事業内容

先端計測技術上級コース(構造解析)《中長期・分散型》

 目的、対象者:
NIMSが誇る世界最高水準の先端計測機器を活用し、最先端ナノ計測技術の取得を目的とする上級者向けのコースであり、4種類のサブコースを開設いたします。
 
募集人数:
各サブコース 1名

 
期間:
開催日は講師の都合と受講生の希望を勘案し決定いたします。
 
会場:
物質・材料研究機構
 (A)~(C):千現地区
 (D):桜地区

内容:
(A)  粉末回折法サブコース(のべ10日間程度、応相談)
    1. リートベルト法
    2. パターン分解と未知構造解析
    3. 最大エントロピー法(MEM)による電子・散乱長密度分布の決定

(B)  小角散乱法サブコース(のべ10日間程度、応相談)
    1. 小角 / 極小角X線散乱用試料調整法の習得
    2. 小角 / 極小角X線散乱その場計測法の習得
    3. 小角 / 極小角X線散乱データ解析法の習得

(C)  薄膜・多層膜解析法サブコース(のべ10日間程度、応相談)
    1. X線反射率による膜厚の決定
    2. X線反射率によるラフネスの評価
    3. X線反射率による薄膜の密度評価
    4. X線反射率による多層膜の膜構造解析

(D)  核磁気共鳴法サブコース(のべ10日間程度、応相談)
    1. 固体NMR計測法の習得
    2. NMR2次元解析法の習得

※  サブコース(B) ~ (D)の中から、ご希望のコースを1つお選びください。
※  今年度、サブコース(A)の実施は都合により開催いたしません。ご了承ください。

受講料:
学生 : 420.000円(予定)
一般 : 840.000円(予定)
 
連絡先:
物質・材料研究機構 CUPAL事務局
(nanotech_cupal=nims.go.jp ([ = ] を [ @ ] にしてください)、電話:029-851-3354 ext. 3855)
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