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第41回Ｘ線分析討論会 |
| 主催： | 日本分析化学会Ｘ線分析研究懇談会 |
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| 共催： | 日本化学会・ＥＳＣＡ研究会 |
| 協賛: | 応用物理学会・環境科学会・環境資源工学会・関西分析研究会・日本機械学会・高分子学会・産業環境管理協会・資源素材学会・石油学会・繊維学会・大気環境学会・電気学会・電気化学会・土木学会・日本金属学会・日本結晶学会・日本材料学会・日本生化学会・日本セラミックス協会・日本鉄鋼協会・日本農芸化学会・日本放射光学会・日本分光学会・日本薬学会・日本XAFS研究会・廃棄物学会・PIXE研究協会・表面分析研究会・粉体粉末冶金協会 |
| 会期： | 2005年10月21日（金）・22日（土） |
| 会場： | 京都大学福井謙一記念研究センター 京都市左京区高野西開町34-4 |
| 電話： | 075-711-7708 |
| 交通： | 京阪 出町柳駅下車 北へ徒歩15分 http://www.fukui.kyoto-u.ac.jp/ |
| 討論主題： | 放射光を含めた新しい分析のビジョン，環境問題・社会課題へのＸ線分析の応用，有害重金属，反射率などによる表面分析，試料作製法などのノウハウ・失敗例． |
２．蛍光X線による銅合金中有害金属の迅速分析（Spectris・PANalytical，古河電工）○松田賢士，水平 学，山本信雄 ３．大口径半導体検出器を用いた電子材料中有害重金属の分析（X線技術研究所，大阪電通大）○村岡弘一，小池俊之，谷口一雄
５．難燃剤定量用プラスチック標準物質の開発（明大院理工，明大理工，大阪市立大）○橋本桂州，藤井毅浩，中野和彦，中村利廣 ６．公定法による土壌含有量試験方法に準拠した蛍光Ｘ線分析方法（産総研・地質情報）○丸茂克美，松野賢吉，小野木有佳
P２．Ｘ線回折法による簡易定量分析の精度について（京都府中小企業技術センター）○宮内宏哉，中村知彦，日置 正 P３．蛍光X線分析法による環境試料中の硫黄の化学状態別定量（明大院理工，明大理工）○上岡洋介，中村利廣 P４．自動車排ガス粒子の硫黄の化学状態分析（京大院工）○松本 諭，石井秀司，田邊晃生，河合 潤 P５．実験室で使用されるポリキャピラリーX線レンズの特性評価（大阪市大，Beijing Normal Univ.）○田中啓太，堤本 薫，X.Ding，辻 幸一 P６．初段FETの微弱順方向電流を利用した粉体検出器用プリアンプの検討（大阪電通大）○田辺謙造，谷口一雄 P７．蛍光X線分析による穀類食品中の微量金属の定量（大阪市大工，大阪市大院工）○松井 宏，中野和彦，辻 幸一 P８．１次X線のエネルギースペクトルと角度分布の評価（大阪電通大，日立造船）○坂井一郎，宇忠，前尾修司，葛下かおり，杉本巌生，野本大介，谷口一雄 P９．ポリキャピラリーＸ線レンズを用いた共焦点型三次元蛍光Ｘ線分析装置の設計と試作（大阪市大,，JST - PRESTO，北京師範大）○中野和彦，松田晃典， X. Ding， 辻 幸一， P10．多重励起]線源を用いたEDXRFの高度化（大阪電通大，日立造船）○前尾修司，宇高 忠，杉本巖生，坂井一郎，野本大介，谷口一雄 P11．注射針を用いた３ＤＸＲＦ分析装置の設計と試作（阪市大工，阪市大院工）○松田晃典，辻 幸一 P12．直列接合型超伝導トンネル接合素子を用いたX線検出器の開発（大阪電通大，理研）○志岐成友，倉門雅彦，谷口一雄 P13．マイクロ化学チップに対する全反射蛍光X線分析の適用（大阪市大工，マイクロ化学技研，東大院工，大阪市大院工）○花岡洋介，渡慶次 学，北森武彦，辻 幸一 P14．高電圧X線管を用いた環境試料中有害重金属の分析（大阪電通大）○宇高 忠，二宮利男，野村恵章，谷口一雄 P15．炭化ホウ素(B4C)の軟Ｘ線スペクトルにおける局所構造依存性（兵県大院理，兵県大院工）○蔵本健太郎，村松康司 P16．高精度EPMA測定による状態分析（旭化成）○小山 豊，藤本洋子，小西徳三 P17．HfOx薄膜へのSi添加に伴うHf-L1吸収端スペクトル構造変化に関する実験的考察（三菱電機先端総研）○上原 康，河瀬和雅 P18．新型ベンチトップWDX蛍光X線分析装置による土壌の環境分析（理学電機工業）○渡辺 充，森山孝男，堂井 真 P19．全反射X線光電子分光法によるWS2/C多層薄膜の解析（日本電子）○飯島善時，大濱敏之，田澤豊彦 P20．