※開催延期のお知らせ
この度、新型コロナウイルス感染症が拡大している状況を受け、参加者および関係者の健康・安全面を第一に考慮した結果、本地域セミナーの開催が延期になりました。
急なご案内となりご迷惑をおかけしますが、何卒ご理解・ご協力賜りますようお願い申し上げます。

令和2年度文部科学省ナノテクノロジープラットフォーム事業


物質・材料研究機構 微細構造解析プラットフォーム 地域セミナー


「XeプラズマFIBを用いた試料作製とFIB-SEMを軸とした他の分析法との融合」(4/6)開催のお知らせ


【日時】
2020年4月6日(月)
13:30~14:40

【主催】
物質・材料研究機構 微細構造解析プラットフォーム

【場所】
物質・材料研究機構 千現地区 第2会議室

【概要】
Xe プラズマFIB-SEM は、最大1mm までの高速加工だけでなく、その不活性な性質によりGa フリーの試料作製が可能で、年々ニーズが高まっています。またToF-SIMS やラマン顕微鏡のFIB-SEM への搭載による 応用も展開されています。

【講演者】
株式会社東陽テクニカ,
ライフサイエンス&マテリアルズ 鈴木直久氏

【申込方法】
こちらからお申し込み下さい。
(締切 4月2日(木)正午まで)

【お問い合わせ】
NIMS微細構造解析プラットフォーム事務局
Email: nmcp@nims.go.jp  
Tel: 029-859-2310 https://www.nims.go.jp/nmcp/

【参考ファイル】
pdf