お知らせ

中井先生のご依頼により、第１８回講習会（蛍光Ｘ線分析の実際（第7回））の案内を掲載いたします。
申込書はこちらです。
ワード, PDF

蛍光X線分析の実際 (第7回)

― 機能性材料、環境試料、食品中の有害元素の簡易迅速分析法

主催　日本分析化学会X線分析研究懇談会

共催　東京理科大学RISTグリーン&セーフティ研究センター、日本化学会

協賛　日本分析化学会、電気化学会、応用物理学会、日本結晶学会、日本セラミックス協会、環境科学会

会期　７月9日 (月) ～ 11日 (水)　9時－17時半

会場　東京理科大学記念講堂、大会議室　1号館17階

　　　(東京都新宿区神楽坂1-3　 TEL: 03-3260-4271)

　　　会場地図URL:　http://www.tus.ac.jp/info/access/gmap/kag_gmap.html
　　　[交通]　JR、地下鉄飯田橋駅より徒歩4分

　　　　　　JR飯田橋駅の神楽坂方面出口から見える17階建ての建物の17階です

　　　最寄り駅　　JR飯田橋駅西口 (市ヶ谷寄り)

　　　　　　地下鉄飯田橋駅　B3出口 (東京理科大出口) 有楽町線、 南北線、 東西線、 大江戸線

　　　　　　地下鉄は有楽町線、南北線が一番便利で、東西線はさらに5分くらい歩きます

参加申込締切 　定員 (講義　100名　実習　64名)　　先着順受付

　ホームページ: http://www.nims.go.jp/xray/xbun/index.htm

1. 蛍光X線分析におけるブラックボックスの徹底理解をめざします。

2. 講師は各装置メーカーの方が多く、実践的なノウハウが学べます。

3. 蛍光X線分析の全くの初心者の方からワンランクアップをめざしたいユーザーまでを対象としています。

4. 各社の卓上型蛍光X線分析装置が勢揃いし、実際の分析の様子を見ることができ、詳しい説明も聞けるので、これから装置の購入を考えている方にも絶好の機会となります。ハンドヘルド分析装置の実習もあります。

5. 蛍光X線分析の装置、試料、アプリケーションなどに関して、日頃疑問に思っている様々なご質問に各メーカーの方が実際の装置を前に丁寧にお答えします。

6. お米のCd, レアメタル・貴金属の回収、ハロゲン、瓦礫処理、WEEE/RoHS/ELV関連物質の迅速非破壊分析法として脚光をあびている蛍光X線分析法を理解することができます。また、土砂類中の全ヒ素と全鉛の定量法として、EDXによる蛍光X線分析がJIS K 0470として制定されており、本講習会でその分析技術が学べます。

7. SEMやTEMに付属しているEDS分析装置を微小部元素分析装置として活用する方法がわかります。

8. デモ見学および実習により講義で学んだことをさらに確実な知識として身につけることができます。
実習1では、蛍光X線分析の定量法として広く利用されているFP (ファンダメンタルパラメーター) 法の
徹底理解をめざします。
実習2では、各社の誇る特徴的な装置を使った様々な試料の蛍光X線分析法を実習します。

プログラム

◆ 7/9 (月) 講義1日目

9時開場

1. 蛍光X線分析入門                                     東理大　中井　泉                            9:40-10:40

　　　これだけは知っておきたい蛍光X線分析の基礎の基礎

2. 蛍光X線分析装置                                     リガク　本間　寿                            10:50-12:00

　　　測定技術のワンランクアップのためのブラックボックスの理解をめざそう

昼食

3. スペクトルから見る蛍光X線分析技術      PANalytical  山路　功        13:00-13:40

　　　EDXとWDSスペクトルの特徴と違い、励起源、フィルター、2次ターゲットの効果

4. 定量分析法                                                島津　西埜　誠                  13:45-15:25

　　　定量の原理と注意事項、特にFP法の本質を理解しよう

5. 検量線法による定量の応用事例                 アワーズテック 永井 宏樹              15:35-16:05

　　　土壌、スラグ塩基度、コンクリート塩害分析　

6. 蛍光X線スペクトルの読み方について      京大　河合　潤                  16:10-17:00

　　　X線スペクトル強度比の測定法 (EDX, WDX ) による違い、2θ軸をエネルギー軸へ
　　　変換した際の注意点、Lエル線などの説明

解散後

◆ 各社の分析装置の自由見学会                                                             17:15-18:15

講師による質問受付コーナー (18時からミキサーを行います)

◆ 7/10 (火) 講義2日目

1. 試料調製法                                                リガク　本間　寿                            9:00-10:00

　　　良いデータを得るための試料調製法のコツを知ろう

2. X線分析顕微鏡                                          堀場　大石　誠                                10:10-10:50

　　　X線をどうやって集光するか、どのような試料の何がわかるのか

3. SEM-EDS分析                                           日本電子　高橋 秀之         10:50-11:40

　　　SEM-EDSはXRFとどう違い、どこまで分析できるか　

4. 全反射蛍光X線分析      エックスブリッジテクノロジーズ　寺田 慎一            11:50-12:30

　　　蛍光X線による超微量分析法の原理と応用

昼休み (各社装置の見学自由)

応用事例集

5. 膜厚の測定                    エスアイアイ・ナノテクノロジー　泉山 優樹            13:30-14:10

　　　めっきの厚みをどのように測定するか。蛍光X線分析装置と蛍光X線膜厚計の違い、
　　　検量線による測定 (単層膜・多層膜) のほか、薄膜FP法についても説明する

6. 半導体薄膜の分析          エックスブリッジテクノロジーズ　寺田 慎一            14:10-14:50

　　　ナノレベルの薄膜の膜厚や組成測定への応用

7. ハンディタイプ蛍光X線分析装置                           リガク　野上 太郎                          15:00-15:40

