日本分析化学会 Ｘ線分析研究懇談会

第47回X線分析討論会

―講演募集―

主催　(社)日本分析化学会Ｘ線分析研究懇談会

協賛　(社)日本鉄鋼協会，(社)廃棄物資源循環学会，日本材料学会ほか

期日　10月28日（金）・29日（土）

会場　九州大学箱崎キャンパス　創立五十周年記念講堂　［福岡市東区箱崎6-10-1，交通：地下鉄箱崎線 箱崎九大前駅下車，徒歩5分またはJR鹿児島本線 箱崎駅下車，徒歩10分（交通の詳細は http://www.kyushu-u.ac.jp/access/index.php を参照）］

討論主題（申込書に主題番号を明記）

（1）Ｘ線分析の材料解析への応用

（2）Ｘ線イメージングおよび顕微分析

（3）Ｘ線検出器の開発と新規分析法への展開

（4）Ｘ線吸収分光法とその応用

（5）表面分析（XPS, TXRF）

（6）その他

講演申込要項

1．講演内容は未発表のものに限ります。

2．依頼講演に加え，口頭発表とポスター発表を受け付けます。口頭発表では討論主題ごとのセッションをつくる予定ですので，申し込みにあたっては主題番号を明記してください。ただし，ポスター発表に変更していただく場合もありますので，ご了承ください。

3．依頼講演は1講演40分（討論5分を含む），口頭発表は1講演20分（討論5分を含む）の予定です。液晶プロジェクタでの発表を基本とします（パソコンは用意しませんので、各自でご持参下さい）。

4．申込講演の採否及びブログラム編成は実行委員会に一任願います。

5．講演者は後日参加登録してください。依頼講演者も参加登録料をお支払いいただきます（参加登録料：一般予約4,500円，一般当日6,000円，学生2,000円，ミキサー1,000円）。

ミキサー　10月28日（金）　九州大学生協（予定）

講演申込締切日　 7月14日(木)【必着】（6月1日より受付開始）

講演要旨締切日　 9月26日(月)【必着】

予約登録締切日　10月14日(金)【必着】

講演申込方法　下記ホームページにアクセスの上，申込用紙に発表題目等の必要事項を記入し，E-mailにて送信してください（やむを得ない場合は申込用紙のFAXによる申込も可）。

詳細および最新情報は以下のホームページを御覧ください。

http://mole.rc.kyushu-u.ac.jp/~ircl/x47

講演申込先・要旨原稿送付先

　〒812-8581　福岡市東区箱崎6-10-1　九州大学大学院理学研究院化学部門　横山　拓史

　　電話&FAX：092-642-3908，E-mail： x47@chem.kyushu-univ.jp

日本結晶学会講習会

「粉末X線解析の実際」

主催　日本結晶学会

共催　日本分析化学会Ｘ線分析研究懇談会、東京理科大学RISTグリーン＆セーフティ研究センター

協賛　日本化学会、日本分析化学会、日本薬学会、日本物理学会、応用物理学会、日本セラミックス協会、日本金属学会、鉄鋼協会、軽金属学会、電気化学会、化学工学会、高分子学会、日本結晶成長学会、日本鉱物科学会、日本材料学会、日本表面科学会、日本分析機器工業会、日本放射光学会、粉体工学会、日本顕微鏡学会、日本ゾル-ゲル学会、粉体粉末冶金協会、セメント協会、触媒学会、石油学会、日本原子力学会、(社)化学情報協会(依頼中のものを含む)

期日　平成23年7月4,5,6日

会場　東京理科大学1号館17階記念講堂

東京都新宿区神楽坂1-3　Tel 03-3260-4271（代表）　　

[交通]　JR、地下鉄飯田橋駅より徒歩４分。詳細は下記。

説明　・Aコースは粉末Ｘ線回折法を主として物質の同定、評価に使う人のための初心者向きコースです。これから粉末法を使う人、解析技術のワンランクアップをめざす人にも最適です。

　　　・Bコースは粉末Ｘ線回折法を結晶構造解析のために初めて使う人、とくにリートベルト法の習得を目指す人のためのコースです。粉末法に関する理解を深めたい人にもお勧めします。

