事業内容

先端計測技術上級コース(表面解析) 《中長期・分散型》

目的、対象者:

NIMSが誇る世界最高水準の先端計測機器を活用し、最先端ナノ計測技術のエッセンスを習得する上級者向けコースであり、試料作製から分析までの表面解析に関連した (A)超高真空極低温SPM法(B)表面解析PEEM/MEEM法(C)ヘリウムイオン顕微鏡の3種類のサブコースを開設いたします。

  
募集人数:
各サブコース  通年2名程度

 
期間:
第 1 期 2019 年 4 月 1 日 (月) ~ 2019 年 9 月 27 日(金)
第 2 期 2019 年10月 1 日 (火) ~ 2020 年 3 月 28 日 (土)

※受講希望の期間をお選び下さい(第1希望~第2希望まで記載可)。

 
会場:
物質・材料研究機構 千現地区
 
 
内容:
(A) UHV-SPMサブコース(のべ5日間程度、応相談)
    1. 超薄膜創製法や分子蒸着法の習得
    2. UHV-LT-STMの習得
    2. UHV-LT-AFMの習得

(B) PEEM/MEEMサブコース(のべ5日間程度、応相談)
    1. PEEM観察法の習得
    2. MEEM観察法の習得
    3. 先進材料への応用

(C) Heイオン顕微鏡サブコース(のべ5日間程度、応相談)
    1. 高分解能イメージング(SEI & BSI)計測の習得
    2. ナノリソグラフィーとナノガスデポジション創製法の習得
    3. 先進材料への応用 

  
受講料:
学生 : 250.000円(予定)
一般 : 500.000円(予定)

 
 
連絡先:
物質・材料研究機構 CUPAL事務局
 (nanotech_cupal=nims.go.jp ([ = ] を [ @ ] にしてください)、電話:029-851-3354 ext. 3855)
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