tag:www.nims.go.jp,2009:/xray/xbun//2 2009-10-27T06:11:09Z Movable Type 3.33-ja tag:www.nims.go.jp,2009:/xray/xbun//2.108 2009-08-26T03:14:40Z 2009-10-27T06:11:09Z

第45回X線分析討論会のプログラムが決まりました。 参加申し込み　Wordファイ...

プログラムが決まりました。 参加申し込み　WordファイルまたはPDFファイルにご記入のうえ、E-mailにて　hm_tanaka@jsac.or.jp　（CC.にて tsujilabo@a-chem.eng.osaka-cu.ac.jpへも同時に）ご送信、および、登録料を下記までご送金ください(予約申し込みは10月23日締切)。）事前参加申し込みは締め切りました。 当日参加の方は会場にて参加費（６０００円）を申し受けます 登録料：一般予約4,500円，一般当日6,000円，学生2,000円，ミキサー1,000円 展示申し込み　　Wordファイル>にご記入のうえ、E-mailにて　hm_tanaka@jsac.or.jp　（CC.にて tsujilabo@a-chem.eng.osaka-cu.ac.jpへも同時に）お申し込みください(10月28日締切) ご講演なさる方　　アブストラクトのご提出をお忘れなく（9月30日締切）締め切りました ]]> 第1日（11月5日） 座長 中野 和彦 (9:00~10:20) 1. 超高感度ハンディー全反射蛍光X線分析装置の開発とその応用（京大院工）○国村伸祐・河合 潤 2. 微少量溶液サンプリングと全反射蛍光X線分析（阪市大院工）◯西田吉彦・宮垣祐志・辻 幸一 3. ピンポイント濃縮による高感度蛍光Ｘ線分析法の実試料への適用（堀場分析アプリケーションセ）○大野ひとみ・辻田幸右・坂東 篤・内原 博 4. 蛍光X線と散乱X線の理論強度を用いる1次フィルタの評価（島津製作所1・島津総合分析試験セ2）○小川理絵1・越智寛友1・西埜 誠1・市丸直人2・大和亮介2 休憩 (10:20~10:40) 座長 辻 幸一 (10:40~11:10) 依頼1. 陽電子消滅法を用いた材料解析－材料不良解析への応用－ (筑波大院数物) 上殿明良 座長 村岡 弘一 (11:10~12:10) 5. X線CT法による特殊構造材料の内部構造の解明（新日本石油）◯村田 潔・小西友弘・木原 勉・岩波睦修 6. 可搬型蛍光X線透視分析装置を用いた土壌・鉱物試料のX線イメージングと元素分析（産総研1・エックスレイプレシジョン2）○丸茂克美1・小野木有佳1・細川好則2・吉田靖彦2 7. 汚染土壌中の有害元素を現場分析可能な可搬型XRFと分析方法の検討（堀場製作所1・九大院農2）○辻田幸右1・横田佳洋1・駒谷慎太郎1・和田信一郎2 昼食 (12:10~13:30)・・・X線分析研究懇談会運営委員会 座長 村松 康司 (13:30~14:00) 依頼2. 複合材料分析の文化遺産研究への応用（京大院工）井手亜里 座長 保倉 明子 (14:00~14:40) 8. SEM-EDSを用いた重鉱物同定による土器の産地推定（東理大理）○鈴木裕子・黄 嵩凱・中井 泉 9. 大気マイクロPIXE分析システムを用いた生体内微量元素分布の可視化（原子力機構）○佐藤隆博・横山彰人・大久保猛・江夏昌志・山崎明義・石井保行・神谷富裕 休憩 (14:40~15:00) 座長 早川 慎二郎 (15:00~16:00) 10. 高空間分解能型共焦点三次元蛍光X線分析による表面近傍の非破壊深さ方向分析（阪市大院工1・JST-プラザ大阪2・堀場製作所3） ○中野和彦1, 2・大澤澄人3・坂東 篤3・駒谷慎太郎3・内原 博3・辻 幸一1 11. SEM-TES-EDSシステムによる微小粒子の2次元マッピング（東理大理1・エスアイアイ・ナノテクノロジー2）○小野有紀1・鈴木里奈1・李 青会1・中井 泉1・田中啓一2・中山 哲2 12. 南極域大気浮遊粒子状物質の蛍光X線分析（堀場製作所1・山口東京理科大2・国立極地研3）○青山朋樹1・浅野 比2・和田 誠3・菊池 正2 ポスター発表 (16:00~17:30) P-1 X線反射率法によるイオン液体水溶液に含まれるClの表面深さ方向分析 （立命館大1・JASRI2）○矢野陽子1・宇留賀朋哉2・谷田 肇2・豊川秀訓2・高垣昌史2・寺田靖子2・山田廣成1 P-2 シンクロトロン放射光と黒体放射の類似性のTsallisのエントロピーによる解析（京大院工1・デブレツエン大2）○弓削是貴1・河合潤1・中江保一1・佐々木宣治1・NAGY Agnes2 P-3 焦電結晶の小型高エネルギーX線源への応用（京大院工1・徳島大院SAS 2）○弘 栄介1・中江保一1・山本 孝2・河合 潤1 P-4 Ｘ線分光法を用いた鉄鋼スラグの化学状態分析（京大院工）○山本知央・宮内宏哉・河合潤 P-5 Microsoft Database Application in X-ray Reflectometry（Kyoto University）○Abbas Alshehabi・Jun Kawai P-6 放射光を利用したトバモライト生成過程のその場X線回折（旭化成基盤技研1・旭化成建材2）○ 綱嶋正通1・松野信也1・菊間 淳1・石川哲吏1・松井久仁雄2・小川晃博2 P-7 反応性スパッタ法で作製したTiN薄膜のN-KおよびTi-L2,3吸収分光（兵庫県大高度研1・兵庫県大院工2）○新部正人1・井上尚三2 P-8 プラズマエッチングしたGaN結晶のN-K吸収計測によるダメージ解析（兵庫県大高度研1・徳島大院工2・日亜化学3） ○新部正人1・前田佳恵1・川上烈生2・稲岡 武2・富永喜久雄2・向井孝志3 P-9 Calculation of diffuse scattering in quick X-ray reflectometry（AECL Chalk River Laboratories1・University of Tsukuba2・National Institute for Materials Science3）Krassimir Stoev1・ Vallerie Ann Innis Samson2,・Mari Mizusawa3・○Kenji Sakurai2,3 P-10 Strucural Analysis for Ultra-thin HFO2 Films Based On X-ray Methods（Industrial Technology Research Institute (ITRI)1・National Institute for Materials Science2）Wei-En Fu1・○Yong-Qing Chang1,2 ・Yi-Ching Chen1 P-11 偏光光学系装置とハンドヘルド装置による食品の蛍光X線分析と産地判別への応用（東理大理1・リガク2・東電大工3）○大高亜生子1・簗田陽子1・野上太郎2・保倉明子3・中井 泉1 P-12 放射光粉末回折法による科学捜査のための土壌データベースの開発 （東理大理1、高輝度光科学研セ2、産総研3）○黄 嵩凱1・阿部善也1・細木敬子1・鈴木裕子1、大坂恵一2・二宮利男2・中井 泉1・今井 登3 P-13 CK端軟X線吸収測定の光強度モニターに用いる金板の洗浄法と評価法（兵庫県大院工）○村松康司 P-14 全電子収量軟X線吸収分光法を用いたsp2/sp3炭素比分析の考察(2)； sp2系化合物間の全電子収量比（兵庫県大院工）○吉永朋代・村松康司 P-15 放射光軟X線分光法によるホウ素注入カーボンナノチューブの局所構造解析（兵庫県大院工1・東京都市大工2）○花房篤志1・村松康司1・鏑木 裕2・吉田 明2・菱山幸宥2 P-16 放射光軟X線分光法によるゴムの電子・化学状態分析（兵庫県大院工1・東海カーボン2）○久保田雄基1・原田竜介2・村松康司1 P-17フラーレン重合体の放射光軟X線スペクトルと電子状態解析（兵庫県大院工1・名工大院工2）○片山哲也1・村松康司1・川崎晋司2 P-18 放射光軟X線吸収分光法による酸化カーボンブラックの酸化状態分析 （兵庫県大院工1・御国色素2）○井上夏樹1・青山幸裕2・村松康司1 P-19 ハンディタイプ蛍光Ｘ線分析装置を用いた水溶液中微量重金属の簡易分析～トバモライトを捕集剤とした実試料の分析～（兵庫県大院工1・リガク2）○井澤良太１・西岡 