事業内容

先端計測技術入門コース(表面解析)

   

目的、対象者:

NIMS が誇る世界最水準の先端計測機器を活用し最先端ナノ計測技術のエッセンスを習得する入門コースです。表面解析に関連した基礎的な知技術の習得を目的とし、4回のコースを開設致します。本コースは、(A) 走査型プローブ顕微鏡による原子分解能観察入門、(B) 走査型オージェ顕微鏡による表面元素マッピング入門、(C) ヘリウムイオン顕微鏡によるナノスケール表面観察と加工、3つのサブコースから構成されています。各回ともに、受講者は希望のサブコースを選択し、基礎的な講義と初歩的な実習を2日間受講します。



募集人数:
サブコースA、B各回 3名程度。サブコースCは各回2名。


期間:
第 1 回 2019 年 5 月 22 日(水)~ 5 月 23日(木)
第 2 回 2019 年 8 月 7 日(水)~ 8 月 8 日 (木)
第 3 回 2019 年 11 月 6 日(水)~ 11 月 7 日(木)
第 4 回 2020 年 2 月 19 日(水)~ 2 月 20 日(木)

※受講希望の期間を上記の中から第3希望までお選び下さい。


会場:
物質・材料研究機構 千現地区


内容: 
・Aコース  超高真空走査型トンネル顕微鏡の初歩(実習)
    1日目  STM探針の作成と清浄化、試料の調製と清浄化
    2日目  Si(111)再構成表面の原子分解能観察とトンネル分光解析

・Bコース  表面分析の初歩(実習)
    1日目  電子分光器(CMA)の操作と調整、オージェ電子分光
    2日目  表面吸着種の分析、スパッタリングによる深さ方向分析

・Cコース  走査型ヘリウムイオン顕微鏡の初歩(実習)
    1日目  イオン源先端の調製と評価、試料の準備、二次電子像とイオン像、分解能評価、絶縁体の観察
    2日目  ナノリソグラフィーとガスデポジション


 

受講料:
学生 : 100,000円
一般 : 200.000円
 
 
連絡先:
物質・材料研究機構 CUPAL事務局
(nanotech_cupal=nims.go.jp ([ = ] を [ @ ] にしてください)、電話:029-851-3354 ext. 3855)
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