令和3年度文部科学省ナノテクノロジープラットフォーム事業


産総研微細構造解析プラットフォーム 令和3年度第2回地域セミナー

産総研 四国センター 新技術セミナー in 四国 「先端分析技術セミナー」


分析機器は機能性材料の開発や食品・医薬品などを含む種々の化学物質の試験・評価に欠かせません。一方機器自体の研究開発も日々進められ、新たな機器や技術が続々と登場しています。さらに分析計測技術は多くの基盤技術に支えられ、その進歩を実現しています。本セミナーでは、産総研の研究成果である分析機器・技術とそれらの先端ナノ計測施設(ANCF)での公開利用方法の紹介および分析計測技術を先導する基盤技術の卓越した研究成果のご講演を通して、最先端の分析機器のこれからを皆様とともに展望したいと思います。

ANCFは文部科学省ナノテクノロジープラットフォーム事業の微細構造解析プラットフォーム及び今年度より同省マテリアル先端リサーチインフラ事業(ARIM)に参画しています。

【主催】
国立研究開発法人 産業技術総合研究所  四国センター
国立研究開発法人 産業技術総合研究所 先端ナノ計測施設(ANCF)
with 産総研微 細構造解析プラットフォーム and 産総研マテリアル先端リサーチインフラ(ARIM)

【共催】
文部科学省ナノテクノロジープラットフォーム
    
【日時】
令和3年12月21日(火) 13時00分~17時45分

【開催方法】
Teamsを用いてオンライン形式で開催します。
参加方法はお申込みいただいた方にご連絡いたします。

【参加費】
無料 事前受付締切:12/14(火)

【参加申込】
ANCF事務局 ancf-info-ml [at] aist.go.jp にメールでお申し込みください。
下記のURL(forms)からもお申込みいただけます。
https://forms.office.com/r/DvdSiHYR1T
 ・お名前 :
 ・所属(社名、組織名等): 
【事前にANCFパンフレット送付をご希望の方はご住所も記載してください】
 ・Eメールアドレス(WEB会議に招待するメールアドレスになります)
  ※セミナー後の個別相談をご希望の方は、希望装置と相談内容もご記載ください。

プログラム
13:00 -13:15
 開会挨拶・趣旨説明  中村 健
I. 先端ナノ計測施設(ANCF)の紹介 13:15 - 13:35
 陽電子プローブマイクロアナライザー装置(PPMA) 満汐 孝治
13:35 - 13:55
 超伝導蛍光収量X線吸収微細構造分析装置(SC-XAFS) 志岐 成友・藤井 剛
13: 55 - 14:15
 超伝導蛍光X線検出器付走査型電子顕微鏡(SC-SEM) 藤井 剛
14:15- 14:35
 極端紫外光光電子分光装置(EUPS) 石塚 知明

14:35 - 14:45 ~休 憩~

II. 特別講演 ~分析計測の基盤としての材料とものづくり技術~
14:45 - 15:15
 超低ガス放出チタン材料による極高真空実現への挑戦 栗巣 普揮(山口大)
15:15 - 15:45
 多層薄膜構造の作製とその分析計測への応用 竹中 久貴((株)トヤマ)

14:45 - 15:55 ~休 憩~

III. 先端ナノ計測施設(ANCF)(つくば)の紹介(2)
15:55 - 16:15
 リアル表面プローブ顕微鏡(RSPM) 井藤 浩志
16:15 - 16:35
 可視-近赤外過渡吸収分光装置(VITA) 細貝 拓也
16:35 - 16:55
 固体NMR装置 (SSNMR) 服部 峰之
16:55 - 17:05
 利用方法説明  ANCF事務局 松林 信行
17: 05 - 17:10
 閉会挨拶   原市 聡
17: 15 - 17:45
 ANCF個別相談会

【お問い合わせ】
国立研究開発法人 産業技術総合研究所 分析計測標準研究部門内 ANCF事務局
〒305-8568 茨城県つくば市梅園1-1-1 中央第二事業所
Email:ancf-info-ml [at] @aist.go.jp

【参考ファイル】
pdf