洋１・村松康司１・野上太郎２ P-20 ニュースバルにおける産業用分析ビームライン(BL-5)の供用開始について（シンクロトロンアナリシスLLC1・KEK-PF2・物材研3・立命館SRセ4・兵庫県大5）○長谷川孝行1・上村雅治1・鶴井孝文1・清水政義1・雨宮健太2・福島 整3・太田俊明4・元山宗之5・神田一浩5 P-21 立方晶窒化ホウ素薄膜の構造評価（兵庫県工業技術セ1・神港精機2）○山下 満1・野間正男2 P-22 シリコンドリフト検出器のシンチレータ受光素子への応用（東北大多元研1・㈶医療機器セ2・東北大NiCHe3）○前尾修司1,2・柳田健之1・横田有為1・吉川 彰1,3 P-23 リートベルト法を用いたチタニア参照触媒の定量分析（名古屋市工研）○野々部恵美子・川瀬 聡 P-24 焼却灰中結晶相のRietveld解析 -結晶相濃度の月間変動について-（リガクX線研1・明大院理工2）○大渕敦司1・紺谷貴之1・中村利廣2 P-25 都市ごみ焼却飛灰の粒度別分析（明大院理工1・リガクX線研2）○平等幸太1・大渕敦司2・中村利廣1 P-26 顕微蛍光X線分析装置による宝石サンゴ中Sr濃度分布の測定（広島大院工1・高知大総研セ2・金沢大院自然科学3） ○井澤一哉1・早川慎二郎1・岩崎 望2・長谷川浩3・廣川 健1 P-27 可搬型高感度X線回折装置による微量結晶相分析（明大院理工1・リガク2）○旭 智治1・外岡翔吾1・藤縄 剛2・中村利廣1 P-28 微量金属の溶出を制御したシリカゲルの蛍光X線分析（明大院理工）○柴田康博・北野 大・中村利廣 P-29 二酸化マンガンに吸着したテルルの状態解析；XPS, XAFSを用いた表面分析（九大院理1・徳島大総合2）○勝山ゆか1・沼子千弥2・岡上吉広1・横山拓史1 P-30 実験室系X線を用いた粉末未知構造解析（リガクX線研）○根津暁充・紺谷貴之・佐々木明登 P-31 X線光電子分光法による鉄鋼スラグ中カルシウムの状態分析（東京都市大工）○江場宏美・平井昭司 P-32 金属蓄積植物ホンモンジゴケにおける重金属元素マッピングと化学形態分析（東理大理1・東電大工2・理研NRC3 ・理研PSC４) ○吉井雄一1・保倉明子2・中井 泉1・阿部知子 3・井藤賀操4・榊原 均4 P-33 ポータブルX線分析装置による物質史の解明～古代中近東における青色着色剤の変 遷～（東理大理1・古代エジプト美術館2・MIHO MUSEUM3）○阿部善也1・菊川 匡1,2・K. タンタラカーン1・東 容子3・中井 泉1 P-34 軟X線吸収分光法を用いたリン化合物を組み込んだ酸化チタン中のリンの状態分析（福岡大理1・福岡大高機能研2）○岩瀬元希1・山田啓二2・栗崎 敏1・脇田久伸1,2 P-35 ポリキャピラリー光学素子のX線エネルギーフィルターリング特性を利用したX線化学イメージング（阪市大院工）◯山口 情・辻 幸一 P-36 玩具表面層の微小部蛍光X線分析とその溶出プロセスの全反射蛍光X線分析（阪市大院工1・産総研2・JST-プラザ大阪3）○今西由紀子1・西田吉彦1・粟根 徹2・中野和彦1,3・辻 幸一1 P-37 複合型X線光学素子による微小部蛍光X線分析装置の改良（阪市大院工1・JST-プラザ大阪2・堀場製作所3）○中町和男1・中野和彦1,2・大澤澄人3・駒谷慎太郎3・坂東 篤3・内原 博3 ・辻 幸一1 P-38 LEBRA-PXRによるX線吸収端分析とXAFS実験の最近の成果（日大松戸歯1・日大理工2・日大総合3）○寒河江登志朗1・沼田靖子1・早川恭史2・高橋由美子2・佐藤 勇3 P-39 X線導波路の理論解析（京大院工）○森川悠佑・国村伸祐・弓削是貴・河合 潤 P-40 X線回折線幅を用いた結晶子サイズの異なる酸化チタン粉体混合物の評価 （京大院工1・京都府中小技セ2） ○宮内宏哉1,2・北垣 寛2・中村知彦2・中西貞博2・河合 潤1 P-41 XANESによる絶縁油と銅の反応解析（三菱電機）○上原 康・瓦井久勝・河瀬和雅 受賞式（浅田賞、Ｘ線分析研究懇談会特別賞）(17:30~17:40) 座長 林 久史 (17:40~18:10) 特別講演①－浅田賞受賞講演 「微小部X線分析法のファイトレメディエーション用植物への応用」（東電大工）保倉明子 座長 池田重良 (18:10~18:25) 特別講演②－Ｘ線分析研究懇談会特別賞受賞講演 「1950年代の、（私の）、Ｘ線研究」白岩俊男 ミキサー (18:30~) (学術情報総合センター 10F) 第2日（11月6日） 座長 栗崎 敏・前尾 修司 (9:00~10:40) 13. 軟X線吸収分光スペクトル測定用生体試料測定システムを用いた水溶液中の軽元素イオンの溶存構造解析（福岡大理）○栗崎 敏・迫川泰幸・脇田久伸 14. 放射光軟X線分光法による遷移金属炭化物の精密電子・化学状態解析（兵庫県大院工） ○下村健太・村松康司 15. 全電子収量軟X線吸収分光法を用いた炭素表面窒素の定量・状態分析技術；標準試料の選定と検量線の作成（兵庫県大院工）○天野泰至・村松康司 16. 実充電及び塩酸処理によりLiを脱離させたLNO(LiNi0.82Co0.15M0.03O2)のXAFS構造解析（広島大院工1・住友金属鉱山2・広島大放射光セ3）○窪内裕太1・早川慎二郎1・大中道俊亮2 ・林徹太郎2・生天目博文3・廣川 健1 17. 硫黄XAFSスペクトルによる亜硫酸種イオン(HSO3-, SO32-)の定量分析 （広島大院工1・広島大工2・広島大放射光セ3）◯中村秀昭1・早川慎二郎1・島本達也2・生天目博文3・廣川 健1 休憩 (10:40~11:00) 座長 桜井健次 (11:00~11:30) 依頼3. XAFS法による分子地球化学の発展（広島大院理）高橋嘉夫 座長 沼子 千弥 (11:30~12:30) 18. 状態選別X線吸収分光の新しいプローブ：ランタノイドLγ4線の化学効果 （日女大理1・JASRI/SPring-82）○林 久史1・竹原由貴1・片桐美奈子1・水牧仁一郎2・河村直己2 19. セレン化物、テルル化物に吸着した金(III)錯イオンの状態分析（九大院理）○赤松美里・岡上吉広・横山拓史 20. High Energy Resolution Silicon Drift Detectors with Improved Thermal Budget（KETEK）○A. Pahlke・T. Eggert・R. Fojt・L. Höllt・J. Knobloch・S. Pahlke・O. Scheid・R. Stötter・F. Wiest 昼食 (12:30~13:30) 座長 渡部 孝 (13:30~14:00) 依頼4. 電池関連材料のX線分析（豊田中研）野中敬正 座長 文珠四郎 秀昭 (14:00~14:40) 21. X線光電子分光深さ方向分析用帯電液滴エッチング銃の開発（日本電子1・JST2・ 山梨大クリーンエネルギー研究セ3）○飯島善時1・成瀬幹夫1・境 悠治2・平岡賢三3 22. スペクトルデータベースを用いた電子分光法による定性・定量分析の標準化に際しての技術的問題点とその対応策（産総研）○福本夏生・城 昌利・新 重光 休憩 (14:40~15:00) 座長 上原 康 (15:00~16:20) 23. 研究用エックス線装置における漏洩放射線の二次元画像化の検討（東大RIセ1・東大院工2・東大環安本部3・明大理工4）○小池裕也1・小坂尚樹1・廣田昌大2・林恵利子3・木村圭志3・野川憲夫1・中村利廣4 24. 極微構造の元素イメージングのための二光子照射による内殻励起光イオン化制御（物材研1・マンチェスター大2・ダイヤモンド光源3）○石井真史1・B. Towlson2・E. Whittaker2・S. S. Dhesi3・B. Hamilton2 25. デジタル録音とソフトウェアDSPによるX線計測（京大院工）○中江保一・河合 潤 26. X線高速/高分解能イメージングのためのキャピラリーコンデンサ(テーパ管)の開発（堀場製作所1・物材研2・JASRI/SPring-83）大澤澄人1・○松永大輔1・青山朋樹1・駒谷慎太郎1・鈴木芳生2・竹内晃久2・寺田靖子2・中沢弘基3 tag:www.nims.go.jp,2009:/xray/xbun//2.107 2009-08-17T06:05:26Z 2009-08-17T06:06:35Z