　　　環境・瓦礫処理・リサイクル分野におけるスクリーニング分析

8. 食品の蛍光X線分析                                  東理大　中井　泉                            15:40-16:20

　　　米のCdの定量分析、野菜コーヒー豆等の微量元素分析と産地判別への応用

9. 実際の装置を使った蛍光X線分析のデモ2コースの見学                    16:30-17:20

　　　各コース　25分 × 2

解散後

◆ 各社の分析装置の自由見学会                                                             17:30-18:30

　　　講師による質問受付コーナー

◆ デモ見学、実習を希望する装置メーカーの選択法

デモ見学、実習は以下のメーカーの装置を使って行います。特定のメーカーの装置を希望される方はコースの定員を考慮して申込書へ記号をご記入ください。特定されない場合は、そのようにご選択下さい。なお、メーカー名は以下の略号を使っています。

OURS: アワーズテック(株)　SII-NT: エスアイアイ・ナノテクノロジー(株)　SMD: (株)島津製作所 TEX: (株)テクノエックス　JEOL: 日本電子(株)  PAN: PANalytical スぺクトリス(株) (旧フィリップス)　HOR: (株)堀場製作所　RGK: (株)リガク BUR: ブルカー・エイエックスエス(株)

◇キャパシティの関係で定員を設け先着順としますので、定員を越えた場合は、第2希望以下のコースになりますのであらかじめご了承ください。未記入の場合はこちらで割り振りさせていただきます。実習１と２は異なるメーカーの装置を選択された方がそれぞれのメーカーの特徴がわかって勉強になる面があるのでお勧めします。

◆ デモ見学

各メーカーが実際の装置を使って、蛍光X線分析の流れを25分で紹介します。以下の見学コースから2つを選択してください。　第4希望まで記入下さい。1コース最大15名定員。

 [EDX分析]       a.どのメーカーでも良い　b. SMD　c. SII-NT　d. JEOL　e. PAN　f. HOR　g. TEX　h. BUR

 [WDX分析]      i. RGK

 [特殊装置]        j. X線顕微鏡 [HOR]　k.薄膜分析 [SII-NT]

                          l. JIS K0470に準拠した土壌分析および軽元素分析 [OURS]

                   ・可搬蛍光Ｘ線分析装置とハンドヘルド装置による土壌、合金、RoHS、環境試料の分析

                          　m. [JEOL]　n. [RGK]　o. [HOR]  

                          p. 全反射蛍光X線分析 [OURS]

　　　　　　   q. 3次元偏光光学系EDXRF [PAN]

◆ 7/11(水) 卓上型ED/WD-XRF装置による実習

　　申し込み用紙に各実習に使う装置の希望メーカーを必ず第4希望までご記入下さい。

◇ 実習1　ファンダメンタルパラメーター (FP) 法を理解する

　　i) 講義                                                    島津　西埜　誠                  9:00-10:30

　　　FP法の基本原理による実試料の定量分析例を用いて、FP法を使いこなすノウハウを

　　　説明する。また、分析装置に搭載されているFP定量システムの理解を深める。

　　　(参加者は対数の計算できる電卓をご持参ください)

　　ii) 実習　6グループ程度に別れて各メーカーの装置で実習を行う   10:40-13:00

　　　様々な形態の実試料を分析し、FP法による定量分析のテクニックを習得する。

　　　また、実際の分析装置に搭載されているFP定量システムを説明する。

◇ 実習2　応用実習                                                                                14:00-17:00

　　　以下のi～ⅷの8種のコースから1つを選択。各コースの最大定員は8名程度。

　　i) EDX分析

　　　実施メーカー　　SMD, SII-NT, JEOL, PAN, HOR, BUR　各1コース

　　ii) WDX分析

　　　実施メーカー　　RGK　2コース (予定)

　　　実際の、EDX (エネルギー分散)、WDX (波長分散) 型装置を使って蛍光X線分析の基本を学びます。
　　　応用としてプラスチックや土壌試料に含まれる微量有害元素を迅速簡便に分析する方法のノウハウ等、
　　　色々な試料を用いて実習します。

　　iii) X線分析顕微鏡

　　　実施メーカー　　HOR　1コース

　　　10 μmの分解能を持つX線分析顕微鏡を使って、電子部品や生物など様々な試料の元素分布の観察方法を
　　　実習します。微小部における異物分析 (同定・FP定量) もあわせて行います。

　　iv) 薄膜分析

　　　実施メーカー　　SII-NT　1コース

　　　nmからµmオーダーの合金・多層薄膜の膜厚・組成の同時測定を、マイクロビーム蛍光X線分析装置

　　　を用いて実習します。薄膜FP法や薄膜標準物質についても学びます。

　　v)ハンドヘルド蛍光X線分析計 (3社のなかから2社で実習の予定)

　　　環境・リサイクル分野におけるスクリーニング分析

　　　実施メーカー　　HOR　JOEL　RGK

　　vi) 全反射蛍光X線分析

　　　実施メーカー　　OURS　1コース (ポータブル全反射装置を使用)
　　　・ 超微量分析用試料調製法のノウハウ (器具、水、試薬、塵よけの簡単な工夫、洗浄法、試料乾燥法等)
　　　・ 内標準によるppb濃度の定量分析
　　　・ 土壌浸出液、プラスチック浸出液、金属部品浸出液の有害元素分析

　　vii) 米中のCdの定量分析

　　　実施メーカー　　TEX　1コース

　　viii) 3次元偏光光学系EDXRFによる微量重金属の測定

      実施メーカー　　PAN　1コース

◆ ミキサー　7月9日(月)　18時頃～　　受講生と講師・メーカーの方達との親睦会。参加費500円。

　　当日申し込み、参加自由。

◆ 参加費　

◇ 実習＋講義 (3日間) : 主催・共催学会会員25,000円 (学生15,000円), 協賛学会会員30,000円 (学生20,000円),
     一般40,000円 (学生25,000円) (テキスト料金は含みません)