　　　・Cコースはリートベルト解析の経験者でさらにレベルアップを望む人、未知構造の解析にチャレンジする人向けの上級コースです。

　　　・A,B,Cコースは互いに関係が深く、続けて受講することで粉末Ｘ線解析の全体像を理解できますが、単独コースの受講も可能です。

カタログ展示　各メーカーの粉末回折計のカタログ展示を隣接の大会議室で行います。

■7/4（月） １日目（Aコース）　粉末X線回折法の実際

1.粉末回折法の原理を理解しよう (東理大・理) 中井　泉　                                9:30-11:00

回折ピークの位置と強度はどのような意味をもつか、結晶学の基礎、粉末回折パターンをつくる

2.粉末回折計の上手な使い方     (㈱リガク) 藤縄　剛　　                                11:10-12:35

粉末Ｘ線回折装置（光学系，Ｘ線源，検出器）のしくみとメインテナンス

3.良質な粉末回折データの測定法  (㈱リガク) 紺谷貴之　                                 13:35-14:20   

試料調製法、測定条件、構造解析のための測定                                               

4.粉末回折データの読み方　 　　(PANalytical) 山路　功　                                 14:25-15:40

測定データの前処理、同定の原理（ハナワルト法）、ICDD-PDFの使い方、

コンピュータによる同定、格子定数計算法

5.回折プロファイルの読み方 　　(名工大) 井田　隆　　                                   15:50-17:10　

　　プロファイルを決める因子、Kα2線の除去、 結晶子サイズと歪みの評価,、プロファイル関数

■7/5 (火）2日目　（Bコース）粉末法によるリートベルト解析入門　

1. リートベルト解析のための結晶学入門           (東工大応セラ研)　佐々木 聡

           i) 結晶構造パラメータ、空間群、International Tablesの使い方                     　　　9:00-9:45

        ii)結晶構造因子の計算，消滅則，席占有率、温度因子、フーリエ合成   9:50-10:40

2. リートベルト解析入門　　　　　　　(物材機構) 　　　　泉 富士夫  

           原理，モデル関数，信頼度因子、解析の進め方、定量分析　　　          10:50-12:15

3. RIETAN-FP利用の手引き　　　　 　(東工大)　　　　　 八島正知 　　 　  13:15 -14:40

4.GUIを通じたRIETAN-FPおよび関連ソフトの活用　(㈱リガク)　 佐々木明登    14:45-15:25

5．リートベルト解析の応用　　　(産総研 東北センター)　 池田卓史 　　

　　   入力データ、解析結果の解釈と活用、応用例を通して解析の実際を学ぶ 15:30-16:45:

6. セメント分野での定量分析への応用　　　佐川孝広:日鐡セメント(株)   　               16:50-17:20

質疑応答（自由参加）                                                                                                 17:20 -

■7/6 （水） 3日目　（Cコース) 最新の構造精密化法と未知構造の解析

1. 電子・核密度分布の決定 　　　　　   (物材機構) 　　門馬綱一　            9:00-10:15

     MEM・MPF解析、VESTA 3による結晶構造と密度分布の可視化

2. 放射光・中性子回折データのMPF解析（東工大）　　　八島正知　           10:25-11:45

  測定法、解析の実例、イオンの拡散経路と化学結合の可視化　　　　

3. 粉末結晶構造解析　　　　　　　　　（東工大院）　　植草秀裕 　          12:45-14:15

　       指数付けから初期構造モデルの導出まで

4. 有機結晶解析の実際　　　　　 (理研　理研基幹研) 　 橋爪大輔 　             14:25-15:45

 　     有機結晶の試料調製法、解析の手順、構造モデルの導出と精密化

5. 無機結晶解析の実際　　　　( 産総研 東北センター)　 池田卓史　              15:50-17:10

　       解析における注意と手順、構造モデルの導出と精密化

質疑応答（自由参加）                                                                                                 17:10 -

◆参加費(各々1コース、2コース、3コースを受講した時の費用)

主共催および指定学会＊会員：7000、12000、15000円　　

協賛学会会員　  　　　　 ：9000、14000、17000円

一般　　　　　　　　　　 ：11000、19000、27000円

学生　　　　　　　　　　 ： 4000、7000、10000円

＊日本化学会、日本分析化学会、日本薬学会、触媒学会

※テキストとして「粉末X線解析の実際」第2版（朝倉書店、売価6090円）を使用します。おもちでない方は、受講生ひとり１冊に限り特別割引価格の4000円で頒布します。