Ｘ線分析研究懇談会例会 主催　日本分析化学会X線分析研究懇談会 期日　平成21年...

http://www.hokudai.ac.jp/footer/ft_access.html 招待講演 １．X線を用いたセメント系材料解析の現状（北大院工）胡桃澤清文 ２．偏光全反射蛍光XAFSによる表面化学種の三次元構造解析（北大触セ）朝倉清高 参加費　無料 問合先　〒770-8502 徳島市南常三島町1-1 徳島大学大学院ソシオ・アーツ・ア ンド・サイエンス研究部　山本孝〔電話・FAX：088-656-7263，E-mail： t-yamamo@ias.tokushima-u.ac.jp〕 ]]> tag:www.nims.go.jp,2009:/xray/xbun//2.106 2009-07-10T08:05:06Z 2009-07-18T08:07:41Z

第45回X線分析討論会は11月5－6日に大阪市立大学にて開催予定です。 現在、一...

hm_tanaka@jsac.or.jp 討論会実行委員　辻（研究室アドレス）：　tsujilabo@a-chem.eng.osaka-cu.ac.jp なお、今年度のX線分析討論会では以下の4名の先生に依頼講演をお願いしております。 「X線吸収微細構造法による分子地球化学の発展」 高橋嘉夫 氏、 広島大学 大学院理学研究科 「陽電子消滅法を用いた材料解析　ー材料不良解析への応用ー」 上殿明良 氏、筑波大学 大学院数理物質科学研究科 「電池関連材料のX線分析」 野中敬正 氏、（株）豊田中央研究所　分析・計測部　ナノ解析研究室 「複合材料分析の文化遺産研究への応用」 井手亜里 氏、京都大学 大学院工学研究科]]> tag:www.nims.go.jp,2009:/xray/xbun//2.101 2009-06-22T14:31:13Z 2009-06-22T14:32:24Z

中井先生のご依頼により掲載いたします。 --------------------...

