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      <title>Ｘ線分析研究懇談会</title>
      <link>http://www.nims.go.jp/xray/xbun/</link>
      <description></description>
      <language>ja</language>
      <copyright>Copyright 2009</copyright>
      <lastBuildDate>Wed, 26 Aug 2009 12:14:40 +0900</lastBuildDate>
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      <docs>http://blogs.law.harvard.edu/tech/rss</docs> 

            <item>
         <title>第45回X線分析討論会</title>
         <description><![CDATA[第45回X線分析討論会の<a href="http://www.nims.go.jp/xray/xbun/xbun45_program.pdf">プログラム</a>が決まりました。

参加申し込み　<a href="http://www.nims.go.jp/xray/xbun/xbun45_sanka.doc">Wordファイル</a>または<a href="http://www.nims.go.jp/xray/xbun/xbun45_sanka.pdf">PDFファイル</a>にご記入のうえ、E-mailにて　<a href="mailto:hm_tanaka@jsac.or.jp">hm_tanaka@jsac.or.jp</a>　（CC.にて <a href="mailto:tsujilabo@a-chem.eng.osaka-cu.ac.jp">tsujilabo@a-chem.eng.osaka-cu.ac.jp</a>へも同時に）ご送信、および、登録料を下記までご送金ください(予約申し込みは10月23日締切)。）<FONT COLOR=RED>事前参加申し込みは締め切りました。
当日参加の方は会場にて参加費（６０００円）を申し受けます</FONT>
登録料：一般予約4,500円，一般当日6,000円，学生2,000円，ミキサー1,000円


展示申し込み　　<a href="http://www.nims.go.jp/xray/xbun/xbun45_tenji.doc">Wordファイル</a>>にご記入のうえ、E-mailにて　<a href="mailto:hm_tanaka@jsac.or.jp">hm_tanaka@jsac.or.jp</a>　（CC.にて <a href="mailto:tsujilabo@a-chem.eng.osaka-cu.ac.jp">tsujilabo@a-chem.eng.osaka-cu.ac.jp</a>へも同時に）お申し込みください(10月28日締切)


ご講演なさる方　　<a href="http://www.nims.go.jp/xray/xbun/xbun45_abstract.doc">アブストラクト</a>のご提出をお忘れなく（9月30日締切）<FONT COLOR=RED>締め切りました</FONT>

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                  <category domain="http://www.sixapart.com/ns/types#category">X線分析討論会</category>
        
        
         <pubDate>Wed, 26 Aug 2009 12:14:40 +0900</pubDate>
      </item>
            <item>
         <title>９月例会</title>
         <description><![CDATA[Ｘ線分析研究懇談会例会

主催　日本分析化学会X線分析研究懇談会

期日　平成21年9月26日（土）14：30～15：30

会場　北海道大学高等教育機能開発総合センター〔札幌市北区北17条西8丁目，
交通：JR札幌駅より地下鉄南北線で「北18条」駅下車，徒歩5分，またはJR札幌
駅北口から徒歩20分〕北海道大学ホームページ（交通案内）
<a href="http://www.hokudai.ac.jp/footer/ft_access.html">http://www.hokudai.ac.jp/footer/ft_access.html</a>

招待講演
１．X線を用いたセメント系材料解析の現状（北大院工）胡桃澤清文
２．偏光全反射蛍光XAFSによる表面化学種の三次元構造解析（北大触セ）朝倉清高

参加費　無料

問合先　〒770-8502 徳島市南常三島町1-1 徳島大学大学院ソシオ・アーツ・ア
ンド・サイエンス研究部　山本孝〔電話・FAX：088-656-7263，E-mail：
t-yamamo@ias.tokushima-u.ac.jp〕
]]></description>
         <link>http://www.nims.go.jp/xray/xbun/2009/08/post_6.html</link>
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                  <category domain="http://www.sixapart.com/ns/types#category">研究会・講習会</category>
        
        
         <pubDate>Mon, 17 Aug 2009 15:05:26 +0900</pubDate>
      </item>
            <item>
         <title>X線分析討論会の申し込みについて</title>
         <description><![CDATA[第45回X線分析討論会は11月5－6日に大阪市立大学にて開催予定です。
現在、一般口頭発表、ポスター発表を募集しております。詳しくは添付の募集案内（PDFファイル）をご参照ください。一般講演の申込期日は7月22日となっております。添付の申込用紙（ワードファイル）に必要事項をご記入のうえ、期日までに下記の２つのアドレスへ同時送信でご提出ください。

