サンゴバン社米国研究所の研究者がNIMSを訪問

2014.2.26: NIMS並木地区、2014.2.28: NIMS千現地区

2014.03.01 更新

2014年2月26日 (水) 及び28日 (金) の両日、サンゴバン社米国研究所のDavid Lechevalier博士等がNIMSを訪問されました。4月26日 (水) は並木地区で、4月28日 (金) は千現地区で、NIMS研究者と各種先端材料に関する討論を行うとともに、クリープ実験施設等のNIMSが世界に誇る研究施設の見学を行いました。

島村清史・光学単結晶グループリーダーによる研究概要説明 (2月26日 : 並木地区)


打越哲郎・微粒子工学グループリーダーによる研究概要説明 (2月28日 : 千現地区)


木村一弘・材料信頼性評価ユニット長によるクリープ試験施設の説明 (2月28日 : 千現地区)




NIMS並木地区NanoGREEN棟のまえで (2014年2月26日)