊弥「超高感度,高深さ分解能オージェ深さ方向分析法の開発と極薄膜多層構造の分析への応用」

・Vallerie Ann Innis-Samson "X-ray Reflection Tomography - a new tool for surface imaging: Simulation versus Experiments"