−先進的な物質・材料研究のニーズに応えるナノ・先端計測−

　物質・材料研究機構（NIMS）ナノテクノロジー基盤領域に属するナノ計測センター（Advanced Nano Characterization Center, ANCC）は、第二期中期計画（平成18年度〜22年度）における20プロジェクトの一つを担当し、物質・材料の研究と開発に資するナノ・先端計測技術の高度化を目指しております。表面〜表層から固体内部に至るナノスケール計測、非晶質にも対応可能な原子配置精密計測技術、超高速現象に対応可能な時間分解計測技術など、様々な極限的な計測基盤技術を開発し、多様な先端物質・材料の研究開発に応用しています。手法としては、プローブ顕微鏡、電子顕微鏡、表面電子分光、フェムト秒時間分解計測、強磁場核磁気共鳴（NMR）などの材料計測手法を基盤としています。
　この度、第５回目となる公開の研究成果発表会を開催いたしますので、関係各位の皆様にご案内申し上げます。本年度の研究成果発表会では、「先進的な物質・材料研究のニーズに応えるナノ・先端計測」を主題としました。ナノテクノロジーを活用した材料研究を推進する立場から、先進的な材料研究開発の多様にニーズに対応し、マテリアルイノベーションを促進する基礎から応用までの研究成果を報告したいと思います。当センターの研究者による最近の成果を口頭発表もしくはポスター講演にて発表しますとともに、我が国の先端計測分野における第一人者による講演を企画しております。ナノ・先端計測に携わる研究者の交流の場として、連携と協同の関係を築きたいと考えております。皆様、多数のご参加をお願い申し上げます。

日時：２０１０年１２月７日（火）９：３０〜１７：１５
場所：（独）物質・材料研究機構千現地区　研究本館第一会議室
交通アクセス
定員：７０名
懇親会：１７：３０〜１９：００

●事前登録は締切りました。　当日受付を会場にて行います。

●口頭発表アブストラクト　→　こちら
●ポスタープログラム　→　こちら