ナノ創製のためのナノ計測技術　　　藤田　大介 NIMSナノ計測センターの推進するナノ計測基盤技術ならびに、ナノ創製と融合したSPMナノ計測技術を中心にNIMSの最近の研究成果を紹介する。ナノデバイス開発には観る技術（ナノ計測）が不可欠であり、その創る技術（ナノ創製）との連携技術が重要となる。 その観点からSPMによるナノ計測/ナノ創製/ナノ機能探索の融合化の推進が期待される。	[　内容　] NIMSナノ計測センターの概要 ナノ･材料のためのプローブ計測技術 探針物質移送によるナノ構造の創製 Si（100）表面における周期構造制御 単原子移送による1次元量子井戸創製 極限場ナノ計測