◆定員：160名（先着順）

◆申し込み方法　

参加希望者はホームページ上の申込用紙(Word, PDF) に必要事項を記入の上、結晶学会宛E-mailまたはFaxにてお申込み下さい。

◆申込先　〒169-0075 東京都新宿区高田馬場4-4 -19（株）国際文献印刷社内　日本結晶学会事務局　

　　　　電話(03)5389-6372　FAX(03)3368-2822　E-mail: crsj-xray@bunken.co.jp

◆問合先 〒162-8601東京都新宿区神楽坂1-3　東京理科大学理学部応用化学科　中井　泉

〔電話(03)3260-4271(内線5761), Fax 5261-4631, E-mail:inakai@rs.kagu.tus.ac.jp〕

ホームページ

　　　日本結晶学会HP: http://www.crsj.jp/

X線分析研究懇談会HP： http://www.nims.go.jp/xray/xbun/index.htm

泉　富士夫HP  http://homepage.mac.com/fujioizumi/index.html

グリーン光科学技術研究センターHP: http://www.rs.kagu.tus.ac.jp/green/

◆講習会会場

東京理科大学　１号館17階　記念講堂、特別会議室　

　JR飯田橋駅西口改札を出て右手方向（神楽坂方面）に見える白い17階建ての建物

で東京理科大学と書いてあります。

下記URL中の【地図】をご参照下さい。

http://www.tus.ac.jp/info/setubi/morito.html　

最寄り駅：JR飯田橋駅西口（市ヶ谷寄り）

　　　　　　　　　 地下鉄飯田橋駅　B3出口（東京理科大出口）

　　　　　　　　　 東京メトロ有楽町線・南北線・東西線、都営大江戸線　　　

　　　　 　　　　  地下鉄は有楽町線、南北線が一番便利で、東西線は更に5分程度歩きます。

X線分析研究懇談会主催の例会のご案内です。

日時：　2011年1月28日(金)
場所：　市民活動プラザおおさか東館（もと飛鳥人権文化センター）201号室

　　　　　〒533-0033 大阪市東淀川区東中島3-14-32 電話：06-6323-6721

13:00　脇田久伸(懇談会長)：挨拶
13:10 　早川慎二郎 (広大)：X線検出のイントロダクションと放射光X線検出
13:30 　河合潤 (京大)：比例計数管
13:50　寺田慎一 (エックスブリッジ)：各種半導体検出器－その特徴と使い分け
14:30　休憩
14:50　谷口一雄（テクノエックス）：検出器信号の最近の処理技術
15:30　中江保一 (京大)：自作DSPプログラム
15:50　村岡弘一 (テクノエックス）：新型SDD検出器を用いたX線分析装置
16:30 　池田重良：まとめ
16:40 　テクノエックス見学(〒533-0033大阪市東淀川区東中島5丁目18番20 TEL:
06-6323- 1100)
17:30 　懇親会　(大阪ガーデンパレス)

● 懇親会は17:30から大阪ガーデンパレスで行います．X線検出器に関してさらに議論を深める予定です．バス送迎あり．出席希望者は、京都大学河合先生にご連絡をお願いします。TEL：075-753-5442，　FAX：075-753-5436、e-mail jun.kawai@materials.mbox.media.kyoto-u.ac.jp
● 講演会終了後，テクノエックス見学を行います．同業他社の見学歓迎します．
● 懇親会参加費：3000円
● 例会参加申込締切：2011年1月20日(木)

［なお例会のみ参加の方は参加申込なしで当日直接会場にこられてもかまいません］

本年の浅田賞が決まりました。「ぶんせき」誌2010年９月号に掲載予定の辻先生の記事を以下に転載いたします。受賞される栗崎さん、本当におめでとうございます。１０月の広島でのX線分析討論会では受賞講演も予定されているということです。

