終了いたしました。たくさんのご来場ありがとうございました。
開催趣旨
- 近年、収差補正技術をはじめとする様々な革新的技術の開発が著しい透過型電子顕微鏡の研究分野において、新しい結像法と新しい分光法の研究に取り組んでいる国内の研究者による講演と議論・交流の機会を持つことを目的に、本シンポジウムを開催することになりました。
内容：招待講演および一般ポスター発表
開催日程と開催場所
- 日時：2010年2月5日（金）１３：００～１８：００ 交流会１８：３０～２０：００
場所：独立行政法人物質・材料研究機構千現地区研究本館管理棟１階第１会議室（茨城県つくば市千現１－２－１）
参加料
-
無料
但し、交流会は３０００円
参加申し込み・お問い合わせ
- ＜申込方法＞下記のいずれかの方法でお申し込みください。
▼参加申し込みフォーム →コチラ
▼e-mail：ancc(アットマーク)nims.go.jp
（氏名、所属、TEL、e-mailを明記してください）
---お問い合わせ先---
（独）物質・材料研究機構ナノ計測センター事務局
TEL 029-859-2000（内線6546） Fax 029-859-2801
e-mail：ancc(アットマーク)nims.go.jp
プログラム
| 12:15- | 受付開始 |
| 招待講演 | |
| 13:00-13:30 | 「収差補正STEMを用いた環状明視野法による軽元素サイトの直接観察」 奥西栄治(日本電子) |
| 13:30-14:00 | 「収差補正TEM/STEMによるナノカーボン物質の構造評価」 佐藤雄太、末永和知（産業技術総合研究所） |
| 14:00-14:30 | 「収差補正STEMによる界面研究の新展開」 柴田直哉、Scott D.Findlay、溝口照康、山本剛久、幾原雄一（東京大学） |
| 14:30-15:00 | 休憩（コーヒータイム）およびポスターセッションⅠ |
| 15:00-15:30 | 「シリコン結晶中のヒ素ドーパント原子検出」 大島義文(東工大) |
| 15:30-16:00 | 「電子線トモグラフィ法による結晶性材料の解析」 金子賢治(九大) |
| 16:00-16:20 | 「共焦点STEMの開発」 竹口雅樹(物質・材料研究機構) |
| 16:20-16:50 | 休憩（コーヒータイム）およびポスターセッション |
| 16:50-17:20 | 「TEM内外場制御技術を駆使したマンガン酸化物のナノ構造解析」 村上恭和(東北大) |
| 17:20-17:40 | 「TEM用マイクロカロリメータ型EDS ―特徴と応用例―」 原徹(物質・材料研究機構) |
| 17:40-18:00 | 「走査透過電子顕微鏡による極微小領域の結晶構造解析」 木本浩司(物質・材料研究機構) |