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| 本グループでは、２００１年度ＰＦ研究会「Ｘ線中性子反射率/散乱法による薄膜・多層膜の構造解析」を母体として、２００２年３月１８日に結成されました。Ｘ線反射率法の一般的な有用性はよく知られており、わが国においても先駆的な研究がなされていますが、諸外国と比較すると、研究の量的な広がりのレベルに大きな差があります。欧米諸国では、表面Ｘ線中性子散乱（SXNS,
surface X-ray and neutron scattering）国際会議を継続的に開催しているコミュニティが存在しますが、残念ながら、わが国では未成熟です。その背景には、実験環境、端的には、放射光施設における常設のＸ線反射率法ビームライン・ステーション・実験装置の数と完成レベルの差が大きいことも考慮しなくてはいけないのではないでしょうか。標記研究会では、そのような問題意識が語られました。本グループは、Ｘ線反射率法と薄膜・多層膜というキーワードで語られる多彩なサイエンスとテクノロジーに関わる国内の研究者有志を集め、将来、Ｘ線反射率法による薄膜・多層膜の構造解析を目的とする実験ステーション等の整備に関する新規提案を行っていく可能性も含め、将来に向けて行うべき共同の行動プログラム等を協議するために、結成されました。
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（参考） ２００１年度後期 ＰＦ研究会「Ｘ線中性子反射率/散乱法による薄膜・多層膜の構造解析」 プログラム |
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（参考） ２００２秋の応用物理学会 シンポジウム「Ｘ線中性子線反射率/散乱法による薄膜・多層膜の構造研究の新展開」（新潟大学） プログラム アブストラクト ユーザーグループ会合 |