◇ 講義のみ (2日間) : 主催・共催学会会員15,000円 (学生8000円), 協賛学会会員20,000円 (学生10,000円),
     一般25,000円 (学生13,000円) (テキスト料金は含みません)

◇ テキスト「蛍光X線分析の実際」(朝倉書店・定価5,985円) を使用；別売、
     希望者は受講生一人1冊に限り特別割引価格の4000円で頒布。

申込先：添付の申込書を必ず利用して FAX、E-mail または、郵送でお申し込み下さい。

〒141-0031 東京都品川区西五反田1-26-2 五反田サンハイツ

(公社) 日本分析化学会X線分析研究懇談会

TEL: 03-3490-3351　FAX: 03-3490-3572  E-mail:  hm_tanaka@jsac.or.jp

加費送金先：りそな銀行 五反田支店 普通預金0804543  シャ)ニホンブンセキカガクカイ

◆ 内容問合わせ先：東京理科大学 理学部 応用化学科 中井　泉、阿部 善也
TEL: 03-3260-4271(5782,5761)  FAX: 03-3235-2214 　E-mail: inakai@rs.kagu.tus.ac.jp　y.abe@rs.tus.ac.jp

◆ X線分析研究懇談会入会のおさそい

X線分析研究懇談会年会費は以下の通りです。わずかの年会費で講習会参加費が大変お安くなりますので、ぜひこの機会にご入会をお勧めします。詳細はhttp://www.nims.go.jp/xray/xbun/index.htm

をご覧下さい。

Ａ会員　日本分析化学会個人会員　1,000円　会員外　1,500円

Ｂ会員　日本分析化学会個人会員　4,500円　会員外　5,500円

　(Ｂ会員は毎年3月(株)アグネ技術センターより発行の「X線分析の進歩」(定価5,500円) を無料で受領でき

第47回X線分析討論会

―講演募集―

主催　(社)日本分析化学会Ｘ線分析研究懇談会

協賛　(社)日本鉄鋼協会，(社)廃棄物資源循環学会，日本材料学会ほか

期日　10月28日（金）・29日（土）

会場　九州大学箱崎キャンパス　創立五十周年記念講堂　［福岡市東区箱崎6-10-1，交通：地下鉄箱崎線 箱崎九大前駅下車，徒歩5分またはJR鹿児島本線 箱崎駅下車，徒歩10分（交通の詳細は http://www.kyushu-u.ac.jp/access/index.php を参照）］

討論主題（申込書に主題番号を明記）

（1）Ｘ線分析の材料解析への応用

（2）Ｘ線イメージングおよび顕微分析

（3）Ｘ線検出器の開発と新規分析法への展開

（4）Ｘ線吸収分光法とその応用

（5）表面分析（XPS, TXRF）

（6）その他

講演申込要項

1．講演内容は未発表のものに限ります。

2．依頼講演に加え，口頭発表とポスター発表を受け付けます。口頭発表では討論主題ごとのセッションをつくる予定ですので，申し込みにあたっては主題番号を明記してください。ただし，ポスター発表に変更していただく場合もありますので，ご了承ください。

3．依頼講演は1講演40分（討論5分を含む），口頭発表は1講演20分（討論5分を含む）の予定です。液晶プロジェクタでの発表を基本とします（パソコンは用意しませんので、各自でご持参下さい）。

4．申込講演の採否及びブログラム編成は実行委員会に一任願います。

5．講演者は後日参加登録してください。依頼講演者も参加登録料をお支払いいただきます（参加登録料：一般予約4,500円，一般当日6,000円，学生2,000円，ミキサー1,000円）。

ミキサー　10月28日（金）　九州大学生協（予定）

講演申込締切日　 7月14日(木)【必着】（6月1日より受付開始）

講演要旨締切日　 9月26日(月)【必着】

予約登録締切日　10月14日(金)【必着】

講演申込方法　下記ホームページにアクセスの上，申込用紙に発表題目等の必要事項を記入し，E-mailにて送信してください（やむを得ない場合は申込用紙のFAXによる申込も可）。

詳細および最新情報は以下のホームページを御覧ください。

http://mole.rc.kyushu-u.ac.jp/~ircl/x47

講演申込先・要旨原稿送付先

　〒812-8581　福岡市東区箱崎6-10-1　九州大学大学院理学研究院化学部門　横山　拓史

　　電話&FAX：092-642-3908，E-mail： x47@chem.kyushu-univ.jp

日本結晶学会講習会

「粉末X線解析の実際」

主催　日本結晶学会

共催　日本分析化学会Ｘ線分析研究懇談会、東京理科大学RISTグリーン＆セーフティ研究センター

協賛　日本化学会、日本分析化学会、日本薬学会、日本物理学会、応用物理学会、日本セラミックス協会、日本金属学会、鉄鋼協会、軽金属学会、電気化学会、化学工学会、高分子学会、日本結晶成長学会、日本鉱物科学会、日本材料学会、日本表面科学会、日本分析機器工業会、日本放射光学会、粉体工学会、日本顕微鏡学会、日本ゾル-ゲル学会、粉体粉末冶金協会、セメント協会、触媒学会、石油学会、日本原子力学会、(社)化学情報協会(依頼中のものを含む)

期日　平成23年7月4,5,6日

会場　東京理科大学1号館17階記念講堂

東京都新宿区神楽坂1-3　Tel 03-3260-4271（代表）　　

[交通]　JR、地下鉄飯田橋駅より徒歩４分。詳細は下記。

説明　・Aコースは粉末Ｘ線回折法を主として物質の同定、評価に使う人のための初心者向きコースです。これから粉末法を使う人、解析技術のワンランクアップをめざす人にも最適です。