日本分析化学会　事務局　田中：　<a href="mailto:hm_tanaka@jsac.or.jp">hm_tanaka@jsac.or.jp</a>
討論会実行委員　辻（研究室アドレス）：　<a href="mailto:tsujilabo@a-chem.eng.osaka-cu.ac.jp">tsujilabo@a-chem.eng.osaka-cu.ac.jp</a>



なお、今年度のX線分析討論会では以下の4名の先生に依頼講演をお願いしております。

「X線吸収微細構造法による分子地球化学の発展」
高橋嘉夫 氏、 広島大学 大学院理学研究科

「陽電子消滅法を用いた材料解析　ー材料不良解析への応用ー」
 上殿明良 氏、筑波大学 大学院数理物質科学研究科

「電池関連材料のX線分析」
野中敬正 氏、（株）豊田中央研究所　分析・計測部　ナノ解析研究室

「複合材料分析の文化遺産研究への応用」
井手亜里 氏、京都大学 大学院工学研究科]]></description>
         <link>http://www.nims.go.jp/xray/xbun/2009/07/x_2.html</link>
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                  <category domain="http://www.sixapart.com/ns/types#category">X線分析討論会</category>
        
        
         <pubDate>Fri, 10 Jul 2009 17:05:06 +0900</pubDate>
      </item>
            <item>
         <title>講習会「粉末X線解析の実際」追加情報</title>
         <description>中井先生のご依頼により掲載いたします。

---------------------------------------------------------------------------------

■日本結晶学会講習会「粉末X線解析の実際」
Aコース「粉末X線回折法の実際」　追加情報
「粉末法の応用事例（7/13（月）16:30-17:30）」開催について

  粉末法の各種応用事例、解析法などについて以下の通り講師が掲示したポスターの前でご説明します。講師による説明の時間は13日16:30-17:30の１時間ですが、ポスターは３日間掲示する予定です。本講習会受講生は自由に興味あるポスターの所にいらしてください。各講師がご説明し、質問等にお答えいたします。

◇掲示予定のポスターのタイトルと講師
1)定量分析の手法と測定のコツ　　紺谷貴之（(株)リガク）
2)回折ピーク形状解析による微構造の評価　　井田　隆（名工大）
3)2次元検出器を用いた微小部回折とアプリケーション　　山田　尚　（ブルカーAXS(株)）
4)自動検索による同定と近似構造の検索方法　　西郷　真理（(株)リガク）
5)ポリキャピラリー型平行光学系を用いたＸ線回折法とその応用　　関口晴男（㈱島津）
6)水酸アパタイトの構造精密化　　藤森宏高（山口大 院 理工）
7)造岩鉱物の結晶化学への応用事例　　赤坂正秀（島根大・理工）
8)熱電変換特性を示す層状炭化物の結晶構造解析　　福田功一郎（名工大）
9)]粉末結晶構造解析の概要と実例　　植草秀裕（東工大院理工）
10)有機化合物の粉末結晶構造解析　　橋爪大輔（理研基幹研）
11) VESTAを利用した結晶構造および電子密度の可視化事例  門馬綱一(物材機構NIMS)

</description>
         <link>http://www.nims.go.jp/xray/xbun/2009/06/x_1.html</link>
         <guid>http://www.nims.go.jp/xray/xbun/2009/06/x_1.html</guid>
                  <category domain="http://www.sixapart.com/ns/types#category">研究会・講習会</category>
        
        
         <pubDate>Mon, 22 Jun 2009 23:31:13 +0900</pubDate>
      </item>
            <item>
         <title>第231回Ｘ線分析研究懇談会例会</title>
         <description><![CDATA[第231回Ｘ線分析研究懇談会例会

主催　日本分析化学会Ｘ線分析研究懇談会
協賛　京都医療科学大学、同大学地域連携委員会

期日　平成21年10月3日（土）13：10～15：30
会場　京都医療科学大学本館5F多目的ホール
〒622-0041京都府南丹市園部町小山東町今北1-3　電話：0771-63-0066
交通　JR山陰本線園部駅下車徒歩5分（JR京都駅乗り換え約55分）
（京都駅12:06発－園部駅12:51着の快速が便利です。）
　　　　<a href="http://www.kyoto-msc.jp/index.php">http://www.kyoto-msc.jp/index.php</a>をご参照下さい。

主題 「大気浄化技術：電池と触媒へのＸ線応用」
演題　1. リチウムイオン電池のXAFS解析-より高性能な電池を目指して-
（㈱豊田中央研究所）野中敬正
2. 環境にやさしい高性能三元触媒の実用化　　　  （㈱豊田中央研究所）長井康貴
3. 自動車排ガス浄化触媒の開発　　　　　　　　　　　　(㈱キャタラー)木村希夫

