日本顕微鏡学会第75回学術講演会 シンポジウムS-10


「最先端計測共用ネットワークにおける利用者ニーズの


パラダイムシフト」(6/17)開催のお知らせ




【主催】微細構造解析プラットフォーム

【日時】2019年6月17日(月)9時00分~13時45分

【場所】名古屋国際会議場G会場(1号館4Fレセプションホール西)

【参加申込方法】
 参加には日本顕微鏡学会第75回学術講演会への参加登録(参加費あり)が必要です。
 http://jsm75-2019.com/

【プログラム】

09:00-09:15
 
「ガラスにおける相分離構造の高温その場観察」
中澤 克昭、安間 伸一2、溝口 照康 (東京大学、2AGC株式会社)
09:15-09:30
 
「EELSによる物質の誘電関数測定に向けた検討」
坂口 紀史、國貞 雄治 (北海道大学)
09:30-09:45
 
「歯科材料応用を目ざした自己酸化物被膜Ti合金の界面構造観察」
三浦 永理、原田 宏貴、内田 恭兵 (兵庫県立大学)
09:45-10:00
 
「放射光その場X線回折を用いたIoT関連半導体材料の構造解析」
佐々木 拓生、高橋 正光 (量子科学技術研究開発機構)
10:00‐10:15
 
 
 
「AlGaN/GaN HEMTのイオン照射効果の観察」
佐々木 肇、日坂 隆行、門岩 薫、石村 栄太郎、小野田 忍2
大島 武2、田口 栄次3、保田 英洋3、森 博太郎3 
1三菱電機株式会社、2量子科学技術研究開発機構、3大阪大学)
10:15-10:30 休憩
10:30-10:45
 
 
「超伝導蛍光X線検出器付走査型電子顕微鏡(SC-SEM)によるSEM-EDXの新しいパラダイム」
浮辺 雅宏1 (1産業技術総合研究所)
10:45-11:00
 
 
「透過型電子顕微鏡による液晶性を示す棒状ナノ粒子の構造解析」
梶山 智司1、中山 真成1、熊本 明仁1、西村 達也1、幾原 雄一1
山登 正文2、加藤 隆史1 (1東京大学、2首都大学東京)
11:00-11:15
 
 
「次世代半導体用の配線接合材料の構造解析」
関根 重信1、荒井 重勇2、中尾 知代2、榎本 早希子2、中野 美恵子2
山本 剛久2 (1有限会社ナプラ、2名古屋大学)
11:15-11:30
 
「緑色光合成細菌の光捕集アンテナ系を模倣したクロロフィル集積体のナノ構造」
庄司 淳、民秋 均 (立命館大学)
11:30-13:00 休憩
13:00-13:15
 
「軟X線光電子顕微鏡による微粒子のナノスケール化学状態分析」
吉越 章隆 (日本原子力研究開発機構)
13:15-13:30
 
「シャペロニン複合体を利用した金属ナノ粒子の平面上への並置」
依田 ひろみ、小池 あゆみ (神奈川工科大学)
13:30-13:45
 
「新たな触媒機能開発を目指した先端電子顕微鏡状態解析」
松村 晶、鳥山 誉亮、山本 知一 (九州大学)

【お問い合わせ】
 国立研究開発法人 物質・材料研究機構
 微細構造解析プラットフォーム推進室
 〒305-0047 茨城県つくば市千現1-2-1
 TEL:029-859-2139
 Mail:acnp(at)nims.go.jp

【参考ファイル】

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