中井先生のご依頼により掲載いたします。 --------------------------------------------------------------------------------- ■日本結晶学会講習会「粉末X線解析の実際」 Aコース「粉末X線回折法の実際」　追加情報 「粉末法の応用事例（7/13（月）16:30-17:30）」開催について 粉末法の各種応用事例、解析法などについて以下の通り講師が掲示したポスターの前でご説明します。講師による説明の時間は13日16:30-17:30の１時間ですが、ポスターは３日間掲示する予定です。本講習会受講生は自由に興味あるポスターの所にいらしてください。各講師がご説明し、質問等にお答えいたします。 ◇掲示予定のポスターのタイトルと講師 1)定量分析の手法と測定のコツ　　紺谷貴之（(株)リガク） 2)回折ピーク形状解析による微構造の評価　　井田　隆（名工大） 3)2次元検出器を用いた微小部回折とアプリケーション　　山田　尚　（ブルカーAXS(株)） 4)自動検索による同定と近似構造の検索方法　　西郷　真理（(株)リガク） 5)ポリキャピラリー型平行光学系を用いたＸ線回折法とその応用　　関口晴男（㈱島津） 6)水酸アパタイトの構造精密化　　藤森宏高（山口大 院 理工） 7)造岩鉱物の結晶化学への応用事例　　赤坂正秀（島根大・理工） 8)熱電変換特性を示す層状炭化物の結晶構造解析　　福田功一郎（名工大） 9)]粉末結晶構造解析の概要と実例　　植草秀裕（東工大院理工） 10)有機化合物の粉末結晶構造解析　　橋爪大輔（理研基幹研） 11) VESTAを利用した結晶構造および電子密度の可視化事例 門馬綱一(物材機構NIMS) tag:www.nims.go.jp,2009:/xray/xbun//2.100 2009-06-19T11:31:42Z 2009-06-19T11:33:05Z

第231回Ｘ線分析研究懇談会例会 主催　日本分析化学会Ｘ線分析研究懇談会 協賛　...

http://www.kyoto-msc.jp/index.phpをご参照下さい。 主題 「大気浄化技術：電池と触媒へのＸ線応用」 演題　1. リチウムイオン電池のXAFS解析-より高性能な電池を目指して- （㈱豊田中央研究所）野中敬正 2. 環境にやさしい高性能三元触媒の実用化　　　 （㈱豊田中央研究所）長井康貴 3. 自動車排ガス浄化触媒の開発　　　　　　　　　　　　(㈱キャタラー)木村希夫 参加費　無料 申込先　京都医療科学大学 医療科学部　放射線技術学科岡本篤彦(okamoto@kyoto-msc.jp)　　　　電話（代表）：0771-63-0066]]> tag:www.nims.go.jp,2009:/xray/xbun//2.99 2009-06-05T14:55:07Z 2009-06-05T15:05:53Z

中井先生のご依頼により、研究会の案内を掲載します。 --------------...

http://www.tus.ac.jp/info/access/kagcamp.html]]> http://10.10.27.135/event/anzen_090707_form.html以下の必要事項を記入してe-mail又はFAXでお申込みください。 （参加費無料。但し、定員100名になり次第締切とさせて頂きます。） 件名：「安全安心のための分析評価研究会」　を明記下さい。 ① 氏名 ② フリガナ ③ 所属 ④ 職名 ⑤ 連絡先（住所、e-mail、電話） ⑥ 技術交流会［参加費：1000円］に（ 参加する or 参加しない ） 【申込み先】e-mail：anzen@spring8.or.jp　　 FAX　0791-58-0988 問合せ先：　　（財）高輝度光科学研究センター　　産業利用推進室 　 永井あゆみ（ayumi_nagai@spring8.or.jp） 　　　　　　　　　　　　　　　　　　二宮利男 （ninomiya@spring8.or.jp） 　〒679-5198　兵庫県佐用郡佐用町光都1丁目1-1 　TEL　0791-58-0924、FAX　0791-58-0988 　SPring-8金属材料評価研究会（第１回） http://www.spring8.or.jp/ext/ja/iuss/htm/text/06file/safety_security_anal_eval-1.htm SPring-8利用推進協議会　 http://www.spring8.or.jp/ext/ja/iuss/]]> tag:www.nims.go.jp,2009:/xray/xbun//2.98 2009-05-08T10:18:53Z 2009-05-08T10:27:57Z

第45回Ｘ線分析討論会 ―講演募集― 主催 (社)日本分析化学会 Ｘ線分析研究懇...

http://www.osaka-cu.ac.jp/info/commons/access.html を参照) 討論主題（申込書に主題番号を明記） （1）Ｘ線吸収分光および軟Ｘ線分析 （2）Ｘ線元素イメージングおよび関連技術 （3）表面Ｘ線分析 (EPMA, XPS, TXRFなど) （4）Ｘ線・放射線分析による材料不良解析 （5）その他、Ｘ線を利用した分析一般（鑑識X線分析、環境X線分析なども含む） 講演申込要項 1．講演内容は未発表のものに限ります。 2．依頼講演に加え、口頭発表とポスター発表を受け付けます。口頭発表では討論主題ごとのセッションをつくる予定ですので、申し込みにあたっては主題番号を明記して下さい。ただし、ポスター発表に変更していただく場合もありますので、ご了承ください。 3．依頼講演は1講演40分（討論5分を含む）、口頭発表は1講演20分(討論5分を含む)の予定です。液晶プロジェクタ( Windowsパソコンを用意します)での発表を基本とします。 4．申込講演の採否及びブログラム編成は実行委員会に一任願います。 5．講演者は後日参加登録してください。依頼講演者も参加登録料をお支払いいただきます(参加登録料：一般予約4,500円，一般当日6,000円，学生2,000円，ミキサー1,000円)。 ミキサー 11月 5日（木） 大阪市立大学 学術情報総合センター 講演申込締切日 7月22日(水)【必着】 講演要旨締切日 9月30日(水)【必着】 予約登録締切日 10月28日(水)【必着】 講演申込方法 申込用紙 (右クリック、ファイルに保存)に発表題目等の必要事項を記入し、Eメールにて送信して下さい（やむを得ない場合は申込用紙のFAXも可）。 講演要旨は，当日受付で配付いたします（ただし座長には事前に郵送します）。 講演申込先・要旨原稿送付先 〒141-0031 東京都品川区西五反田1-26-2五反田サンハイツ 304号 社団法人日本分析化学会 Ｘ線分析研究懇会 〔電話：03-3490-3351，FAX：03-3490-3572，E-mail：hm_tanaka@jsac.or.jpおよび CC.にて tsujilabo@a-chem.eng.osaka-cu.ac.jpへも同時にお送りください〕 問合せ先 辻 幸一 (電話・FAX：06-6605-3080，E-mail： tsuji@a-chem.eng.osaka-cu.ac.jp )]]> tag:www.nims.go.jp,2009:/xray/xbun//2.97 2009-04-30T06:14:25Z 2009-04-30T06:15:54Z

