NIMS微細構造解析プラットフォーム 地域セミナー


「電子線損傷を受けやすい材料のTEM/STEM用試料作製法と観察方法」


(12/13)開催のお知らせ





【日時】2019年12月13日 (金) 14:00-17:00

【場所】 物質・材料研究機構 並木地区 WPI-MANA棟1階 オーディトリウム 

【主催】NIMS微細構造解析プラットフォーム

【参加費】無料 (ただし、意見交換会は会費1,000円)

【事前登録】
当日参加も可能ですが、準備の都合で、下記Webサイトから事前登録にご協力下さい。 https://form.run/@RS191213

【プログラム】
(敬称略)
14:00-14:10  田中 美代子(NIMS プラットフォーム長)
             NIMS微細構造解析プラットフォームの紹介
14:10-14:40  広瀬 治子(帝人)
              ソフトマテリアルの電顕試料作製方法と観察方法
14:40-15:10  吉田 要 (JFCC)
              ソフトマテリアルの低損傷高分解能観察
15:10-15:40  宮田 智衆(東北大)
              イオン液体および高分子鎖の原子分解能観察
15:40-16:00  (休憩)
16:00-16:30  Alexander Bright(日本FEI)
              Cryo FIB、iDPC-STEMによるビームダメージを受けやすい材料のサンプル作製法とS/TEM観察法
16:30-17:00  伊井 由花(日立ハイテク)
        FIB関連技術を用いた低損傷試料作製法とSTEM/TEM観察

17:15-18:30  意見交換会 @並木地区食堂

 

【問合せ先】
物質・材料研究機構 NIMS微細構造解析プラットフォーム事務局
E-mail: nmcp[at]nims.go.jp

【参考URL】 https://www.nims.go.jp/nmcp/event20191213.html

【参考ファイル】
PDF