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日本分析化学会X線分析研究懇談会では、元豊橋技術科学大学教授の浅田榮一先生（1924-　2005）のご業績を記念し、X線分析分野で優秀な業績をあげた若手研究者を表彰するための賞（浅田賞）を設けている。X線分析討論会の発表者、「X線分析の進歩」誌の論文発表者、X線分析研究懇談会例会発表者など、X線分析研究懇談会が主催する場での研究発表者が授賞の対象となる。
　第5回にあたる2010年度の浅田賞は、栗崎敏氏（福岡大学理学部助教）に贈られることになった。受賞研究課題は「X線吸収スペクトル測定装置の開発と各種金属イオンおよび金属錯体の溶存構造解析」である。授賞式と受賞講演は第46回X線分析討論会（10月22日・23日、広島県情報プラザ）で行われる予定である。栗崎氏への授賞理由は、以下の通りである。
　栗崎敏氏は2009年11月の第45 回X 線分析討論会において「軟X線吸収分光スペクトル測定用生体試料測定システムを用いた水溶液中の軽元素イオンの溶存構造解析」に関する口頭発表をされ、「X線分析の進歩」第41集に「軟X線分光スペクトル測定装置用生体試料測定システムの設計・開発・性能評価」の題目でその成果の一部を報告された。金属イオンや金属錯体は化学工業や生命現象において本質的な役割を演じており、溶液中の金属イオンや金属錯体の溶存構造を決定することは、金属錯体の性質や反応性を明らかにする上で非常に重要である。一般に、金属錯体の構造は固体状態で単結晶構造解析などを用いて多くの研究が行われているが、溶液中の金属錯体は種々の条件により複数の化学種として存在するため、その構造を決定することは困難である。栗崎氏はこれまで、X線吸収分光法を用いた各種金属錯体の溶存構造解析に関する研究に取り組み、独自に合成した種々の大環状ポリアミン配位子を用いた銅(II)錯体の溶存構造を明らかにされた。さらに、実験室でリチウム等の軽元素の超軟X線分光スペクトルを測定可能な装置を開発し放射光施設並みの精度でXANESスペクトルを得ることが可能であることを実証された。近年は佐賀県に建設された九州シンクロトロン光研究センターの軟Ｘ線ビームラインBL-12の建設立ち上げにも参加され、このビームラインに接続可能な溶液試料用の軟Ｘ線分光システムの設計と試作を行われた。特にユニークな点は大気圧下で軽元素に対するＸ線吸収スペクトル測定が可能な点であり、今後の生体試料への応用も期待される。以上のように、これまでの栗崎氏の研究業績はX線分光分析の分野に大きく貢献するものであり、今後の発展が大いに期待される。
　なお、浅田榮一先生のご業績に関心のある読者は、「X線分析の進歩」第37集（アグネ技術センター、2006年3月発行）の1～7ページを参照されたい。
（大阪市立大学大学院工学研究科　辻　幸一）

―講演募集―

主催　(社)日本分析化学会 Ｘ線分析研究懇談会
協賛　(社)日本化学会、日本鉄鋼協会、その他

会　期　2010年10月22日（金）・23日（土）　　　　　
会　場　広島県情報プラザ　多目的ホール
[730-0052　広島市中区千田町３丁目７－４７，交通：JR広島駅（南口）より市内電車、紙屋町経由広島港行（１番）広電本社前下車　徒歩７分]
(交通の詳細は http://www.hiwave.or.jp/kikou/akusesu.htm#1 を参照)

討論主題（申込書に主題番号を明記）
（1）Ｘ線分析の材料解析への応用
（2）Ｘ線イメージングおよび顕微分析
（3）Ｘ線検出器の開発と新規分析法への展開
（4）Ｘ線吸収分光法とその応用
（5）表面分析（XPS, TXRF）
（6）その他

講演申込要項 1．講演内容は未発表のものに限ります。
2．依頼講演に加え、口頭発表とポスター発表を受け付けます。口頭発表では討論主題ごとのセッションをつくる予定ですので、申し込みにあたっては主題番号を明記して下さい。ただし、ポスター発表に変更していただく場合もありますので、ご了承ください。
3．口頭発表は1講演20分(討論5分を含む)の予定です。液晶プロジェクタ( Windowsパソコンを用意します)での発表を基本とします。
4．申込講演の採否及びブログラム編成は実行委員会に一任願います。
5．講演者は後日参加登録してください。依頼講演者も参加登録料をお支払いいただきます(参加登録料：一般予約4,500円，一般当日6,000円，学生2,000円，ミキサー1,000円)。