参加費　無料

申込先　京都医療科学大学  医療科学部　放射線技術学科岡本篤彦(okamoto@kyoto-msc.jp)　　　　電話（代表）：0771-63-0066]]></description>
         <link>http://www.nims.go.jp/xray/xbun/2009/06/231.html</link>
         <guid>http://www.nims.go.jp/xray/xbun/2009/06/231.html</guid>
                  <category domain="http://www.sixapart.com/ns/types#category">研究会・講習会</category>
        
        
         <pubDate>Fri, 19 Jun 2009 20:31:42 +0900</pubDate>
      </item>
            <item>
         <title>SPring-8安全安心のための分析評価研究会（第１回)</title>
         <description><![CDATA[中井先生のご依頼により、研究会の案内を掲載します。

----------------------------------------------------------------------------------
SPring-8安全安心のための分析評価研究会（第１回)

SPring-8利用推進協議会　研究開発委員会

私たちは、日々の暮らし中で、国内産や外国産の農産物を食品として摂取していますが、一方で種々の食品偽装が明らかとなり、また食品への農薬類の混入事件など、社会を不安にさせる事件が発生しています。今回の研究会では、私たちの生活に密着した、主として食品類に関する安全安心のための分析評価について、最新の成果や話題紹介を企画いたしました。また、安全安心のための分析評価のSPring-8の利用についても紹介します。食品の産地推定に興味のある方を初め、これから蛍光X線分析や放射光を使ってみたい方など、多数の方々のご来聴を歓迎いたします。

                             記


主　題：　　　　食品類の安全安心のための分析評価
主　催：　　　　SPring-8利用推進協議会　研究開発委員会
共　催：　　　　東京理科大学グリーン光科学技術研究センター
               （財）高輝度光科学研究センター(JASRI)
協　賛：　　　　日本分析化学会・表示・起源分析技術研究懇談会
                日本分析化学会・X線分析研究懇談会
                日本化学会
　　　　　　　　SPring-8利用者懇談会研究会環境科学研究会
                            PＦ懇談会マイクロビームX線分析応用UG
日　時： 	　　   2009年７月７日（火）　　
                13:00～17:45（研究会）　
                17:50～19:00（技術交流会）
会　場：　　　　東京理科大学　１号館　17階　
                  研究会：記念講堂　　
                  技術交流会：大会議室
　　　　　　　　（アクセス）　<a href="http://www.tus.ac.jp/info/access/kagcamp.html">http://www.tus.ac.jp/info/access/kagcamp.html</a>]]></description>
         <link>http://www.nims.go.jp/xray/xbun/2009/06/spring8.html</link>
         <guid>http://www.nims.go.jp/xray/xbun/2009/06/spring8.html</guid>
                  <category domain="http://www.sixapart.com/ns/types#category">研究会・講習会</category>
        
        
         <pubDate>Fri, 05 Jun 2009 23:55:07 +0900</pubDate>
      </item>
            <item>
         <title>第45回Ｘ線分析討論会</title>
         <description><![CDATA[第45回Ｘ線分析討論会
―講演募集―

主催 (社)日本分析化学会 Ｘ線分析研究懇談会
協賛 (社)日本化学会ほか
会 期 2009年11月5日（木）・6日（金）
会 場 大阪市立大学 杉本キャンパス 学術情報総合センター
[大阪市住吉区杉本3-3-138，交通：JR阪和線杉本町駅より徒歩 5分, もしくは大阪市営地下鉄御堂筋線あびこ駅より徒歩20分またはタクシーにて5分]
(交通の詳細は <a href="http://www.osaka-cu.ac.jp/info/commons/access.html ">http://www.osaka-cu.ac.jp/info/commons/access.html </a>を参照)

討論主題（申込書に主題番号を明記）
（1）Ｘ線吸収分光および軟Ｘ線分析
（2）Ｘ線元素イメージングおよび関連技術
（3）表面Ｘ線分析 (EPMA, XPS, TXRFなど)
（4）Ｘ線・放射線分析による材料不良解析
（5）その他、Ｘ線を利用した分析一般（鑑識X線分析、環境X線分析なども含む）

講演申込要項
1．講演内容は未発表のものに限ります。
2．依頼講演に加え、口頭発表とポスター発表を受け付けます。口頭発表では討論主題ごとのセッションをつくる予定ですので、申し込みにあたっては主題番号を明記して下さい。ただし、ポスター発表に変更していただく場合もありますので、ご了承ください。
3．依頼講演は1講演40分（討論5分を含む）、口頭発表は1講演20分(討論5分を含む)の予定です。液晶プロジェクタ( Windowsパソコンを用意します)での発表を基本とします。
4．申込講演の採否及びブログラム編成は実行委員会に一任願います。
5．講演者は後日参加登録してください。依頼講演者も参加登録料をお支払いいただきます(参加登録料：一般予約4,500円，一般当日6,000円，学生2,000円，ミキサー1,000円)。

