独立行政法人 物質・材料研究機構
ナノマテリアル 研究所
ナノ電気計測 グループ
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§研究テーマ
ナノ電気計測グループは、興味深い特性が期待されるナノ構造の物性(特に電気特性)を直接計測する手法の開発と応用を通じて、ナノサイエンス、ナノエレクトロニクスの基礎となるナノスケール物質・材料科学の発展に寄与していきます。例えば、個々のナノ構造の電気特性を直接計測するために、独立に駆動される2本、3本、4本の探針を持つ「多探針走査トンネル顕微鏡(MP-STM)」を開発しました。既にそれらの装置を用いて、ErSi2ナノワイヤーやフラーレンナノフィルムのナノスケール電気抵抗計測に成功しています。さらに、ナノ構造の持つ多様な機能を評価解明するための新手法開発を進めています。また、計測対象となる様々なナノ構造を構築する材料技術の開発も、その物性計測・機能評価と同時に推進し、開発した手法やナノ構造の有効性を示しています。
•多探針走査プローブ顕微鏡の開発と応用
(左)超高真空多探針走査トンネル顕微鏡、(右)ErSi2ナノワイヤーのMP-STM像と2探針STM計測の概念図
•バイオナノテクノロジック研究
現在作成中
•一次元ナノ構造の物性研究
(左)インジウム原子細線アレイの電気伝導度の温度依存性。(右)導電性金属酸化物ナノロッド
•カーボンナノ構造に関する研究
(左)STM探針により局所重合したフラーレンC60の一次元ナノ構造、(右)化学結合したC60ダイマーの構造と結合軌道の電子状態密度分布