過日、秋葉原ワークショップの会場を下見してまいりました。
ワークショップのページ
http://www.nims.go.jp/xray/ref/2009ws.htm
に会場の写真などもはめ込んでおりますので、よろしければご覧ください。
メイン会場は、ＪＲ秋葉原の改札を出てすぐ前にある秋葉原ダイビルの14F（筑波大秋葉原キャンパス）になります。第1日目と第2日目の昼間のすべての講演はここで行います。１４Ｆまでエレベータを上がると、すぐ入り口になります。ここの講義室３（突き当り右奥）を使います。
ふだんは法科大学院（夜間）で使われている教室で、下見に行った時は、どの机にも六法全書や法律書が積まれていてびっくりしましたが、ワークショップ当日は片づける（そのためのロッカーなどもある）ということでした。
1日目の夕方５時に、この秋葉原ダイビルを出て、ＪＲ線のガードをくぐってすぐ（徒歩３分）の富士ソフト秋葉原ビルに移動します。この１Ｆで懇親会（立食パーティ）を行います。また、夜の部の討論企画は、このビルの６Ｆのセミナールームにて行います。時間を決めて借用している関係上、懇親会終了後、すみやかに移動する必要があります。できるだけまとまって、エレベータで移動したいと思っています。
プログラムも、皆様の熱心なご協力を頂きまして、いちおう出来上がっております。後につけておきますが、最新版は常に下記にあります。
http://www.nims.go.jp/xray/ref/2009wsProgram.htm
http://www.nims.go.jp/xray/ref/2009wsProgramQuickView.htm
もし何か不都合なことや、変更の必要があることがあれば、お知らせください。
また、講演タイトル（和英）の修正などのご要望も承っております。
もうしばらくしたら、宿泊関係（レム秋葉原）の最終確認なども始めさせて頂きます。
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暫定プログラム案（2009.6.6 現在）
Buried Interface Science with X-rays and Neutrons 2009
埋もれた界面のＸ線・中性子解析に関するワークショップ2009
２００９年７月１３日（月）
09:50 ～ 10:00 Introductory Talk 桜井健次（物材機構）
（午前の座長) 奥田浩司
10:00 ～ 10:40 Ｘ線および中性子反射率による交換結合膜の磁気スピン構造の
解析(X-ray and neutron reflectivity study of the spin profile in the
exchange coupled magnetic bilayer system） 淡路直樹（富士通）
10:40 ～ 11:20 X線異常分散を利用した GISAXS によるGaAsによりキャップさ
れたInAsナノドットの形状測定("GISAXS study of InAs nanodots caped by
GaAs utilizing anomalous scattering effect) 表和彦（リガク）
11:20 ～ 12:00 時分割X線反射率測定によるタンパク質の気液界面吸着ダイナミクスの観測
(Time-resolved X-ray reflectivity study on a protein adsorbed at an air/water interface） 矢野陽子（立命館大学）
12:00 ～ 13:30 昼食休憩（90分）
（午後の座長１) 竹田美和
13:30 ～ 14:10 原子層堆積／原子層成長による「水の窓」軟X線酸化物多層膜ミラーの開発（Development of novel oxide multilayer mirrors at "water- window" wavelengths by atomic layer deposition / atomic layer epitaxy） 熊谷寛(大阪市大）
14:10 ～ 14:50 中性子反射率測定を用いたソフトインターフェースの表面・界面構造解析（Surface and Interface Analyses of Soft Interfaces by Neutron Reflectivity）高原淳（九大）
14:50 ～ 15:10 休憩（コーヒーブレーク）
（午後の座長２) 矢野陽子
15:10 ～ 15:30 複数層から構成される半導体ナノドット構造からのGISAXSの解析(GISAXS analysis on semiconductor nanodots in multilayerd structures) 奥田浩司（京大）
15:30 ～ 15:50 硬X線光電子分光法によるステンレス表面に形成した不動態皮膜の非破壊分析(Non-destructive analysis on passivation film formed on stainless steel surface using hard X-ray photoelectron spectroscopy) 高橋真（コベルコ科研）
15:50 ～ 16:10 冷中性子干渉・反射実験ポートMINE (MINE as a test port for cold neutron interferometry and reflectometry) 日野正裕（京大原子炉）
16:10 ～ 16:50 （演題未定） 竹田美和（名大）
16:50 富士ソフト秋葉原ビル（徒歩３分）へ移動
17:20 ～ 19:00 懇親会 （１Ｆ、立食パーティ）
（夜の討論企画の座長) 矢代航
19:00 ６Ｆの会議室へ移動
19:00 ～ 21:00
1. ヨハンソン分光結晶を用いたX線CTR散乱測定装置の開発 田渕雅夫（名大）
2. Surface and interfaces of temperature-responsive thin films Vallerie Samson Ann （筑波大）
3. InSb系合金のRMC解析 谷克彦（リコー）
4. (演題未定） 星野大樹(理研播磨)
5.（演題未定） 北原周（コベルコ科研）
6. 放射光を利用したトバモライト生成過程のその場X線回折 (In-situ X-ray Diffraction Analysis on Formation of Tobermorite using Synchrotron X-ray) 松野信也（旭化成）
7. X線反射率によるPd基アモルファス合金薄膜の結晶化温度測定 (Measurement of crystallization temperature of Pd-based amorphous alloy thin films by X-ray reflectivity) 山本篤史郎（東北大金研）
8. J-PARCに計画中の偏極中性子反射率計の基本性能 (The concept of the polarized neutron reflectometer designed for J-PARC) 武田全康（原子力機構）
２００９年７月１４日（火）
（午前の座長) 桜井健次
09:40 ～ 11:20 理論研究者との交流
1.塚田捷（東北大WPI-AIMR）
2.中山隆史（千葉大）、白石賢二（筑波大）
11:20 ～ 12:00 BL13XUの最近の現状（Current status of user researches at SPring-8 BL13XU） 坂田修身（JASRI）
12:00 ～ 13:30 昼食休憩
（午後の座長１) 川村朋晃
13:30 ～ 14:10 液中ダイナミックモード原子間力顕微鏡による局所溶媒和の構
造解析(Local Solvation Structures Investigated by Dynamic Force
Microscopy） 木村建次郎(神戸大)
14:10 ～ 14:30 X線導波現象の薄膜高次構造リアルタイム観測への応用
(Application to real time observation of film structure using X-ray
waveguide phenomenon） 林好一（東北大金研）
（午後の座長２) 林好一
14:30 ～ 14:50 X線の位相計測によるシリコン酸化膜およびシリコン窒化膜／
シリコン界面下のひずみの測定(Strain fields under the SiO_2/Si and
Si_3N_4/Si interfaces revealed by a multiple X-ray diffraction
phenomenon) 矢代航（東大新領域）
14:50 ～ 15:10 高繰り返しフェムトレーザーを用いたHe雰囲気下フェムト秒X
線源の開発(Development of femtosecond X-ray source in helium atmosphere
with millijoule high-repetition-rate femtosecond laser) 羽田真毅（京大）
15:10 ～ 15:30 中性子反射率法による表面／潤滑油界面の構造解析とそのトライボロジー特性(Structure of Solid-Liquid Interface Analyzed by Neutron Reflectometry and Its Effect on Tribological Properties) 平山朋子（同志社）
15:30 ～ Closing 桜井健次（物材機構）