広島大学放射光科学研究センター（HSRC）BL11における軟X線蛍光X線分析・XAFS測定（広島大院工，名古屋大院工，東理大理，広島大院理，HSRC，京都大院エネ）○早川慎二郎，江角 拓，牧山勇介，八木伸也，馬込栄輔，森吉千佳子，喬 山，森川敦史，東野 達，生天目博文，廣川 健 P21．ＸＰＳによる機能性環状ポリアミン配位子の窒素原子の状態分析（福岡大高機能研，福岡大理）○松尾修司，山重寿夫，栗崎 敏，脇田久伸 P22．SEM−EDX連続X線スペクトルの黒体近似（京大院工）◯河合 潤，石井秀司 P23．粒別XAFS分析による酸化チタン光触媒粒子リスク評価（京大院工，高輝度光科学）○石井秀司，松本 諭，松井康人，寺田靖子，田邊晃生，内山巌雄，河合 潤 P24．乾電池式焦電結晶X線発生源を用いたX線吸収分光（京大院工）○三ツ谷翔太，石井秀司，河合 潤 P25．粉末ブリケット?蛍光Ｘ線分析法による多成分系粉末試料の定量（明大院理工，明大理工）○大渕敦司，中村利廣 P26．水素吸蔵合金のSEM-EDXによる元素分布分析（京大院工）○武田匡史，石井秀司，田邊晃生，河合 潤 P27． PRO-Traceプログラムを用いた蛍光X線による土壌中の微量重金属分析（Spectris・PANalytical）水平 学，松田賢士 P28．Tiクラスター添加 -FeOOHさびのXAFS解析（コベルコ科研，神戸製鋼所，大阪教育大）○世木 隆，中山武典，石川達雄，稲葉雅彦，渡部 孝 P29．エネルギー分散型ポータブル粉末X線回折装置の開発とエジプトの発掘現場におけるその場分析（東理大理，大阪電通大，早大国際教養）◯熊谷和博，保倉明子，中井 泉，谷口 一雄，吉村作治 P30．微量重金属分析用蛍光Ｘ線分析装置の土壌環境評価への応用（産総研・地質情報）○丸茂克美，氏家 亨，小野木有佳 P31．新型2次元検出器D/teX-25とそのアプリケーション（リガクX線研究所，リガク応用技術センター，リガク第１事業部）○田口武慶，岸 證，栗林 勝，紺谷貴之 P32．発散する単色Ｘ線を用いた非走査型Ｘ線反射率法（物材機構）桜井健次、○水沢まり
８．エネルギー分散型蛍光X線分析装置による大気浮遊粒子状物質の高感度組成分析（東理大理，Spectris・PANalytical）◯南齋雄一，保倉明子，中井 泉，松田賢士，水平 学 ９．ガラスビード-蛍光 X 線分析法による岩石中の主成分・微量成分元素の定量 −試料粉末の粒径とガラスビードの均質性−（明大院理工，明大理工）○中山健一，柴田康博，中村利廣
11．試料水平型Ｘ線反射率測定装置への人工多層膜モノクロメータの適用（学習院大理）○矢野陽子，飯島孝夫 12．Layer structures of polymer-metal thin film: X-ray and neutron reflectivity studies（筑波大院数理物質科学，物材機構）○Carlos Quioshi Hiramatsu，水沢まり，桜井健次 13．高感度・高分解能「Ｘ線発光」測定が切り開く，新しい「Ｘ線吸収」分光（東北大・多元研，科学技術振興機構 さきがけ）○林 久史 14．放射光Ｘ線マイクロビームによるメソ構造シリカの構造解析(キャノン1・高エネ研2)○野間敬1・向出大平1・高田一広1・宮田浩克1・飯田厚夫2)
15．全反射蛍光Ｘ線法のための試料採取方法についての検討（立教大院理）○渡邉慎悟，佐々木研一 16．無冷媒式マイクロカロリーメータシステム（エスアイアイ・ナノテクノロジー）○馬場由香里，田中啓一，小田原成計，永田篤士，池田正徳，中山 哲
18．機械研磨断面とクロスセクションポリッシャ断面のEPMA分析に対する影響比較（日本電子）○森 憲久，菊地真樹 19．二重湾曲結晶による微小領域への集光（大阪電気通信大学）○葛下かおり，前尾修司，坂井一郎，宇高 忠，谷口一雄
21．環境試料分析用モバイル型EDXRF（X線技術研究所，大阪電通大）○小池俊之，村岡弘一，谷口一雄 22．ポリキャピラリX線レンズを用いた微小部蛍光X線分析法の生物試料への応用（大阪市大院工，大阪市大院生活科学研究科，Beijing Normal Univ.）○堤本 薫，中野和彦，小西洋太郎，X. Ding，辻 幸一 23．モノキャピラリを用いた微小部膜厚測定法（堀場製作所）○宮坂真太郎，坂東 篤，石川純代，亀谷亜矢，横田佳洋
予約登録締切日 10月11日(火)（期日後に到着したものはすべて当日扱いになります） 討論会開催前日まで［10月18日(火)〜20日(木)］福井センターにて第14回X線分析講習会「蛍光X 線分析の実際（第三回） ―環境試料中の有害元素の迅速分析法，RoHS/ELV指令への対応―」を行っています．
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