　　　・Bコースは粉末Ｘ線回折法を結晶構造解析のために初めて使う人、とくにリートベルト法の習得を目指す人のためのコースです。粉末法に関する理解を深めたい人にもお勧めします。

　　　・Cコースはリートベルト解析の経験者でさらにレベルアップを望む人、未知構造の解析にチャレンジする人向けの上級コースです。

　　　・A,B,Cコースは互いに関係が深く、続けて受講することで粉末Ｘ線解析の全体像を理解できますが、単独コースの受講も可能です。

カタログ展示　各メーカーの粉末回折計のカタログ展示を隣接の大会議室で行います。

■7/4（月） １日目（Aコース）　粉末X線回折法の実際

1.粉末回折法の原理を理解しよう (東理大・理) 中井　泉　                                9:30-11:00

回折ピークの位置と強度はどのような意味をもつか、結晶学の基礎、粉末回折パターンをつくる

2.粉末回折計の上手な使い方     (㈱リガク) 藤縄　剛　　                                11:10-12:35

粉末Ｘ線回折装置（光学系，Ｘ線源，検出器）のしくみとメインテナンス

3.良質な粉末回折データの測定法  (㈱リガク) 紺谷貴之　                                 13:35-14:20   

試料調製法、測定条件、構造解析のための測定                                               

4.粉末回折データの読み方　 　　(PANalytical) 山路　功　                                 14:25-15:40

測定データの前処理、同定の原理（ハナワルト法）、ICDD-PDFの使い方、

コンピュータによる同定、格子定数計算法

5.回折プロファイルの読み方 　　(名工大) 井田　隆　　                                   15:50-17:10　

　　プロファイルを決める因子、Kα2線の除去、 結晶子サイズと歪みの評価,、プロファイル関数

■7/5 (火）2日目　（Bコース）粉末法によるリートベルト解析入門　

1. リートベルト解析のための結晶学入門           (東工大応セラ研)　佐々木 聡

           i) 結晶構造パラメータ、空間群、International Tablesの使い方                     　　　9:00-9:45

        ii)結晶構造因子の計算，消滅則，席占有率、温度因子、フーリエ合成   9:50-10:40

2. リートベルト解析入門　　　　　　　(物材機構) 　　　　泉 富士夫  

           原理，モデル関数，信頼度因子、解析の進め方、定量分析　　　          10:50-12:15

3. RIETAN-FP利用の手引き　　　　 　(東工大)　　　　　 八島正知 　　 　  13:15 -14:40

4.GUIを通じたRIETAN-FPおよび関連ソフトの活用　(㈱リガク)　 佐々木明登    14:45-15:25

5．リートベルト解析の応用　　　(産総研 東北センター)　 池田卓史 　　

　　   入力データ、解析結果の解釈と活用、応用例を通して解析の実際を学ぶ 15:30-16:45:

6. セメント分野での定量分析への応用　　　佐川孝広:日鐡セメント(株)   　               16:50-17:20

質疑応答（自由参加）                                                                                                 17:20 -

■7/6 （水） 3日目　（Cコース) 最新の構造精密化法と未知構造の解析

1. 電子・核密度分布の決定 　　　　　   (物材機構) 　　門馬綱一　            9:00-10:15

     MEM・MPF解析、VESTA 3による結晶構造と密度分布の可視化

2. 放射光・中性子回折データのMPF解析（東工大）　　　八島正知　           10:25-11:45

  測定法、解析の実例、イオンの拡散経路と化学結合の可視化　　　　

3. 粉末結晶構造解析　　　　　　　　　（東工大院）　　植草秀裕 　          12:45-14:15

　       指数付けから初期構造モデルの導出まで

4. 有機結晶解析の実際　　　　　 (理研　理研基幹研) 　 橋爪大輔 　             14:25-15:45

 　     有機結晶の試料調製法、解析の手順、構造モデルの導出と精密化

5. 無機結晶解析の実際　　　　( 産総研 東北センター)　 池田卓史　              15:50-17:10

　       解析における注意と手順、構造モデルの導出と精密化

質疑応答（自由参加）                                                                                                 17:10 -

◆参加費(各々1コース、2コース、3コースを受講した時の費用)

主共催および指定学会＊会員：7000、12000、15000円　　

協賛学会会員　  　　　　 ：9000、14000、17000円

一般　　　　　　　　　　 ：11000、19000、27000円

学生　　　　　　　　　　 ： 4000、7000、10000円

＊日本化学会、日本分析化学会、日本薬学会、触媒学会

※テキストとして「粉末X線解析の実際」第2版（朝倉書店、売価6090円）を使用します。おもちでない方は、受講生ひとり１冊に限り特別割引価格の4000円で頒布します。