5月につくば市内で開催予定の講習会の案内です。 第３回講習会「Ｘ線反射率法による...

http://www.nims.go.jp/xray/ref/TutorialXRR2009.htm 主催 (社)応用物理学会　埋もれた界面のＸ線・中性子解析研究会 （http://www.nims.go.jp/xray/ref/） 日時　2008年５月２２日（金） 場所 （独）物質・材料研究機構千現地区 （〒305-0047 茨城県つくば市千現 1-2-1 電話 029-859-2000） 　　http://www.nims.go.jp/jpn/visiting/tsukuba.html 　　最寄り駅　つくばエクスプレス線　つくば駅　南へ徒歩８分 　　http://www.mir.co.jp/ Ｘ線反射率法は、薄膜・多層膜の深さ方向の内部構造、具体的には、各層の膜厚、 密度、各界面のラフネス等を非破壊的に求めることができる解析技術です。本講 習会では、Ｘ線反射率法の経験豊富な専門家を講師陣に迎え、基礎から丁寧に解 説を行うとともに、シミュレーションやデータ解析の実習を少人数のグループに て、きめ細かく行ないます。 休憩時間には「Ｘ線反射率相談デスク」を設け、 日頃の疑問に思っていること、質問したくてもなかなかできなかったことに、７ 名の専門家がお答えします ]]> カリキュラム 08:30　　　　　　開場、受付開始 09:00 -09:20　　Ｘ線反射率法とは　　　　　　　桜井健次（物材機構） 09:20 -10:10　　Ｘ線反射率法の基礎　　　　　 淡路直樹（富士通） 10:10 -11:00　　Ｘ線反射率 の測定装置・方法　　表和彦（リガク） 11:00 -11:20　　休憩 　（Ｘ線反射率相談デスク、７箇所設置） 11:20 -12:00　　Ｘ線反射率法 の応用① 　　　（ご希望の分野により２グループに分かれて実施） 　　　　半導体・磁性体薄膜への応用　川村朋晃（日亜化学）、上田和浩（日立） 　　　　有機薄膜への応用　　　　　　 林好一（東北大）、矢野陽子（立命館） 12:00 -13:00　　昼食休憩 　（Ｘ線反射率相談デスク、７箇所設置） 13:00 -13:40　　Ｘ線反射率法の応用②　 　　　（２グループに分かれて、午前のつづき） 13:50 -16:30　　Ｘ線反射率法のデータ解析実習 A. 経験者コース 　(担当　表和彦　８名程度まで) （検討したいデータと ご自分のＰＣを必ずお持ちください。皆様の解析上の疑 問点や不明点を個別指導致します 。このコースは、ご自分のデータをご自分で 解析されたい方のみ参加できます。） 　　　　　　　　 B. 解析体験コース (担当　淡路直樹　１６名程度まで) （ご自分のＰＣをお持ちください。解析体験用の測定データをお配りし、実際の 解析を体験して頂きます。もし既にお使いのソフトウエアがあればお持ちくださ い。そのソフトウエアでの解析を体験できます。もしお持ちでない場合は、こち らで用意したものをお使いください。） 　　　　　　　　 C. 初学者コース （担当　桜井健次　１６名程度まで） （講師が皆様の前でソフトウエアを使い、２～３の事例をもとに、解析の個々の 細かな手順や注意事項を丁寧に解説いたします。使用するデータ等の電子ファイ ルはＣコース受講者全員に配布します。一部の方には、実際のＰＣ上での操作も 体験していただきます。）　 X線反射率法の応用の講義は、半導体・磁性体薄膜、有機薄膜のいずれかをお選 びください。実習コースもA, B, C のなか からお選びいただきます。特にご希 望のない場合も、個別にお話をうかががい、ご相談の上、最適のコースを決めさ せて頂きます。 教材 「Ｘ線反射率法入門」（講談社、5775円）を参考書として配布するほか （ご希 望があれば、着払い宅急便にて事前送付も致します）、午前・午後のすべての講 義に完全対応したレジュメを用意いたします。 相談 休憩時間（合計80分）には、Ｘ線反射率相談デスクを開設致します（７箇所）。 受講費 19,000 円　（「Ｘ線反射率法入門」 （講談社）を既にお持ちの方は５ ０００ 円引きの14,000円です） 定員　 ４０名（定員になり次第、締め切ります） 参加申込み 氏名（ふりがな）、所属、住所、TEL、FAX、e-mail、 応用分野（「半導体・磁 性体薄膜」または「有機薄膜」）と実習コース（A, B, C）のご希望をご連絡下 さい。折り返し受付の連絡と請求書の郵送をいたしますので、入金をお願いしま す。入金完了をもって、参加申込み完了となります。領収書は講習会当日に手渡 しになります。なお、いったん申し込まれた後、キャンセルされる場合も、いか なる理由であっても返金には応じかねますので、あらかじめご了承ください。 問い合わせ 独立行政法人物質・材料研究機構 量子ビームセンター 放射光解析グループ　 桜井健次 TEL 029-859-2821 FAX 029-859-2801 e-mail sakurai@yuhgiri.nims.go.jp 送金先口座 ジャパンネット銀行（銀行コード0033）、本店営業部（支店コード001） 普通3844666 ウモレタカイメン 水戸信用金庫　つくば支店（店番035） 普通0237487 ウモレタカイメンサクライケンジ 今後の予定 本講習会は、2009年11月～12月頃に、第4回講習会を計画しております。 第3回講習会参加者の皆様のご意見をうかがいながら、次のような方向で検討を 進めたい考えです。 ・開催地をつくばから東京都心部へ ・中級編の新設（第1～3回受講者の希望者対象） tag:www.nims.go.jp,2009:/xray/xbun//2.94 2009-04-13T16:39:51Z 2009-04-13T16:46:30Z

X線分析研究懇談会は、日本結晶学会の主催する講習会「粉末Ｘ線解析の実際」に共催団...