ミキサー 11月 5日（木） 大阪市立大学 学術情報総合センター
講演申込締切日 7月22日(水)【必着】
講演要旨締切日 9月30日(水)【必着】
予約登録締切日 10月28日(水)【必着】

講演申込方法 
<a href="http://www.nims.go.jp/xray/xbun/x45form.doc">申込用紙</a> (右クリック、ファイルに保存)に発表題目等の必要事項を記入し、Eメールにて送信して下さい（やむを得ない場合は申込用紙のFAXも可）。
講演要旨は，当日受付で配付いたします（ただし座長には事前に郵送します）。

講演申込先・要旨原稿送付先
〒141-0031 東京都品川区西五反田1-26-2五反田サンハイツ 304号
社団法人日本分析化学会 Ｘ線分析研究懇会
〔電話：03-3490-3351，FAX：03-3490-3572，E-mail：<a href="mailto:hm_tanaka@jsac.or.jp">hm_tanaka@jsac.or.jp</a>および
CC.にて <a href="mailto:tsujilabo@a-chem.eng.osaka-cu.ac.jp">tsujilabo@a-chem.eng.osaka-cu.ac.jp</a>へも同時にお送りください〕
問合せ先 辻 幸一 (電話・FAX：06-6605-3080，E-mail： <a href="mailto:tsuji@a-chem.eng.osaka-cu.ac.jp ">tsuji@a-chem.eng.osaka-cu.ac.jp </a>)]]></description>
         <link>http://www.nims.go.jp/xray/xbun/2009/05/45.html</link>
         <guid>http://www.nims.go.jp/xray/xbun/2009/05/45.html</guid>
                  <category domain="http://www.sixapart.com/ns/types#category">X線分析討論会</category>
        
        
         <pubDate>Fri, 08 May 2009 19:18:53 +0900</pubDate>
      </item>
            <item>
         <title>X線反射率講習会 (5/22, Tsukuba)</title>
         <description><![CDATA[5月につくば市内で開催予定の講習会の案内です。

第３回講習会「Ｘ線反射率法による薄膜・多層膜の解析」
<a href="http://www.nims.go.jp/xray/ref/TutorialXRR2009.htm">http://www.nims.go.jp/xray/ref/TutorialXRR2009.htm</a>

主催  (社)応用物理学会　埋もれた界面のＸ線・中性子解析研究会
      （<a href="http://www.nims.go.jp/xray/ref/">http://www.nims.go.jp/xray/ref/</a>）
日時　2008年５月２２日（金）
場所 （独）物質・材料研究機構千現地区
 （〒305-0047 茨城県つくば市千現 1-2-1 電話 029-859-2000）
　　<a href="http://www.nims.go.jp/jpn/visiting/tsukuba.html">http://www.nims.go.jp/jpn/visiting/tsukuba.html</a>
　　最寄り駅　つくばエクスプレス線　つくば駅　南へ徒歩８分
　　<a href="http://www.mir.co.jp/">http://www.mir.co.jp/</a>

Ｘ線反射率法は、薄膜・多層膜の深さ方向の内部構造、具体的には、各層の膜厚、
密度、各界面のラフネス等を非破壊的に求めることができる解析技術です。本講
習会では、Ｘ線反射率法の経験豊富な専門家を講師陣に迎え、基礎から丁寧に解
説を行うとともに、シミュレーションやデータ解析の実習を少人数のグループに
て、きめ細かく行ないます。 休憩時間には「Ｘ線反射率相談デスク」を設け、
日頃の疑問に思っていること、質問したくてもなかなかできなかったことに、７
名の専門家がお答えします
]]></description>
         <link>http://www.nims.go.jp/xray/xbun/2009/04/x_522_tsukuba.html</link>
         <guid>http://www.nims.go.jp/xray/xbun/2009/04/x_522_tsukuba.html</guid>
                  <category domain="http://www.sixapart.com/ns/types#category">研究会・講習会</category>
        
        
         <pubDate>Thu, 30 Apr 2009 15:14:25 +0900</pubDate>
      </item>
            <item>
         <title>日本結晶学会講習会</title>
         <description><![CDATA[X線分析研究懇談会は、日本結晶学会の主催する講習会「粉末Ｘ線解析の実際」に共催団体として参加しております。以下、ご案内です。

