X線反射率法ってなに?
反射率法のソフトウエア
グループ結成の趣旨
グループのメンバー          PF懇談会の会員になるには?
活動状況
リンク 集と情報源
2005年11月、(社)応用物理学会の新領域グループとして、「埋もれた」界面のX線・中性子解析グループ(以下、埋もれた界面新領域グループ)が結成されました。これまでPF懇談会X線反射率ユーザーグループで行っていた活動のうち、PFにおける研究やビームライン等の整備に関する内容を除き、新領域グループに舞台を移すことになりました。ワークショップ等、学術的なカラーの強い活動は、今後、新領域グループが引き継ぎます。

埋もれた界面新領域グループのホームページは http://www.nims.go.jp/xray/ref/ にあります。

代表者    桜井健次 物質・材料研究機構 材料研究所 高輝度光解析グループ ディレクター
                         筑波大学大学院 数理物質科学研究科 物質・材料工学専攻 教授
                   〒305-0047 茨城県つくば市千現 1-2-1
            TEL: 0298-59-2821 FAX: 0298-59-2801
            e-mail: sakurai@yuhgiri.nims.go.jp
所内担当者 平野馨一  高エネルギー加速器研究機構 放射光科学研究施設
         〒305-0047 茨城県つくば市大穂 1-1
            TEL: 029-864-5649 PHS 4572 FAX: 029-864-2801
            e-mail: keiichi.hirano@kek.jp