第101回先端計測オープンセミナー
「ナノとマクロをつなぐ材料評価へ : 小角散乱法による材料評価の拡張」
日時
2017年6月29日 (木) 15:00~16:00
会場
国立研究開発法人 物質・材料研究機構
千現地区 研究本館8階 中セミナー室
交通案内 →
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参加方法及びお問合わせ
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講演者
奥田浩司 (京都大学大学院工学研究科、准教授)
表題
「ナノとマクロをつなぐ材料評価へ : 小角散乱法による材料評価の拡張」
講演要旨
材料中のナノ構造は構造用材料での強化、超伝導材料中の磁束ピニングセンター、半導体などのナノドット構造など、材料特性を制御する重要な因子である。古くから析出過程の研究に利用されてきている小角散乱法は、マクロ領域の統計平均量としてナノ構造を評価することに特徴があった。放射光技術の発達により、ビームの微小化やエネルギー選択性、計測可能な波長領域の拡大が実現された結果、薄膜中の内部構造分布 (GISAXS法) やマイクロビーム走査小角散乱法など、ナノ構造の不均一性評価が実現されるようになってきた。本講演ではこれらの最近の発展に関して説明し、得られつつある成果について紹介する。