申込用紙に必要事項を記入の上、結晶学会宛E-mailまたはFaxにてお申込み下さい。 ◆申込先　〒169-0075 東京都新宿区高田馬場4-4 -19（株）国際文献印刷社内　日本結晶学会事務局　 　　　　電話(03)5389-6372　FAX(03)3368-2822　E-mail: crsj-xray@bunken.co.jp]]> tag:www.nims.go.jp,2009:/xray/xbun//2.88 2009-02-20T11:45:08Z 2009-02-20T11:47:37Z

デンバーX線会議はアメリカのコロラド州において毎年開催されるX線分析の国際会議で...

デンバーX線会議はアメリカのコロラド州において毎年開催されるX線分析の国際会議で、蛍光X線およびX線回折についての最新の動向が報告されます。分析機器メーカーによる大規模な展示会が併設されている点と、学術講演に先立って２日間程度のワークショップが開催されている点に特徴があり、情報収集および実習の場としても大きな役割を果たしています。ワークショップでは複数のテーマが併設されており、参加者は興味を持ったワークショップに参加することができます。 本会議には日本からも毎年多数の参加者をむかえていますが、このたび日本分析化学会・X線分析研究懇談会の主催で下記のワークショップを開催する運びとなりました。 このワークショップが成功し、海外における日本人研究者の存在が増すことを期待しておりますので、奮ってご参加いただければ幸いです。研究懇談会では若手研究者の本会議への参加助成を準備しておりますので、大学院生などにもご紹介いただければ幸いです http://www.dxcicdd.com/ ワークショップ 先端材料のX線分光分析における実験室および放射光Ｘ線利用の戦略 （Strategies for Advanced Materials Analysis with Lab & SR X-ray Spectroscopy） デンバーX線会議初日または２日目（7/27または28）に開催予定 主催者：早川　慎二郎（広島大院工） インストラクター：河合　潤（京都大）、中井　泉（東京理科大）、村松　康司（兵庫県立大）、 http://www.dxcicdd.com/09/callforpapers.htm 若手研究者への助成 　デンバー会議での発表を予定している若手研究者に対して、参加登録費および滞在費の補助として最大５万円の助成を計画しております。応募にはX線分析研究懇談会会員の推薦が必要となります。詳細が決まり次第、本HPに更新した情報を掲載します。 問い合わせ先 　広島大学大学院工学研究科　早川　慎二郎 　Tell　082-424-7609 　e-mail　hayakawa@hiroshima-u.ac.jp]]> tag:www.nims.go.jp,2009:/xray/xbun//2.84 2009-01-16T16:12:12Z 2009-01-16T16:16:39Z

主催：JST（科学技術振興機構） 共催：大阪市立大学 協賛：日本表面科学会関西支...