◆定員：160名（先着順）

◆申し込み方法　

参加希望者はホームページ上の申込用紙(Word, PDF) に必要事項を記入の上、結晶学会宛E-mailまたはFaxにてお申込み下さい。

◆申込先　〒169-0075 東京都新宿区高田馬場4-4 -19（株）国際文献印刷社内　日本結晶学会事務局　

　　　　電話(03)5389-6372　FAX(03)3368-2822　E-mail: crsj-xray@bunken.co.jp

◆問合先 〒162-8601東京都新宿区神楽坂1-3　東京理科大学理学部応用化学科　中井　泉

〔電話(03)3260-4271(内線5761), Fax 5261-4631, E-mail:inakai@rs.kagu.tus.ac.jp〕

ホームページ

　　　日本結晶学会HP: http://www.crsj.jp/

X線分析研究懇談会HP： http://www.nims.go.jp/xray/xbun/index.htm

泉　富士夫HP  http://homepage.mac.com/fujioizumi/index.html

グリーン光科学技術研究センターHP: http://www.rs.kagu.tus.ac.jp/green/

◆講習会会場

東京理科大学　１号館17階　記念講堂、特別会議室　

　JR飯田橋駅西口改札を出て右手方向（神楽坂方面）に見える白い17階建ての建物

で東京理科大学と書いてあります。

下記URL中の【地図】をご参照下さい。

http://www.tus.ac.jp/info/setubi/morito.html　

最寄り駅：JR飯田橋駅西口（市ヶ谷寄り）

　　　　　　　　　 地下鉄飯田橋駅　B3出口（東京理科大出口）

　　　　　　　　　 東京メトロ有楽町線・南北線・東西線、都営大江戸線　　　

　　　　 　　　　  地下鉄は有楽町線、南北線が一番便利で、東西線は更に5分程度歩きます。

X線分析研究懇談会主催の例会のご案内です。

日時：　2011年1月28日(金)
場所：　市民活動プラザおおさか東館（もと飛鳥人権文化センター）201号室

　　　　　〒533-0033 大阪市東淀川区東中島3-14-32 電話：06-6323-6721

13:00　脇田久伸(懇談会長)：挨拶
13:10 　早川慎二郎 (広大)：X線検出のイントロダクションと放射光X線検出
13:30 　河合潤 (京大)：比例計数管
13:50　寺田慎一 (エックスブリッジ)：各種半導体検出器－その特徴と使い分け
14:30　休憩
14:50　谷口一雄（テクノエックス）：検出器信号の最近の処理技術
15:30　中江保一 (京大)：自作DSPプログラム
15:50　村岡弘一 (テクノエックス）：新型SDD検出器を用いたX線分析装置
16:30 　池田重良：まとめ
16:40 　テクノエックス見学(〒533-0033大阪市東淀川区東中島5丁目18番20 TEL:
06-6323- 1100)
17:30 　懇親会　(大阪ガーデンパレス)

● 懇親会は17:30から大阪ガーデンパレスで行います．X線検出器に関してさらに議論を深める予定です．バス送迎あり．出席希望者は、京都大学河合先生にご連絡をお願いします。TEL：075-753-5442，　FAX：075-753-5436、e-mail jun.kawai@materials.mbox.media.kyoto-u.ac.jp
● 講演会終了後，テクノエックス見学を行います．同業他社の見学歓迎します．
● 懇親会参加費：3000円
● 例会参加申込締切：2011年1月20日(木)

［なお例会のみ参加の方は参加申込なしで当日直接会場にこられてもかまいません］

本年の浅田賞が決まりました。「ぶんせき」誌2010年９月号に掲載予定の辻先生の記事を以下に転載いたします。受賞される栗崎さん、本当におめでとうございます。１０月の広島でのX線分析討論会では受賞講演も予定されているということです。

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日本分析化学会X線分析研究懇談会では、元豊橋技術科学大学教授の浅田榮一先生（1924-　2005）のご業績を記念し、X線分析分野で優秀な業績をあげた若手研究者を表彰するための賞（浅田賞）を設けている。X線分析討論会の発表者、「X線分析の進歩」誌の論文発表者、X線分析研究懇談会例会発表者など、X線分析研究懇談会が主催する場での研究発表者が授賞の対象となる。
　第5回にあたる2010年度の浅田賞は、栗崎敏氏（福岡大学理学部助教）に贈られることになった。受賞研究課題は「X線吸収スペクトル測定装置の開発と各種金属イオンおよび金属錯体の溶存構造解析」である。授賞式と受賞講演は第46回X線分析討論会（10月22日・23日、広島県情報プラザ）で行われる予定である。栗崎氏への授賞理由は、以下の通りである。
　栗崎敏氏は2009年11月の第45 回X 線分析討論会において「軟X線吸収分光スペクトル測定用生体試料測定システムを用いた水溶液中の軽元素イオンの溶存構造解析」に関する口頭発表をされ、「X線分析の進歩」第41集に「軟X線分光スペクトル測定装置用生体試料測定システムの設計・開発・性能評価」の題目でその成果の一部を報告された。金属イオンや金属錯体は化学工業や生命現象において本質的な役割を演じており、溶液中の金属イオンや金属錯体の溶存構造を決定することは、金属錯体の性質や反応性を明らかにする上で非常に重要である。一般に、金属錯体の構造は固体状態で単結晶構造解析などを用いて多くの研究が行われているが、溶液中の金属錯体は種々の条件により複数の化学種として存在するため、その構造を決定することは困難である。栗崎氏はこれまで、X線吸収分光法を用いた各種金属錯体の溶存構造解析に関する研究に取り組み、独自に合成した種々の大環状ポリアミン配位子を用いた銅(II)錯体の溶存構造を明らかにされた。さらに、実験室でリチウム等の軽元素の超軟X線分光スペクトルを測定可能な装置を開発し放射光施設並みの精度でXANESスペクトルを得ることが可能であることを実証された。近年は佐賀県に建設された九州シンクロトロン光研究センターの軟Ｘ線ビームラインBL-12の建設立ち上げにも参加され、このビームラインに接続可能な溶液試料用の軟Ｘ線分光システムの設計と試作を行われた。特にユニークな点は大気圧下で軽元素に対するＸ線吸収スペクトル測定が可能な点であり、今後の生体試料への応用も期待される。以上のように、これまでの栗崎氏の研究業績はX線分光分析の分野に大きく貢献するものであり、今後の発展が大いに期待される。
　なお、浅田榮一先生のご業績に関心のある読者は、「X線分析の進歩」第37集（アグネ技術センター、2006年3月発行）の1～7ページを参照されたい。
（大阪市立大学大学院工学研究科　辻　幸一）

―講演募集―

主催　(社)日本分析化学会 Ｘ線分析研究懇談会
協賛　(社)日本化学会、日本鉄鋼協会、その他

会　期　2010年10月22日（金）・23日（土）　　　　　
会　場　広島県情報プラザ　多目的ホール
[730-0052　広島市中区千田町３丁目７－４７，交通：JR広島駅（南口）より市内電車、紙屋町経由広島港行（１番）広電本社前下車　徒歩７分]
(交通の詳細は http://www.hiwave.or.jp/kikou/akusesu.htm#1 を参照)

