イベント
文部科学省ナノテクノロジープラットフォーム
物質・材料研究機構 微細構造解析プラットフォーム
地域セミナー（4月6日）開催のお知らせ
【XeプラズマFIBを用いた試料作製とFIB-SEMを軸とした他の分析法との融合】
物質・材料研究機構（NIMS）微細構造解析プラットフォームは、NIMS 技術開発・共用部門 電子顕微鏡ステーションと共同で地域セミナーを開催いたします。みなさまのご参加をお待ちしております。
ご案内資料（セミナー内容はこちらを参照してください。）
【日時】
2020年4月6日(月) 13:30～14:40（受付13：00～）
入場無料
※ 当日参加も可能ですが準備の都合上、下記お申込みフォームより事前登録をお願いします。
〆切は、4/2(木) 正午です。
【場所】
国立研究開発法人 物質・材料研究機構 千現地区 第２会議室
【講演者】
株式会社東陽テクニカ
ライフサイエンス＆マテリアルズ 鈴木直久氏
【講演内容】
XeプラズマFIB-SEMは、最大1mmまでの高速加工だけでなく、その不活性な性質によりGaフリーの試料作製が可能で、年々ニーズが高まっています。またToF-SIMSやラマン顕微鏡のFIB-SEMへの搭載による応用も展開されています。
本講演ではこれらの詳細と応用例について紹介します。
【お申込み・お問い合わせ】
NIMS微細構造解析プラットフォーム事務局
E-mail:nmcp[at]nims.go.jp
([at]を@に置き換えてください)
【主催/共催】
NIMS微細構造解析プラットフォーム / 電子顕微鏡ステーション