http://www.osaka-cu.ac.jp/info/commons/access.html を参照) 内容： X線分析法は材料解析、工程管理、環境分析、医療診断など様々な分野で利用されています。近年のX線分析の周辺技術の進歩に伴い、X線微小部分析やX線微量分析は大変重要な研究課題となっており、微小部分析に関しては、単に微小部の分析のみならず、元素マッピングや3次元分析などが行えるようになってきています。特に、”X-ray Chemical Imaging”は将来的に重要な課題であり、本シンポジウムでも重点的な議論項目です。なお、このJSTシンポジウムは、平成20年度大阪市立大学重点研究「ヒューマンアダプティブ・マテリアルの開拓」第4回シンポジウムとのジョイントミーティングとなります。 JST国際強化支援策：JST戦略的創造研究推進事業における課題に対して、研究成果を世界に発信し研究を推進するために国際シンポジウムの開催を支援する事業です。 参加費 無料ですが、参加される方は2009年2月5日までに下記連絡先までご連絡ください。 問い合わせ・連絡先 辻 幸一、大阪市立大学大学院工学研究科 e-mail: tsuji@a-chem.eng.osaka-cu.ac.jpTel/Fax: 06-6605-3080 ]]> Program Feb. 12 (Thu.) 9:45~15:30大阪市立大学重点研究シンポジウム 15:40~15:45 Introduction, Kouichi Tsuji, Osaka City University, Japan (1-1) 15:45~16:15　Micro XRF- sources, optics, detector, applications Peter Wobrauschek; Atominstitut, TU Wien, Austria (1-2) 16:15~16:45 XRF/XRD tomography and imaging at the micro- and nanoscale Koen Janssens; Antwerp University, Belgium (1-3) 16:45~17:05 Study on accumulation mechanism of Cd in hyperaccumulating plants by X-ray spectrometry utilizing a high-energy synchrotron radiation X-ray microbeam Akiko Hokura; Tokyo University of Science, Japan (1-4) 17:05~17:25 Reference materials (in film) for 3D-XRF analysis Kazuhiko Nakano; Osaka City University, Japan 17:30~ 19:00 Poster presentation (P-1) X-ray Fluorescence and Absorption Microtomography reveal Tissue Specific Distribution of Metals in Daphnia magna Björn De Samber; Ghent University, Belgium (P-2) Simultaneous acquisition of wave-dispersive X-ray spectra of several elements using strongly and accurately shaped Ge crystal Kouichi Hayashi; Tohoku University, Japan (P-3) In-situ XRF and XRD movie experiments Kenji Sakurai; National Institute for Materials Science, Japan (P-4) Status of the imaging application at the PXR beamline of LEBRA Manabu Inagaki; Nihon University, Japan (P-5) Energy dispersive X-ray fluorescence analysis with multi-excitations Koichi Muraoka; Institute of X-ray Technologies Co., Ltd, Japan (P-6) Development of MoSi2/Si multilayer Laue lens Hisataka Takenaka; NTT-AT Nanofabrication Co., Japan (P-7) Fundamental research on sample preparation for TXRF analysis Seiya Kawamata; Osaka City University, Japan (P-8) Grazing exit micro XRF analysis of layered reference materials Shintaro Fukuoka; Osaka City University, Japan (P-9) X-ray chemical imaging using polycapillary x-ray optics in the laboratory Tasuku Yonehara; Osaka City University, Japan (P-10) Micro X-ray beam produced by polycapillary x-ray lens and conical pinhole aperture Kazuo Nakamachi; Osaka City University, Japan (P-11) Micro XRF analysis in the solutions by using needle-type X-ray collimators Yoshihiko Nishida; Osaka City University, Japan (P-12) Grazing exit micro XRF analysis of biological samples Toru Awane; Kobe Material Testing Laboratory Ltd, Japan (P-13) Sub-ppm analysis by XRF Tadashi Utaka; Institute of X-ray Technologies Co., Ltd, Japan (この他に大阪市立大学重点研究シンポジウムから 40 件程度のポスター発表を予定) 19:00~ Mixer Feb. 13 (Fri.) (2-1) 9:30~10:00 Near surface nanolayer and nanoparticle analysis using X-ray standing waves Alex von Bohlen; ISAS Institute for Analytical Sciences, Germany (2-2) 10:00~10:20 Development of micro focus X-ray tube with multi targets for the micro area analysis Shuji Maeo; Osaka Electro-Communication University, Japan (2-3) 10:20~10:40 A simple and rapid method for trace element analysis of liquid samples using a benchtop EDXRF spectrometer Yoshiyuki Kataoka; Rigaku Corporation, Japan 10:40~11:00 Coffee break (2-4) 11:00~11:30 Chemical Analyses from Elemental Imaging George Havrilla; Los Alamos National Laboratory, USA (2-5) 11:30~11:50 XAFS studies for evaluation of the barrier system in the geological disposal for radioactive wastes Chiya Numako; The University of Tokushima, Japan (2-6) 11:50~12:10 X-ray fluorescence holography for visualization of 3D atomic arrangement Kouichi Hayashi; Tohoku University, Japan (2-7) 12:10~12:30 Advanced X-ray imaging using parametric X-ray radiation (PXR) Toshiro Sakae; Nihon University, Japan 12:30~14:00 Lunch break (2-8) 14:00~14:30 Instruments for X-ray imaging without scans - Historical review and future outlook Kenji Sakurai; National Institute for Materials Science, Japan (2-9) 14:30~14:50 X-ray chemical imaging with laboratory and synchrotron light sources Shinjiro Hayakawa; Hiroshima University, Japan (2-10) 14:50~15:10 X-ray chemical imaging with scanning- and projection modes in the laboratory Kouichi Tsuji; Osaka City University, Japan 15:10~15:30 Coffee break (2-11) 15:30~16:00 Advances in capillary optics use for micro-XRF and X-ray imagings Sultan B. Dabagov; INFN- Laboratori Nazionali di Frascati, Italy (2-12) 16:00~16:20 Latest developments of polycapillary optics and their applications Ning Gao; X-Ray Optical Systems, Inc., USA (2-13) 16:20~16:40 Multi capillary X-ray lens MCX (poly capillary) and its applications Hiroyoshi Soejima; Shimadzu Corporation, Japan (2-14) 16:40~17:00 The present and future X-ray detector and related technologies Kazuo Taniguchi; Institute of X-ray Technologies Co., Ltd, Japan 17:00~17:20 Coffee break (2-15) 17:20~17:40 Selective amplification of X-rays in the energy range 30-70 keV Jorge E. Fernandez; University of Bologna, Italy (2-16) 17:40~18:00 Novel oxide multilayer reflectors at "water-window" wavelengths fabricated by atomic layer epitaxy / atomic layer deposition Hiroshi Kumagai; Osaka City University, Japan (2-17) 18:00~18:20 X-ray imaging by using X-ray analytical microscope with mono-capillary Atsushi Bando; Horiba Ltd., Japan 18:30~ Dinner party Feb. 14 (Sat.) (3-1) 9:00~9:30 Synchrotron-radiation-based hard-X-ray nanoprobe Kazuto Yamauchi; Osaka University, Japan (3-2) 9:30~9:50 Laboratory and synchrotron radiation micro and nano X-ray fluorescence: Instrumental developments and applications in life science Björn De Samber; Ghent University, Belgium (3-3) 9:50~10:10 Phase-contrast hard X-ray microscopy with zone plate optical systems Yasushi Kagoshima; University of Hyogo, Japan 10:10~10:20 Coffee break 10:20~10:30 Memorial address, Kazumi Matsushige; Kyoto University, Japan (3-4) 10:30~11:00 TXRF using laboratory sources and Synchrotron radiation Christina Streli; Atominstitut, TU Wien, Austria 11:00~11:10 Coffee break (3-5) 11:10~11:40 Full-field transmission X-ray microscopy for bio- and nano- imaging Piero Pianetta; SLAC/Stanford University, USA (3-6) 11:40~12:10 Bridging science and art -Discovery of black cat hidden in "Le jardin de Daubigny" (V. van Gogh) through element mapping image analysis- Susumu Shimoyama; Kibi International University, Japan (3-7) 12:10~12:40 XRS in the context of environmental analysis and preventive conservation of cultural heritage Rene Van Grieken; Antwerp University, Belgium 12:40~12:50 Closing, Kouichi Tsuji, Osaka City University, Japan tag:www.nims.go.jp,2008:/xray/xbun//2.74 2008-10-16T07:01:05Z 2008-10-16T07:05:19Z

辻先生が企画されているJST　のシンポジウムの案内です。 お問い合わせは、下記に...

辻先生が企画されているJST　のシンポジウムの案内です。 お問い合わせは、下記にお願いいたします。 辻　幸一、大阪市立大学大学院工学研究科 電子メール: tsuji@a-chem.eng.osaka-cu.ac.jp Tel/Fax: 06-6605-3080 =================================================================== 日時：　2009年2月12－14日 場所：　大阪市立大学杉本キャンパス　学術情報総合センター アクセス：　http://www.osaka-cu.ac.jp/info/commons/access.html シンポジウム内容： 　X線分析は材料解析、工程管理、環境分析、医療診断など様々な分野で利用されている。近年のX線分析の周辺技術の進歩に伴い、X線微小部分析やX線微量分析は大変重要な研究課題となっている。微小部分析に関しては、単に微小部の分析のみならず、元素マッピングや3次元分析などが行えるようになってきた。特に、”X-ray Chemical Imaging”は将来的に重要な課題であり、本シンポジウムでも重点的に議論していきたい。 主催：JST（科学技術振興機構） 共催：大阪市立大学 協賛：日本表面科学会関西支部、日本分析化学会近畿支部、日本分析化学会X線分析研究懇談会 プログラム： 発表形式は口頭発表もしくはポスターとなります。このJSTシンポジウムは、平成20年度大阪市立大学重点研究「ヒューマンアダプティブ・マテリアルの開拓」第４回シンポジウムとのジョイントミーティングとなります。プログラムの詳細は後日お知らせします。 2月12日(木) 午前／午後：大阪市立大学重点研究シンポジウム 夕方：JSTシンポジウム(micro-XRS) 　　　ジョイントポスターセッション、ミキサー 2月13日(金) JSTシンポジウム（micro-XRS, imaging, TXRF）、懇親会 2月14日(土) 午前：JSTシンポジウム（standard materials for XRF, other topics） 講演参加登録： 　参加登録料は無料です。講演者は登録用紙に記入し、2008年10月末までに辻まで電子メールにて返信を願いします。ただし、講演プログラムの関係上、口頭発表を希望の場合でもポスター発表をお願いする場合もあります。講演者の方は2008年12月中にＡ4用紙で2ページの講演要旨の提出をお願いします。フォーマットなどの詳細は講演登録された方に、お知らせします。また、口頭・ポスター発表はされずに会議に参加される方も歓迎しますので、御氏名、ご所属、ご連絡先を事前に辻までご連絡ください。 電子メール: tsuji@a-chem.eng.osaka-cu.ac.jp 招待講演者（案）： Sultan Dabagov (INFN, Italy), X. Ding (Beijing Normal Univ., China), George Havrilla (Los Alamos National Laboratory, USA), Koen Janssens (Antwerp Univ., Belgium), Christina Streli (Vienna University of Technology, Austria), Peter Wobrauscheck (Vienna University of Technology, Austria), Piero Pianetta (Stanford Univ., USA), Bjorn De Samber (Ghent Univ., Belgium), Alex von Bohlen (ISAS, Dortmund, Germany) and others (SR-imaging researchers, in Japan). 企画者： 辻　幸一、大阪市立大学大学院工学研究科 電子メール: tsuji@a-chem.eng.osaka-cu.ac.jp Tel/Fax: 06-6605-3080 tag:www.nims.go.jp,2008:/xray/xbun//2.61 2008-04-23T02:21:00Z 2008-04-24T10:57:32Z