討論主題（申込書に主題番号を明記）
（1）Ｘ線分析の材料解析への応用
（2）Ｘ線イメージングおよび顕微分析
（3）Ｘ線検出器の開発と新規分析法への展開
（4）Ｘ線吸収分光法とその応用
（5）表面分析（XPS, TXRF）
（6）その他

講演申込要項 1．講演内容は未発表のものに限ります。
2．依頼講演に加え、口頭発表とポスター発表を受け付けます。口頭発表では討論主題ごとのセッションをつくる予定ですので、申し込みにあたっては主題番号を明記して下さい。ただし、ポスター発表に変更していただく場合もありますので、ご了承ください。
3．口頭発表は1講演20分(討論5分を含む)の予定です。液晶プロジェクタ( Windowsパソコンを用意します)での発表を基本とします。
4．申込講演の採否及びブログラム編成は実行委員会に一任願います。
5．講演者は後日参加登録してください。依頼講演者も参加登録料をお支払いいただきます(参加登録料：一般予約4,500円，一般当日6,000円，学生2,000円，ミキサー1,000円)。

ミキサー 　　　 10月 22日（金） 　広島県情報プラザ1Fレストラン　マルコポーロ（予定）
講演申込締切日　 7月23日(金)【必着】
講演要旨締切日　 9月24日(金)【必着】
予約登録締切日　10月 8日(金)【必着】

講演申込方法　下記ホームページにアクセスの上、申込用紙に発表題目等の必要事項を記入し、Eメールにて送信して下さい（やむを得ない場合は申込用紙のFAXも可）。
詳細および最新情報は以下のホームページを御覧下さい。
http://home.hiroshima-u.ac.jp/hayakawa/X46/index.html

講演申込先・要旨原稿送付先　
　〒739-8527　東広島市鏡山1-4-1　広島大学大学院工学研究科　早川　慎二郎
　　電話：082-424-7609，E-mail： hayakawa@hiroshima-u.ac.jp
〒141-0031　東京都品川区西五反田1-26-2五反田サンハイツ 304号
社団法人日本分析化学会 Ｘ線分析研究懇会
電話：03-3490-3351，FAX：03-3490-3572，E-mail： hm_tanaka@jsac.or.jp

中井先生のご依頼により、第１７回講習会の案内を掲載いたします。
申込書はこちらです。
ワード, PDF

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第1７回X線分析講習会
蛍光X線分析の実際 （第6回）
―環境試料中の有害元素の迅速分析法、RoHS/ELV指令への対応
主催　日本分析化学会X線分析研究懇談会
共催　東京理科大学グリーン＆セーフティ研究センター
協賛　日本分析化学会、日本化学会、電気化学会、応用物理学会、日本結晶学会、日本セラミックス協会、環境科学会
会期　７月5日(月）～ ７日（水）9時－17時半
会場　東京理科大学記念講堂、大会議室　1号館17階
　　(東京都新宿区神楽坂1-3　 TEL: 03-3260-4271)
　　　会場地図URL: http://www.tus.ac.jp/info/access/gmap/kag_gmap.html
　　　[交通]　JR、地下鉄飯田橋駅より徒歩4分
　　　 JR飯田橋駅の神楽坂方面出口から見える17階建ての建物の17階です：
　　　最寄り駅　　JR飯田橋駅西口（市ヶ谷寄り）
　　　　　　地下鉄飯田橋駅　B3出口（東京理科大出口）有楽町線、 南北線、 東西線、 大江戸線
　　　　 　 地下鉄は有楽町線、南北線が一番便利で、東西線はさらに5分くらい歩きます
参加申込締切 　定員 (講義　150名　実習　64名)　　先着順受付　締切：　6月28日（必着）
　ホームページ: http://www.nims.go.jp/xray/xbun/index.htm
本講習会の特徴　
1. WEEE/RoHS/ELV関連物質や土壌や食品中の有害微量元素の迅速非破壊分析法として脚光をあびている蛍光X線分析法を理解することができます。また、土砂類中の全ヒ素と全鉛の定量法として、EDXによる蛍光X線分析がJIS K 0470として制定されており、本講習会でその分析技術が学べます。
2. 蛍光X線分析におけるブラックボックスの徹底理解をめざします。
3. 講師は各装置メーカーの方が多く、実践的なノウハウが学べます。
4. 蛍光光X線分析の全くの初心者の方からワンランクアップをめざしたい人までを対象としています。
5. 各社の卓上型蛍光X線分析装置が勢揃いし、実際の分析の様子を見ることができ、詳しい説明も聞けるので、これから装置の購入を考えている方にも絶好の機会となります。ハンドヘルド分析装置の実習もあります。
6. 蛍光X線分析の装置、試料、アプリケーションなどに関して、日頃疑問に思っていることについての様々なご質問に各メーカーの方が実際の装置を前に丁寧にお答えします。
7. SEMやTEMに付属しているEDS分析装置を微小部元素分析装置として活用する方法がわかります。
8. デモ見学および実習により講義で学んだことをさらに確実な知識として身につけることができます。
実習１では、蛍光X線分析の定量法として広く利用されているFP（ファンダメンタルパラメーター）法の
徹底理解をめざします。
実習2では、各社の誇る特徴的な装置を使った様々な試料の蛍光X線分析法を実習します。

第45回X線分析討論会のプログラムが決まりました。

参加申し込み　WordファイルまたはPDFファイルにご記入のうえ、E-mailにて　hm_tanaka@jsac.or.jp　（CC.にて tsujilabo@a-chem.eng.osaka-cu.ac.jpへも同時に）ご送信、および、登録料を下記までご送金ください(予約申し込みは10月23日締切)。）事前参加申し込みは締め切りました。
当日参加の方は会場にて参加費（６０００円）を申し受けます
登録料：一般予約4,500円，一般当日6,000円，学生2,000円，ミキサー1,000円