--------------------------------------------------------------------------
日本結晶学会講習会
「粉末X線解析の実際」

主催　日本結晶学会
共催　日本分析化学会Ｘ線分析研究懇談会、東京理科大学グリーン光科学技術研究センター
協賛　日本化学会、日本分析化学会、日本薬学会、日本物理学会、応用物理学会、日本セラミックス協会、日本金属学会、鉄鋼協会、軽金属学会、電気化学会、化学工学会、高分子学会、日本結晶成長学会、日本鉱物科学会、日本材料学会、日本表面科学会、日本分析機器工業会、日本放射光学会、粉体工学会、日本顕微鏡学会、日本ゾル-ゲル学会、粉体粉末冶金協会、セメント協会、触媒学会、石油学会、日本原子力学会(依頼中のものを含む)

期日　平成21年7月13,14,15日

会場　東京理科大学1号館17階記念講堂
東京都新宿区神楽坂1-3　Tel 03-3260-4271（代表）　　
[交通]　JR、地下鉄飯田橋駅より徒歩４分。詳細は下記。
説明　・Aコースは粉末Ｘ線回折法を主として物質の同定、評価に使う人のための初心者向きコースです。これから粉末法を使う人、解析技術のワンランクアップをめざす人にも最適です。
　　　・Bコースは粉末Ｘ線回折法を結晶構造解析のために初めて使う人、とくにリートベルト法の習得を目指す人のためのコースです。粉末法に関する理解を深めたい人にもお勧めします。
　　　・Cコースはリートベルト解析の経験者でさらにレベルアップを望む人、未知構造の解析にチャレンジする人向けの上級コースです。
　　　・A,B,Cコースは互いに関係が深く、続けて受講することで粉末Ｘ線解析の全体像を理解できますが、単独コースの受講も可能です。
カタログ展示　各メーカーの粉末回折計のカタログ展示を隣接の大会議室で行います。

■7/13（月） １日目（Aコース）　粉末X線回折法の実際
1.粉末回折法の原理を理解しよう (東理大・理) 中井　泉　	9:30-11:00
回折ピークの位置と強度はどのような意味をもつか、結晶学の基礎、粉末回折パターンをつくる
2.粉末回折計の上手な使い方     (㈱リガク) 藤縄　剛　　	11:10-12:35
粉末Ｘ線回折装置（光学系，Ｘ線源，検出器）のしくみとメインテナンス
3.良質な粉末回折データの測定法  (㈱リガク) 紺谷貴之　 	13:35-14:20    
試料調製法、測定条件、構造解析のための測定	  
4.粉末回折データの読み方　 　　(PANalytical) 山路　功　	14:20-15:35
測定データの前処理、同定の原理（ハナワルト法）、ICDD-PDFの使い方、
コンピュータによる同定、格子定数計算法
5.結晶子サイズと歪みの評価 　　(名工大) 井田　隆　　 	15:45-16:30　
6.粉末法の応用事例　　　　　　　　　　　　　　　　　	16:30-17:30
             講師が各種応用事例をポスターで説明　
　　　　　（本企画に参加される講師名は５月末までに公表予定）


■7/14(火）2日目　（Bコース）粉末法によるリートベルト解析入門　

1. リートベルト解析のための結晶学入門	(東工大応セラ研)　佐々木 聡 
		i) 結晶構造パラメータ、空間群、International Tablesの使い方		　　　9:00-9:45
	ii)結晶構造因子の計算，消滅則，席占有率、温度因子、フーリエ合成	9:50-10:40
2. リートベルト解析入門　　　　　　　(物材機構) 　　　　泉 富士夫   
		原理，モデル関数，プロファイル関数，信頼度因子、解析の進め方　　　	10:50-12:15
3. RIETAN-FP利用の手引き　　　　 　(東工大)　　　　　 八島正知 　　 　	13:15 -14:55
4．リートベルト解析の応用　　　(産総研 東北センター)　 池田卓史 　　
　　	入力データ、解析結果の解釈と活用、応用例を通して解析の実際を学ぶ	15:05-16:30:
5. セメント分野での定量分析への応用　　　佐川孝広:日鐡セメント(株)   　 	16:30-17:00
質疑応答（自由参加）	17:10 - 

