2004.Vol.4 No.4
April
特集“放射光利用による物質材料研究”
高エネルギーX線を使った
光電子顕微鏡の研究開発
状態分析とナノテク支援
“埋もれた”薄膜界面の非破壊評価
新しい蛍光Ｘ線技術を用いた材料開発
機構の動き
若手国際研究拠点が本格スタート
ナノ・生体材料研究棟完成
NIMSの論文が質量ともに大幅に向上
JICA研修員がNIMSに来訪
スイス・EPFL大学生がNIMSに来訪
NIMS-KEKワークショップを開催
その他
採用情報
物質・材料研究機構の一般公開
表紙写真
●写真上：
リボルバー切り替え方式のアンジュレーターＸ線源
●写真左下：
蛍光板で観察したアンジュレーターからの直線偏光光（20mm×20mm）
●写真右下：
コンビナトリアル試料の蛍光Ｘ線イメージ（視野8mm角）赤色はマンガン濃度の高い部分を示す
NIMS NOW（ニムスナウ）
発行 独立行政法人 物質・材料研究機構
〒305-0047 茨城県つくば市千現1-2-1
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