展示申し込み　　Wordファイル>にご記入のうえ、E-mailにて　hm_tanaka@jsac.or.jp　（CC.にて tsujilabo@a-chem.eng.osaka-cu.ac.jpへも同時に）お申し込みください(10月28日締切)

ご講演なさる方　　アブストラクトのご提出をお忘れなく（9月30日締切）締め切りました

Ｘ線分析研究懇談会例会

主催　日本分析化学会X線分析研究懇談会

期日　平成21年9月26日（土）14：30～15：30

会場　北海道大学高等教育機能開発総合センター〔札幌市北区北17条西8丁目，
交通：JR札幌駅より地下鉄南北線で「北18条」駅下車，徒歩5分，またはJR札幌
駅北口から徒歩20分〕北海道大学ホームページ（交通案内）
http://www.hokudai.ac.jp/footer/ft_access.html

招待講演
１．X線を用いたセメント系材料解析の現状（北大院工）胡桃澤清文
２．偏光全反射蛍光XAFSによる表面化学種の三次元構造解析（北大触セ）朝倉清高

参加費　無料

問合先　〒770-8502 徳島市南常三島町1-1 徳島大学大学院ソシオ・アーツ・ア
ンド・サイエンス研究部　山本孝〔電話・FAX：088-656-7263，E-mail：
t-yamamo@ias.tokushima-u.ac.jp〕

第45回X線分析討論会は11月5－6日に大阪市立大学にて開催予定です。
現在、一般口頭発表、ポスター発表を募集しております。詳しくは添付の募集案内（PDFファイル）をご参照ください。一般講演の申込期日は7月22日となっております。添付の申込用紙（ワードファイル）に必要事項をご記入のうえ、期日までに下記の２つのアドレスへ同時送信でご提出ください。

日本分析化学会　事務局　田中：　hm_tanaka@jsac.or.jp
討論会実行委員　辻（研究室アドレス）：　tsujilabo@a-chem.eng.osaka-cu.ac.jp

なお、今年度のX線分析討論会では以下の4名の先生に依頼講演をお願いしております。

「X線吸収微細構造法による分子地球化学の発展」
高橋嘉夫 氏、 広島大学 大学院理学研究科

「陽電子消滅法を用いた材料解析　ー材料不良解析への応用ー」
上殿明良 氏、筑波大学 大学院数理物質科学研究科

「電池関連材料のX線分析」
野中敬正 氏、（株）豊田中央研究所　分析・計測部　ナノ解析研究室

「複合材料分析の文化遺産研究への応用」
井手亜里 氏、京都大学 大学院工学研究科

中井先生のご依頼により掲載いたします。

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■日本結晶学会講習会「粉末X線解析の実際」
Aコース「粉末X線回折法の実際」　追加情報
「粉末法の応用事例（7/13（月）16:30-17:30）」開催について

粉末法の各種応用事例、解析法などについて以下の通り講師が掲示したポスターの前でご説明します。講師による説明の時間は13日16:30-17:30の１時間ですが、ポスターは３日間掲示する予定です。本講習会受講生は自由に興味あるポスターの所にいらしてください。各講師がご説明し、質問等にお答えいたします。

◇掲示予定のポスターのタイトルと講師
1)定量分析の手法と測定のコツ　　紺谷貴之（(株)リガク）
2)回折ピーク形状解析による微構造の評価　　井田　隆（名工大）
3)2次元検出器を用いた微小部回折とアプリケーション　　山田　尚　（ブルカーAXS(株)）
4)自動検索による同定と近似構造の検索方法　　西郷　真理（(株)リガク）
5)ポリキャピラリー型平行光学系を用いたＸ線回折法とその応用　　関口晴男（㈱島津）
6)水酸アパタイトの構造精密化　　藤森宏高（山口大 院 理工）
7)造岩鉱物の結晶化学への応用事例　　赤坂正秀（島根大・理工）
8)熱電変換特性を示す層状炭化物の結晶構造解析　　福田功一郎（名工大）
9)]粉末結晶構造解析の概要と実例　　植草秀裕（東工大院理工）
10)有機化合物の粉末結晶構造解析　　橋爪大輔（理研基幹研）
11) VESTAを利用した結晶構造および電子密度の可視化事例 門馬綱一(物材機構NIMS)

第231回Ｘ線分析研究懇談会例会

主催　日本分析化学会Ｘ線分析研究懇談会
協賛　京都医療科学大学、同大学地域連携委員会

期日　平成21年10月3日（土）13：10～15：30
会場　京都医療科学大学本館5F多目的ホール
〒622-0041京都府南丹市園部町小山東町今北1-3　電話：0771-63-0066
交通　JR山陰本線園部駅下車徒歩5分（JR京都駅乗り換え約55分）
（京都駅12:06発－園部駅12:51着の快速が便利です。）
　　　　http://www.kyoto-msc.jp/index.phpをご参照下さい。

主題 「大気浄化技術：電池と触媒へのＸ線応用」
演題　1. リチウムイオン電池のXAFS解析-より高性能な電池を目指して-
（㈱豊田中央研究所）野中敬正
2. 環境にやさしい高性能三元触媒の実用化　　　 （㈱豊田中央研究所）長井康貴
3. 自動車排ガス浄化触媒の開発　　　　　　　　　　　　(㈱キャタラー)木村希夫

参加費　無料

申込先　京都医療科学大学 医療科学部　放射線技術学科岡本篤彦(okamoto@kyoto-msc.jp)　　　　電話（代表）：0771-63-0066

中井先生のご依頼により、研究会の案内を掲載します。

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SPring-8安全安心のための分析評価研究会（第１回)

