第4回クライオTEMセミナー(1/16)開催のお知らせ

日頃はNIMS電子顕微鏡ステーションをご利用いただきありがとうございます。
電子顕微鏡ステーションでは、TIA”かけはし”「医療工学応用を指向した生体ナノ構造体解析技術と次世代クライオ電子顕微鏡開発を実現する拠点構築に向けた調査研究」として以下の日程で「第4回クライオTEMセミナー」を開催いたします。
興味のある方は是非ご参加ください。

日 時:2018年1月16日(火) 15:30-16:30

場 所:国立研究開発法人 物質・材料研究機構 千現地区 第二会議室
    茨城県つくば市千現1-2-1
    物質・材料研究機構までのアクセス / 入構手続きのご案内はこちらをご覧ください。

入場無料・申込不要(当日受付にてお名前の記入をお願いいたします。)

題 目: クライオTEMにむけたエネルギー分散型X線分析(EDS)の分析手法の現在

講 師(敬称略):森田 博文(オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社)​

概 要
 従来のEDS分析に比べて近年ではSDD素子と高立体角を組み合わせたEDS分析が主流になってきている。さらに低エネルギーの感度向上のために、SDD素子とTEMのカラムとを遮蔽するウインドウをなくしたウインドウレスEDS検出器の登場で、軽元素の検出も大幅に改善された。クライオTEMでの分析には、クライオプローバーを用いて目的の試料位置をピックアップするなどの手法も組み合わされている。最新のEDS検出器とクライオピックアップを組み合わせた現在の分析例を紹介する。




























掲載日:2017年12月22日

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