■7/15 （水） 3日目　（Cコース) 最新の構造精密化法と未知構造の解析
1. 電子・核密度分布の決定 　　　　　   (物材機構) 　　泉 富士夫　	9:00-10:15
     	MEM・MPF解析、3D可視化技術
2. 放射光・中性子回折データのMPF解析（東工大）　　　八島正知　	10:25-11:45
	測定法、解析の実例、イオンの拡散経路と化学結合の可視化　　　　
3. 粉末結晶構造解析　　　　　　　　　（東工大院）　　植草秀裕 　	12:45-14:15
　	指数付けから初期構造モデルの導出まで
4. 有機結晶解析の実際　　　　　 (理研　理研基幹研) 　 橋爪大輔 　		14:25-15:45
 　	有機結晶の試料調製法、解析の手順、構造モデルの導出と精密化
5. 無機結晶解析の実際　　　　( 産総研 東北センター)　 池田卓史　 		15:50-17:10
　	解析における注意と手順、構造モデルの導出と精密化
質疑応答（自由参加）	17:10 -

◆参加費(各々1コース、2コース、3コースを受講した時の費用)
主共催および指定学会＊会員：10000、15000、18000円　　
協賛学会会員　  　　　　 ：12000、17000、20000円
一般　　　　　　　　　　 ：14000、22000、30000円
学生　　　　　　　　　　 ： 7000、10000、13000円
＊日本化学会、日本分析化学会、日本薬学会
※テキストとして「粉末X線解析の実際」第2版（朝倉書店、本年7月刊行予定）が配付されるのでお得です。
◆定員：160名（先着順）
◆申し込み方法　
参加希望者は<a href="PowderXRDApplicationForm2009.doc">申込用紙</a>に必要事項を記入の上、結晶学会宛E-mailまたはFaxにてお申込み下さい。
◆申込先　〒169-0075 東京都新宿区高田馬場4-4 -19（株）国際文献印刷社内　日本結晶学会事務局　
　　　　電話(03)5389-6372　FAX(03)3368-2822　E-mail: <a href="mailto:crsj-xray@bunken.co.jp">crsj-xray@bunken.co.jp</a>]]></description>
         <link>http://www.nims.go.jp/xray/xbun/2009/04/post_5.html</link>
         <guid>http://www.nims.go.jp/xray/xbun/2009/04/post_5.html</guid>
                  <category domain="http://www.sixapart.com/ns/types#category">研究会・講習会</category>
        
        
         <pubDate>Tue, 14 Apr 2009 01:39:51 +0900</pubDate>
      </item>
            <item>
         <title>第58回デンバーＸ線会議および蛍光Ｘ線分析に関するワークショップのご案内</title>
         <description>デンバーX線会議はアメリカのコロラド州において毎年開催されるX線分析の国際会議で、蛍光X線およびX線回折についての最新の動向が報告されます。分析機器メーカーによる大規模な展示会が併設されている点と、学術講演に先立って２日間程度のワークショップが開催されている点に特徴があり、情報収集および実習の場としても大きな役割を果たしています。ワークショップでは複数のテーマが併設されており、参加者は興味を持ったワークショップに参加することができます。
本会議には日本からも毎年多数の参加者をむかえていますが、このたび日本分析化学会・X線分析研究懇談会の主催で下記のワークショップを開催する運びとなりました。
このワークショップが成功し、海外における日本人研究者の存在が増すことを期待しておりますので、奮ってご参加いただければ幸いです。研究懇談会では若手研究者の本会議への参加助成を準備しておりますので、大学院生などにもご紹介いただければ幸いです</description>
         <link>http://www.nims.go.jp/xray/xbun/2009/02/58.html</link>
         <guid>http://www.nims.go.jp/xray/xbun/2009/02/58.html</guid>
                  <category domain="http://www.sixapart.com/ns/types#category">研究会・講習会</category>
        
        
         <pubDate>Fri, 20 Feb 2009 20:45:08 +0900</pubDate>
      </item>
            <item>
         <title>JST国際強化支援策シンポジウム「微小部・微量X線分析法」</title>
         <description><![CDATA[主催：JST（科学技術振興機構）

共催：大阪市立大学

協賛：日本表面科学会関西支部、日本分析化学会近畿支部、日本分析化学会X線分析研究懇談会

日時： 2009年2月12日 (木) - 14日 (土)

会場： 大阪市立大学杉本キャンパス 学術情報総合センター
JR阪和線杉本町駅より徒歩 5 分, もしくは大阪市営地下鉄御堂筋線あびこ駅より徒歩20分タクシーで 5 分 (交通の詳細は<a href="http://www.osaka-cu.ac.jp/info/commons/access.html ">http://www.osaka-cu.ac.jp/info/commons/access.html </a>を参照)

