国立研究開発法人 物質・材料研究機構
微細構造解析プラットフォーム事務局

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表面電子顕微鏡(Surface Electron Microscopy)

スピン偏極低エネルギー電子顕微鏡(SPLEEM) 低エネルギーのスピン偏極電子ビームを試料に照射し、表面の顕微像を得る。 SPLEEM (磁区コントラスト)、LEEM (回折コントラスト、干渉コントラスト等)、LEED (局所領域の回折 パターン)モードによる動画観察および3次元的な磁化方向の解析が可能。

(千現地区 標準実験棟棟 145室)

Specifications

The instrument is equipped with a high brightness and highly spin-polarized electron gun, a 3D spin manipulator, and an energy analyzer.
・Acceleration voltage:20kV (Incident energy:~several tens of eV)
・Lateral resolution:10nm
・Energy resolution:0.1eV
・Degree of spin-polarization of incident beam:90%
・Base pressure in the experimental chamber:UHV