「4D-STEMセミナー ~新たなSTEM像観察を実現する最新検出、解析手法の最前線~」(11/20 )

のお知らせ

日頃はNIMS電子顕微鏡ステーションをご利用いただきありがとうございます。
この度、下記の日程で「4D-STEMセミナー ~新たなSTEM像観察を実現する最新検出、解析手法の最前線~」を開催することになりました。
ご興味のある方は是非ご参加ください。

【開催日時】11月20日(月) 10:30~17:10(受付10:00~)

【セミナー場所】物質・材料研究機構(NIMS)千現地区 第1会議室
        物質・材料研究機構までのアクセス / 入構手続きのご案内はこちらをご覧ください。

【ラボツアー】物質・材料研究機構千現地区 JEM-ARM200F (定員最大30名)
       ※ラボツアーの申し込みは締め切りました。
        残念ながら抽選に漏れた方には、11月10日までにメールでお知らせいたします。

【意見交換会】17:30-19:00

【参加費】無料 (意見交換会:1,500円) ※参加には事前登録が必要になります。

【参加申し込み】参加申し込みはこちら
※WEB事前登録締め切り:11月16日(木)
 万が一、事前登録に間に合わなかった場合などには、当日セミナー会場受付まで直接お越しください。

【主催】 NIMS微細構造解析PF、NIMS電子顕微鏡ステーション​   
【プログラム案(敬称略)】※講義は日本語で行います。

 10:30~11:15 物質・材料研究機構 木本浩司
         原子コラム分解能を有する4D-STEM:原理実証から材料応用へ

 11:15~12:00 東北大学 津田健治
         STEM-CBED法による強誘電体の局所構造解析

 12:00~13:00 昼休み

 13:00~13:45 東京大学 柴田直哉
         高速分割型検出器を用いたDPC STEM法の現状と展望

 13:45~14:20 日本電子株式会社 佐川隆亮
         ピクセル型STEM検出器4DCanvasの開発とその応用

 14:20~14:55 株式会社日本ローパー ガタン事業本部 伊野家浩司
         Gatan社製TEM用カメラを使用した高速4D-STEMシステム、STEMx

 14:55~15:10 休憩

 15:10~16:00 ラボツアー

 16:00~16:35 Thermo Fisher Scientific Alex Bright
         EMPAD: An Ultra High Dynamic Range Pixelated Array Detector for
         Diffraction Imaging and 4D-STEM (日本語講演)

 16:35~17:10 東レリサーチセンター 久留島康輔
         多分割検出器およびプリセッション電子回折を用いた評価事例

 17:30~19:00 意見交換会 於NIMS食堂


【お問い合わせ】電子顕微鏡ステーション事務局
 E-mail:tem@nims.go.jp
 TEL:029-859-2150

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

掲載日:2017年10月17日

 

 

「4D-STEMセミナー ~新たなSTEM像観察を実現する最新検出、解析手法の最前線~」(11/20 )

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日頃はNIMS電子顕微鏡ステーションをご利用いただきありがとうございます。
この度、下記の日程で「4D-STEMセミナー ~新たなSTEM像観察を実現する最新検出、解析手法の最前線~」を開催することになりました。
ご興味のある方は是非ご参加ください。

【開催日時】11月20日(月) 10:30~17:10(受付10:00~)

【セミナー場所】物質・材料研究機構(NIMS)千現地区 第1会議室
        物質・材料研究機構までのアクセス / 入構手続きのご案内はこちらをご覧ください。

【ラボツアー】物質・材料研究機構千現地区 JEM-ARM200F (定員最大30名)
       ※定員の30名を超えた場合、抽選となりますのでご了承ください。
        残念ながら抽選に漏れた方には、11月10日までにメールでお知らせいたします。

【意見交換会】17:30-19:00

【参加費】無料 (意見交換会:1,500円) ※参加には事前登録が必要になります。

【参加申し込み】参加申し込みはこちら
※WEB事前登録は11月16日(木)までとなります。
  WEB事前登録締め切り後の参加申し込みは、セミナー当日に会場の受付で行いますので、直接会場までお越し下さい。

【主催】 NIMS微細構造解析PF、NIMS電子顕微鏡ステーション​   
【プログラム案(敬称略)】※講義は日本語で行います。

 10:30~11:15 物質・材料研究機構 木本浩司
         原子コラム分解能を有する4D-STEM:原理実証から材料応用へ

 11:15~12:00 東北大学 津田健治
         STEM-CBED法による強誘電体の局所構造解析

 12:00~13:00 昼休み

 13:00~13:45 東京大学 柴田直哉
         高速分割型検出器を用いたDPC STEM法の現状と展望

 13:45~14:20 日本電子株式会社 佐川隆亮
         ピクセル型STEM検出器4DCanvasの開発とその応用

 14:20~14:55 Gatan 伊野家浩司
         Gatan社製TEM用カメラを使用した高速4D-STEMシステム、STEMx

 14:55~15:10 休憩

 15:10~16:00 ラボツアー

 16:00~16:35 Thermo Fisher Scientific Alex Bright
         EMPAD: An Ultra High Dynamic Range Pixelated Array Detector for
         Diffraction Imaging and 4D-STEM (日本語講演)

 16:35~17:10 東レリサーチセンター 久留島康輔
         多分割検出器およびプリセッション電子回折を用いた評価事例

 17:30~19:00 意見交換会 於NIMS食堂


【お問い合わせ】電子顕微鏡ステーション事務局
 E-mail:tem@nims.go.jp
 TEL:029-859-2150

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

掲載日:2017年10月17日