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ユーザースクールNo.3 TOF-SIMS/XPS

2017.11.08
(2016.09.12 更新)

TOF-SIMS/XPS

プログラム概要


  •  対象:初級者
  • 講習形式:座学と見学
  • 開催日時:11月8日(水)13:00~16:00
  • 定員:10名
  • 開催場所:千現地区 精密計測実験棟
  • 内容:TOS-SIMS及びXPSの分析法の原理や装置概要、測定上の注意点の説明、分析事例説明、装置見学

申し込み方法

受講希望コースと、受講希望者のお名前、ご所属、お役職名、ご連絡先(電話番号、E-mail)をE-mailにてお知らせください。
  • 宛先:user-school@ml.nims.go.jp
  • 申込締切日:開催初日の1週間前
*応募者多数の場合は早めに締め切り、抽選にて決定させていただきます。