SPring-8利用推進協議会　研究開発委員会

私たちは、日々の暮らし中で、国内産や外国産の農産物を食品として摂取していますが、一方で種々の食品偽装が明らかとなり、また食品への農薬類の混入事件など、社会を不安にさせる事件が発生しています。今回の研究会では、私たちの生活に密着した、主として食品類に関する安全安心のための分析評価について、最新の成果や話題紹介を企画いたしました。また、安全安心のための分析評価のSPring-8の利用についても紹介します。食品の産地推定に興味のある方を初め、これから蛍光X線分析や放射光を使ってみたい方など、多数の方々のご来聴を歓迎いたします。

記

主　題：　　　　食品類の安全安心のための分析評価
主　催：　　　　SPring-8利用推進協議会　研究開発委員会
共　催：　　　　東京理科大学グリーン光科学技術研究センター
（財）高輝度光科学研究センター(JASRI)
協　賛：　　　　日本分析化学会・表示・起源分析技術研究懇談会
日本分析化学会・X線分析研究懇談会
日本化学会
　　　　　　　　SPring-8利用者懇談会研究会環境科学研究会
PＦ懇談会マイクロビームX線分析応用UG
日　時： 　　 2009年７月７日（火）　　
13:00～17:45（研究会）　
17:50～19:00（技術交流会）
会　場：　　　　東京理科大学　１号館　17階　
研究会：記念講堂　　
技術交流会：大会議室
　　　　　　　　（アクセス）　http://www.tus.ac.jp/info/access/kagcamp.html

第45回Ｘ線分析討論会
―講演募集―

主催 (社)日本分析化学会 Ｘ線分析研究懇談会
協賛 (社)日本化学会ほか
会 期 2009年11月5日（木）・6日（金）
会 場 大阪市立大学 杉本キャンパス 学術情報総合センター
[大阪市住吉区杉本3-3-138，交通：JR阪和線杉本町駅より徒歩 5分, もしくは大阪市営地下鉄御堂筋線あびこ駅より徒歩20分またはタクシーにて5分]
(交通の詳細は http://www.osaka-cu.ac.jp/info/commons/access.html を参照)

討論主題（申込書に主題番号を明記）
（1）Ｘ線吸収分光および軟Ｘ線分析
（2）Ｘ線元素イメージングおよび関連技術
（3）表面Ｘ線分析 (EPMA, XPS, TXRFなど)
（4）Ｘ線・放射線分析による材料不良解析
（5）その他、Ｘ線を利用した分析一般（鑑識X線分析、環境X線分析なども含む）

講演申込要項
1．講演内容は未発表のものに限ります。
2．依頼講演に加え、口頭発表とポスター発表を受け付けます。口頭発表では討論主題ごとのセッションをつくる予定ですので、申し込みにあたっては主題番号を明記して下さい。ただし、ポスター発表に変更していただく場合もありますので、ご了承ください。
3．依頼講演は1講演40分（討論5分を含む）、口頭発表は1講演20分(討論5分を含む)の予定です。液晶プロジェクタ( Windowsパソコンを用意します)での発表を基本とします。
4．申込講演の採否及びブログラム編成は実行委員会に一任願います。
5．講演者は後日参加登録してください。依頼講演者も参加登録料をお支払いいただきます(参加登録料：一般予約4,500円，一般当日6,000円，学生2,000円，ミキサー1,000円)。

ミキサー 11月 5日（木） 大阪市立大学 学術情報総合センター
講演申込締切日 7月22日(水)【必着】
講演要旨締切日 9月30日(水)【必着】
予約登録締切日 10月28日(水)【必着】

講演申込方法
申込用紙 (右クリック、ファイルに保存)に発表題目等の必要事項を記入し、Eメールにて送信して下さい（やむを得ない場合は申込用紙のFAXも可）。
講演要旨は，当日受付で配付いたします（ただし座長には事前に郵送します）。

講演申込先・要旨原稿送付先
〒141-0031 東京都品川区西五反田1-26-2五反田サンハイツ 304号
社団法人日本分析化学会 Ｘ線分析研究懇会
〔電話：03-3490-3351，FAX：03-3490-3572，E-mail：hm_tanaka@jsac.or.jpおよび
CC.にて tsujilabo@a-chem.eng.osaka-cu.ac.jpへも同時にお送りください〕
問合せ先 辻 幸一 (電話・FAX：06-6605-3080，E-mail： tsuji@a-chem.eng.osaka-cu.ac.jp )

5月につくば市内で開催予定の講習会の案内です。

第３回講習会「Ｘ線反射率法による薄膜・多層膜の解析」
http://www.nims.go.jp/xray/ref/TutorialXRR2009.htm

主催 (社)応用物理学会　埋もれた界面のＸ線・中性子解析研究会
（http://www.nims.go.jp/xray/ref/）
日時　2008年５月２２日（金）
場所 （独）物質・材料研究機構千現地区
（〒305-0047 茨城県つくば市千現 1-2-1 電話 029-859-2000）
　　http://www.nims.go.jp/jpn/visiting/tsukuba.html
　　最寄り駅　つくばエクスプレス線　つくば駅　南へ徒歩８分
　　http://www.mir.co.jp/

Ｘ線反射率法は、薄膜・多層膜の深さ方向の内部構造、具体的には、各層の膜厚、
密度、各界面のラフネス等を非破壊的に求めることができる解析技術です。本講
習会では、Ｘ線反射率法の経験豊富な専門家を講師陣に迎え、基礎から丁寧に解
説を行うとともに、シミュレーションやデータ解析の実習を少人数のグループに
て、きめ細かく行ないます。 休憩時間には「Ｘ線反射率相談デスク」を設け、
日頃の疑問に思っていること、質問したくてもなかなかできなかったことに、７
名の専門家がお答えします