ミキサー 　　　 10月 22日（金） 　広島県情報プラザ1Fレストラン　マルコポーロ（予定）
講演申込締切日　 7月23日(金)【必着】
講演要旨締切日　 9月24日(金)【必着】
予約登録締切日　10月 8日(金)【必着】

講演申込方法　下記ホームページにアクセスの上、申込用紙に発表題目等の必要事項を記入し、Eメールにて送信して下さい（やむを得ない場合は申込用紙のFAXも可）。
詳細および最新情報は以下のホームページを御覧下さい。
http://home.hiroshima-u.ac.jp/hayakawa/X46/index.html

講演申込先・要旨原稿送付先　
　〒739-8527　東広島市鏡山1-4-1　広島大学大学院工学研究科　早川　慎二郎
　　電話：082-424-7609，E-mail： hayakawa@hiroshima-u.ac.jp
〒141-0031　東京都品川区西五反田1-26-2五反田サンハイツ 304号
社団法人日本分析化学会 Ｘ線分析研究懇会
電話：03-3490-3351，FAX：03-3490-3572，E-mail： hm_tanaka@jsac.or.jp

中井先生のご依頼により、第１７回講習会の案内を掲載いたします。
申込書はこちらです。
ワード, PDF

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第1７回X線分析講習会
蛍光X線分析の実際 （第6回）
―環境試料中の有害元素の迅速分析法、RoHS/ELV指令への対応
主催　日本分析化学会X線分析研究懇談会
共催　東京理科大学グリーン＆セーフティ研究センター
協賛　日本分析化学会、日本化学会、電気化学会、応用物理学会、日本結晶学会、日本セラミックス協会、環境科学会
会期　７月5日(月）～ ７日（水）9時－17時半
会場　東京理科大学記念講堂、大会議室　1号館17階
　　(東京都新宿区神楽坂1-3　 TEL: 03-3260-4271)
　　　会場地図URL: http://www.tus.ac.jp/info/access/gmap/kag_gmap.html
　　　[交通]　JR、地下鉄飯田橋駅より徒歩4分
　　　 JR飯田橋駅の神楽坂方面出口から見える17階建ての建物の17階です：
　　　最寄り駅　　JR飯田橋駅西口（市ヶ谷寄り）
　　　　　　地下鉄飯田橋駅　B3出口（東京理科大出口）有楽町線、 南北線、 東西線、 大江戸線
　　　　 　 地下鉄は有楽町線、南北線が一番便利で、東西線はさらに5分くらい歩きます
参加申込締切 　定員 (講義　150名　実習　64名)　　先着順受付　締切：　6月28日（必着）
　ホームページ: http://www.nims.go.jp/xray/xbun/index.htm
本講習会の特徴　
1. WEEE/RoHS/ELV関連物質や土壌や食品中の有害微量元素の迅速非破壊分析法として脚光をあびている蛍光X線分析法を理解することができます。また、土砂類中の全ヒ素と全鉛の定量法として、EDXによる蛍光X線分析がJIS K 0470として制定されており、本講習会でその分析技術が学べます。
2. 蛍光X線分析におけるブラックボックスの徹底理解をめざします。
3. 講師は各装置メーカーの方が多く、実践的なノウハウが学べます。
4. 蛍光光X線分析の全くの初心者の方からワンランクアップをめざしたい人までを対象としています。
5. 各社の卓上型蛍光X線分析装置が勢揃いし、実際の分析の様子を見ることができ、詳しい説明も聞けるので、これから装置の購入を考えている方にも絶好の機会となります。ハンドヘルド分析装置の実習もあります。
6. 蛍光X線分析の装置、試料、アプリケーションなどに関して、日頃疑問に思っていることについての様々なご質問に各メーカーの方が実際の装置を前に丁寧にお答えします。
7. SEMやTEMに付属しているEDS分析装置を微小部元素分析装置として活用する方法がわかります。
8. デモ見学および実習により講義で学んだことをさらに確実な知識として身につけることができます。
実習１では、蛍光X線分析の定量法として広く利用されているFP（ファンダメンタルパラメーター）法の
徹底理解をめざします。
実習2では、各社の誇る特徴的な装置を使った様々な試料の蛍光X線分析法を実習します。