内容： X線分析法は材料解析、工程管理、環境分析、医療診断など様々な分野で利用されています。近年のX線分析の周辺技術の進歩に伴い、X線微小部分析やX線微量分析は大変重要な研究課題となっており、微小部分析に関しては、単に微小部の分析のみならず、元素マッピングや3次元分析などが行えるようになってきています。特に、”X-ray Chemical Imaging”は将来的に重要な課題であり、本シンポジウムでも重点的な議論項目です。なお、このJSTシンポジウムは、平成20年度大阪市立大学重点研究「ヒューマンアダプティブ・マテリアルの開拓」第4回シンポジウムとのジョイントミーティングとなります。

JST国際強化支援策：JST戦略的創造研究推進事業における課題に対して、研究成果を世界に発信し研究を推進するために国際シンポジウムの開催を支援する事業です。

参加費 無料ですが、参加される方は2009年2月5日までに下記連絡先までご連絡ください。

問い合わせ・連絡先 辻 幸一、大阪市立大学大学院工学研究科
e-mail:<a href="mailto: tsuji@a-chem.eng.osaka-cu.ac.jp"> tsuji@a-chem.eng.osaka-cu.ac.jp</a>Tel/Fax: 06-6605-3080
]]></description>
         <link>http://www.nims.go.jp/xray/xbun/2009/01/jstx.html</link>
         <guid>http://www.nims.go.jp/xray/xbun/2009/01/jstx.html</guid>
                  <category domain="http://www.sixapart.com/ns/types#category">研究会・講習会</category>
        
        
         <pubDate>Sat, 17 Jan 2009 01:12:12 +0900</pubDate>
      </item>
            <item>
         <title>Chemical Imaging 国際シンポジウム</title>
         <description>辻先生が企画されているJST　のシンポジウムの案内です。
お問い合わせは、下記にお願いいたします。

辻　幸一、大阪市立大学大学院工学研究科
電子メール: tsuji@a-chem.eng.osaka-cu.ac.jp
Tel/Fax:  06-6605-3080
===================================================================

日時：　2009年2月12－14日
場所：　大阪市立大学杉本キャンパス　学術情報総合センター
アクセス：　http://www.osaka-cu.ac.jp/info/commons/access.html
シンポジウム内容：
　X線分析は材料解析、工程管理、環境分析、医療診断など様々な分野で利用されている。近年のX線分析の周辺技術の進歩に伴い、X線微小部分析やX線微量分析は大変重要な研究課題となっている。微小部分析に関しては、単に微小部の分析のみならず、元素マッピングや3次元分析などが行えるようになってきた。特に、”X-ray Chemical Imaging”は将来的に重要な課題であり、本シンポジウムでも重点的に議論していきたい。</description>
         <link>http://www.nims.go.jp/xray/xbun/2008/10/chemical_imaging.html</link>
         <guid>http://www.nims.go.jp/xray/xbun/2008/10/chemical_imaging.html</guid>
                  <category domain="http://www.sixapart.com/ns/types#category">研究会・講習会</category>
        
        
         <pubDate>Thu, 16 Oct 2008 16:01:05 +0900</pubDate>
      </item>
            <item>
         <title>第４４回X線分析討論会情報</title>
         <description><![CDATA[本年度のX線分析討論会の情報が下記にアップロードされております。

<a href="http://mcm-www.jwu.ac.jp/~hayashih/X44/x44.htm">http://mcm-www.jwu.ac.jp/~hayashih/X44/x44.htm</a>

お早めにご参照ください。]]></description>
         <link>http://www.nims.go.jp/xray/xbun/2008/04/x.html</link>
         <guid>http://www.nims.go.jp/xray/xbun/2008/04/x.html</guid>
                  <category domain="http://www.sixapart.com/ns/types#category">X線分析討論会</category>
        
        
         <pubDate>Wed, 23 Apr 2008 11:21:00 +0900</pubDate>
      </item>
            <item>
         <title>第16回X線分析講習会</title>
         <description><![CDATA[中井先生のご依頼により、第16回講習会の案内を掲載いたします。
申込書はこちらです。
<a href="http://www.nims.go.jp/xray/xbun/k16_form.doc">ワード</a>, <a href="http://www.nims.go.jp/xray/xbun/k16_form.pdf">PDF</a>

--------------------------------------------------------------------------------------------
<strong>第1６回X線分析講習会</strong>
<strong>蛍光X線分析の実際 （第5回）</strong>
―環境試料中の有害元素の迅速分析法、RoHS/ELV指令への対応

