表面電子顕微鏡(Surface Electron Microscopy)
- スピン偏極低エネルギー電子顕微鏡（SPLEEM）
低エネルギーのスピン偏極電子ビームを試料に照射し、表面の顕微像を得る。 SPLEEM
(磁区コントラスト)、LEEM (回折コントラスト、干渉コントラスト等)、LEED (局所領域の回折
パターン)モードによる動画観察および3次元的な磁化方向の解析が可能。
（千現地区 標準実験棟棟 145室）
Specifications
The instrument is equipped with a high brightness and highly spin-polarized electron gun, a 3D spin manipulator, and an energy analyzer.
・Acceleration voltage：20kV (Incident energy：～several tens of eV)
・Lateral resolution：10nm
・Energy resolution：0.1eV
・Degree of spin-polarization of incident beam：90%
・Base pressure in the experimental chamber：UHV