第94回先端計測オープンセミナー
統計的機械学習に基づくスペクトラムイメージング解析
日時
2017年3月10日 (金) 10:00~11:00
場所
国立研究開発法人 物質・材料研究機構
千現地区 研究本館8階 中セミナー室
交通案内 →
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参加方法及びお問合わせ
事前登録は必要ありません。
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講演者
志賀 元紀 (岐阜大学 工学部 電気電子・情報工学科 (情報コース) 助教、
(兼) 科学技術振興機構 さきがけ (マテリアルズ・インフォマティクス領域)
表題
統計的機械学習に基づくスペクトラムイメージング解析
講演要旨
STEM-EELS等のスペクトラムイメージング計測では、試料表面の各点において局所的な構造を反映するスペクトルを網羅的に計測できる。しかしながら、その膨大なデータサイズのためにマニュアル解析が難しく、自動的かつ正確な手法が望まれる。本発表では、我々が開発した、計測データのみから電子状態の空間分布および成分スペクトルを自動的に同定する機械学習法を紹介する[1]。いくつかの実計測データの解析例を示し、開発手法の性能や汎用性を議論する。
[1] Shiga, et al., Ultramicroscopy, 170, 43-59, 2016.
