■センター長挨拶

　ナノテクノロジーは21世紀におけるサステイナブルな社会を実現するためのキーテクノロジーの一つと位置付けられております。特に、ナノスケールでの計測・創製・予測の技術はナノテクノロジーの効率的な推進における重要基盤技術です。このような観点から、物質・材料研究機構ナノ計測センターは、第2期中期目標期間（平成18〜22年度）の開始に伴って、物質・材料に係わる先端計測評価技術の開発と応用に従事する研究グループを基にして平成18年4月1日に発足しました。
　当センターは、先端プローブ顕微鏡、先端表面化学分析、超高速現象計測、先端電子顕微鏡、強磁場NMRの５つの研究グループから構成されております。高度なナノ計測技術は革新的なナノテク・材料研究開発の基盤技術として重要な役割を担っており、今後、ナノテクノロジーを用いたナノ物質・材料の実用化が加速されるに伴い、ナノレベルでの高精度な計測・評価技術の重要性がますます高まるものと予測されます。当センターでは、ナノマテリアルの研究開発に資する高度かつ高精度なナノ計測基盤技術を提供していきたいと思います。

Greetings
　It is well known that nanotechnology is one of the key technologies for the sustainable development in the 21st century. Especially nanocharacterization and nanofabrication technologies play important roles in effective development of nanotechnology. In this context, Advanced Nano Characterization Center (ANCC) of NIMS has been established on April 1st, 2006, as one of the research centers of NIMS Key Nanotechnologies Field. ANCC consists of five research groups for the advanced characterization of nano-materials; 1) Advanced Probe Microscopy Group,2) Advanced Surface Chemical Analysis Group, 3) Ultrafast Spectroscopy Group, 4) Advanced Electron Microscopy Group, and 5) High Field NMR Group.
　As the industrial realization of nano-products becomes accelerated, the highly precise characterization technology of nano-products will be more and more important. ANCC would like to offer such advanced and precise nanocharacterization technologies for the researches and developments of innovative nanomaterials.

■センター概要

　ナノ計測センターでは、NIMSにおいて開発を進めてきたコアコンピタンス技術をさらに高度化することにより、表面原子構造から固体内部のナノ構造にいたるナノ物質・材料の高度な計測評価技術の確立を目指しています。
　特に、新物質・新材料の有するナノスケールの構造と新規機能を明らかにするために、極限場環境における原子分解能走査型プローブ顕微鏡（SPM）計測技術、超高分解能透過型電子顕微鏡（TEM）計測技術、世界最高磁場による高分解能固体核磁気共鳴（NMR）分光計測技術、超高速時間分解分光計測技術、広域表層３次元ナノ解析技術、等の最先端のナノ計測技術の開発を推進しています。
　このような技術開発に基づいて、広範囲の新物質・新材料に対して、高精度・高分解能、かつ信頼性の高いナノメータースケールの計測データを提供することが当センターの重要なミッションです。

　Advanced Nano Characterization Center (ANCC) aims at the development of state-of-the-art technologies for in-depth characterization of nano-materials. Especially, to clarify the nanometer-scale structures and novel functionalities, we are currently developing various advanced nanocharacterization technologies such as atomic-resolution SPM under extreme fields, ultra high-resolution TEM, high-field solid-state NMR, ultrafast time-resolved spectroscopy, near-surface 3D nano-analysis technology, and so on.

表面・表層・固体内部にいたる世界最高水準の高度ナノ計測基盤技術の開発．
Development of state-of-the-art technologies for in-depth characterization of nano-materials.