事業内容

先端計測技術上級コース(表面解析) 《中長期・分散型》

目的、対象者:

NIMSが誇る世界最高水準の先端計測機器を活用し、最先端ナノ計測技術のエッセンスを習得する上級者向けコースであり、表面解析に関連した (A)超高真空極低温SPM法(B)光電子顕微鏡(PEEM/準安定原子電子放射顕微鏡(MEEM(C)ヘリウムイオン顕微鏡の3種類のサブコースに分かれて実習を行います。

  
募集人数:
各コース 通年 1-2 名程度

 
期間:
第 1 期 平成 30 年 4 月 2 日(月)~  9 月 28 日(金)
第 2 期 平成 30 年10月 1 日(月)~  平成 31 年 3 月 29 日(金)

※受講希望の期間をお選び下さい(第1希望~第2希望まで記載可)。
 各コースによって募集期間が異なりますので、以下ご確認下さい。
 
 
会場:
物質・材料研究機構 千現地区
 
 
内容:
(A)走査型プローブ顕微鏡による原子分解能観察
超高真空STM/AFMによる原子分解能観察の先端技術に関する実習を行う。受講者の希望に合わせて以下のような技術の習得が可能。①金属超薄膜創製法、②有機分子蒸着法、③清浄表面作製法(スパッタリング、アニーリング)、④断面SPM観察法、⑤機能性探針作製法(スピン偏極探針の作製)、⑤光照射SPM計測法、⑥自己検知型プローブを用いた非接触原子間力顕微鏡計測。試料の持ち込みも可(要相談)

(B)光電子顕微鏡(PEEM)/準安定原子電子放射顕微鏡(MEEM)による表面観察
放出電子顕微鏡による表面観察の先端技術に関する実習を行う。2種の観察モードを用意。紫外線照射(Hg)による光電子像から触媒表面など結晶面方位、表面析出、原子・分子吸着由来の仕事関数の分布を検知。He*原子線照射による放出電子像から2次元物質や原子像レベル蒸着あるいは焼鈍による析出など最外原子層の情報を抽出。試料の持ち込みも可(要相談)。

(C)ヘリウムイオン顕微鏡によるナノスケール表面観察と加工
走査電子顕微鏡(SEM)に代わる新しい顕微鏡技術として注目されている走査型ヘリウムイオン顕微鏡(日本に4台のみ)を用いたナノスケール表面観察及び加工の先端技術に関する実習を行う。受講者の希望に合わせて、ヘリウムイオン顕微鏡に特有のビーム源の調整方法および、以下のような技術の習得が可能。①超高分解能表面観察、②電子中和銃をつかった生体試料などの高分解能表面観察、③ナノスケール加工。試料の持ち込みも可(要相談)
  
受講料:
 CUPAL育成対象者 無料 (アライアンス内の博士課程(後期)学生および若手研究者を含む、旅費の補助を予定)
 一般 学生 50,000円(予定)
 大学等研究者 100,000円(予定)
 その他 200,000円(予定)
 
 
連絡先:
物質・材料研究機構 CUPAL事務局
 (nanotech_cupal=nims.go.jp ([ = ] を [ @ ] にしてください)、電話:029-851-3354 ext. 3855)
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