本年度のX線分析討論会の情報が下記にアップロードされております。 http://...

http://mcm-www.jwu.ac.jp/~hayashih/X44/x44.htm お早めにご参照ください。]]> tag:www.nims.go.jp,2008:/xray/xbun//2.60 2008-04-01T14:01:12Z 2008-04-03T02:15:03Z

中井先生のご依頼により、第16回講習会の案内を掲載いたします。 申込書はこちらで...

ワード, PDF -------------------------------------------------------------------------------------------- 第1６回X線分析講習会 蛍光X線分析の実際 （第5回） ―環境試料中の有害元素の迅速分析法、RoHS/ELV指令への対応 主催　日本分析化学会X線分析研究懇談会 共催　東京理科大学グリーン光科学技術研究センター 協賛　日本分析化学会、日本化学会、電気化学会、応用物理学会、日本結晶学会、日本セラミックス協会、 会期　７月14日(月）～ 16日（水）9時－17時半 会場　東京理科大学記念講堂、大会議室　1号館17階 　　(東京都新宿区神楽坂1-3　 TEL: 03-3260-4271) 　　　会場地図URL: http://www.tus.ac.jp/info/access/gmap/kag_gmap.html 　　　[交通]　JR、地下鉄飯田橋駅より徒歩4分 　　　 JR飯田橋駅の神楽坂方面出口から見える17階建ての建物の17階です： 　　　最寄り駅　　JR飯田橋駅西口（市ヶ谷寄り） 　　　　　　地下鉄飯田橋駅　B3出口（東京理科大出口）有楽町線、 南北線、 東西線、 大江戸線 　　　　 　 地下鉄は有楽町線、南北線が一番便利で、東西線はさらに5分くらい歩きます 参加申込締切 　定員 (講義　150名　実習　64名)　　先着順受付　 　ホームページ: http://www.nims.go.jp/xray/xbun/index.htm 本講習会の特徴　 1. WEEE/RoHS/ELV関連物質や土壌や食品中の有害微量元素の迅速非破壊分析法として脚光をあびている蛍光X線分析法を理解することができます。なお、本年3月20日には土砂類中の全ヒ素と全鉛の定量法として、EDXによる蛍光X線分析がJIS　K 0470として制定されており、本講習会でその分析技術が学べます。 2. 蛍光X線分析におけるブラックボックスの徹底理解をめざします。 3. 講師は各装置メーカーの方が多く、実践的なノウハウが学べます。 4. 蛍光光X線分析の全くの初心者の方からワンランクアップをめざしたい人までを対象としています。 5. 各社の卓上型蛍光X線分析装置が勢揃いし、実際の分析の様子を見ることができ、詳しい説明も聞けるので、これから装置の購入を考えている方にも絶好の機会となります。ハンディ分析装置の実習もあります。 6. 蛍光X線分析の装置、試料、アプリケーションなどに関して、日頃疑問に思っていることについての様々なご質問に各メーカーの方が実際の装置を前に丁寧にお答えします。 7. SEMやTEMに付属しているEDS分析装置を微小部元素分析装置として活用する方法がわかります。 8. デモ見学および実習により講義で学んだことをさらに確実な知識として身につけることができます。 実習１では、蛍光X線分析の定量法として広く利用されているFP（ファンダメンタルパラメーター）法の徹底理解をめざします。 実習2では、各社の誇る特徴的な装置を使った様々な試料の蛍光X線分析法を実習します。 プログラム]]> X線分析研究懇談会入会のおさそい X線分析研究懇談会年会費は以下の通りです。わずかの年会費で講習会参加費が大変お安くなりますので、ぜひこの機会にご入会をお勧めします。詳細はhttp://www.nims.go.jp/xray/xbun/index.htmをご覧下さい。 Ａ会員　日本分析化学会個人会員　1,000円　会員外　1,500円 Ｂ会員　日本分析化学会個人会員　4,500円　会員外　5,500円 　（Ｂ会員は毎年3月(株)アグネ技術センターより発行の「X線分析の進歩」(定価5,500円)を無料で受領できます）]]> tag:www.nims.go.jp,2007:/xray/xbun//2.52 2007-11-30T17:47:44Z 2007-11-30T17:50:53Z

第225回X線分析研究懇談会例会のご案内を掲示します。 主催　日本分析化学会X線...

http://www.fukuoka-u.ac.jp/講演 １，SAGA-LSにおけるＸ線分析（SAGA-LS）岡島敏浩 ２，産業技術総合研究所九州センターにおける機能材料に関するX線分析の現況（産総研）立山　博 ３，局在量子構造による材料科学（京大名誉）足立裕彦 参加費　無料 申込方法　氏名, 勤務先, 電話番号を記載し, E-mailまたはFAXにて下記にお申し込み下さい。 申込先　〒814-0180 福岡市城南区七隈8-19-1 福岡大学理学部　脇田久伸〔電話：092-871-6631内線6218, FAX:092-865-6030, E-mail:wakita@fukuoka-u.ac.jp〕 ]]>