主催　日本分析化学会X線分析研究懇談会
共催　東京理科大学グリーン光科学技術研究センター
協賛　日本分析化学会、日本化学会、電気化学会、応用物理学会、日本結晶学会、日本セラミックス協会、
会期　７月14日(月）～ 16日（水）9時－17時半
会場　東京理科大学記念講堂、大会議室　1号館17階
  　　(東京都新宿区神楽坂1-3　 TEL: 03-3260-4271) 
　　　会場地図URL: <a href="http://www.tus.ac.jp/info/access/gmap/kag_gmap.html">http://www.tus.ac.jp/info/access/gmap/kag_gmap.html</a>
　　　[交通]　JR、地下鉄飯田橋駅より徒歩4分
　　　       JR飯田橋駅の神楽坂方面出口から見える17階建ての建物の17階です：
　　　最寄り駅　　JR飯田橋駅西口（市ヶ谷寄り） 
　　　　　　地下鉄飯田橋駅　B3出口（東京理科大出口）有楽町線、 南北線、 東西線、 大江戸線
　　　　 　 地下鉄は有楽町線、南北線が一番便利で、東西線はさらに5分くらい歩きます

参加申込締切 　定員 (講義　150名　実習　64名)　　先着順受付　
　ホームページ: http://www.nims.go.jp/xray/xbun/index.htm

<strong>本講習会の特徴</strong>　
1. WEEE/RoHS/ELV関連物質や土壌や食品中の有害微量元素の迅速非破壊分析法として脚光をあびている蛍光X線分析法を理解することができます。なお、本年3月20日には土砂類中の全ヒ素と全鉛の定量法として、EDXによる蛍光X線分析がJIS　K 0470として制定されており、本講習会でその分析技術が学べます。
2. 蛍光X線分析におけるブラックボックスの徹底理解をめざします。
3. 講師は各装置メーカーの方が多く、実践的なノウハウが学べます。
4. 蛍光光X線分析の全くの初心者の方からワンランクアップをめざしたい人までを対象としています。
5. 各社の卓上型蛍光X線分析装置が勢揃いし、実際の分析の様子を見ることができ、詳しい説明も聞けるので、これから装置の購入を考えている方にも絶好の機会となります。ハンディ分析装置の実習もあります。
6. 蛍光X線分析の装置、試料、アプリケーションなどに関して、日頃疑問に思っていることについての様々なご質問に各メーカーの方が実際の装置を前に丁寧にお答えします。
7. SEMやTEMに付属しているEDS分析装置を微小部元素分析装置として活用する方法がわかります。
8. デモ見学および実習により講義で学んだことをさらに確実な知識として身につけることができます。
実習１では、蛍光X線分析の定量法として広く利用されているFP（ファンダメンタルパラメーター）法の徹底理解をめざします。
実習2では、各社の誇る特徴的な装置を使った様々な試料の蛍光X線分析法を実習します。

<strong>プログラム</strong>]]></description>
         <link>http://www.nims.go.jp/xray/xbun/2008/04/post_4.html</link>
         <guid>http://www.nims.go.jp/xray/xbun/2008/04/post_4.html</guid>
                  <category domain="http://www.sixapart.com/ns/types#category">研究会・講習会</category>
        
        
         <pubDate>Tue, 01 Apr 2008 23:01:12 +0900</pubDate>
      </item>
            <item>
         <title>第225回X線分析研究懇談会例会</title>
         <description><![CDATA[第225回X線分析研究懇談会例会のご案内を掲示します。

主催　日本分析化学会X線分析研究懇談会
協賛　日本分析化学会、日本化学会ほか
会期　2008年1月25日（金）14:00～17:00
会場　福岡大学9号館（理学部）941教室〔〒814-0180 福岡市城南区七隈8-19-1 電話092-871-6631〕〔アクセス〕<a href="http://www.fukuoka-u.ac.jp/">http://www.fukuoka-u.ac.jp/</a>講演
１，SAGA-LSにおけるＸ線分析（SAGA-LS）岡島敏浩
２，産業技術総合研究所九州センターにおける機能材料に関するX線分析の現況（産総研）立山　博
３，局在量子構造による材料科学（京大名誉）足立裕彦
参加費　無料
申込方法　氏名, 勤務先, 電話番号を記載し, E-mailまたはFAXにて下記にお申し込み下さい。
申込先　〒814-0180 福岡市城南区七隈8-19-1 福岡大学理学部　脇田久伸〔電話：092-871-6631内線6218,  FAX:092-865-6030,  E-mail:wakita@fukuoka-u.ac.jp〕 ]]></description>
         <link>http://www.nims.go.jp/xray/xbun/2007/12/225x.html</link>
         <guid>http://www.nims.go.jp/xray/xbun/2007/12/225x.html</guid>
                  <category domain="http://www.sixapart.com/ns/types#category">研究会・講習会</category>
        
        
         <pubDate>Sat, 01 Dec 2007 02:47:44 +0900</pubDate>
      </item>
      
   </channel>
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