時間 タイトル 講演者 (所属)
10 : 00~10 : 05 開会挨拶 藤田 大介 (物質・材料研究機構)
10 : 05~10 : 20 国際標準化戦略について 藤代 尚武 (経済産業省)
10 : 20~10 : 40 ISO/TC202 マイクロビーム分析
~ 国際規格開発の歴史と将来展望 ~ 大堀 謙一 ( (株) 堀場製作所)
10 : 40~10 : 50 マイクロビーム分析に関する用語の国際標準化
~ EPMA、AEM、SEMの用語集 ~ 大堀 謙一 ((株) 堀場製作所)
10 : 50~11 : 10 電子線マイクロビーム分析 (EPMA) の国際標準化
~微小部簡便元素分析法(EPMA分析)の国際規格~ 北村 壽朗 ((株) 島津製作所)
11 : 10~11 : 30 分析電子顕微鏡 (AEM) の国際標準化
~ TEMの倍率校正法と電子線回折法を中心として ~ 亀井 一人 (早稲田大学)
11 : 30~11 : 50 走査型電子顕微鏡 (SEM) の国際標準化
~ 長さの標準とSEMの倍率校正 ~ 松谷 幸 (日本電子 (株) )
11 : 50~13 : 50 休憩
13 : 50~14 : 10 ISO/TC201表面化学分析) 国際標準化の現状と展望 野中 秀彦 (産業技術総合研究所)
14 : 10~14 : 30 X線反射率測定法 (XRR) および
全反射蛍光X線分光法 (TXRF) の国際標準化
~X線による表面分析法の原理と使い方~ 辻 幸一 (大阪市立大学)
14 : 30~14 : 50 生体材料の表面分析に関する国際標準化
~TOF-SIMSのバイオ応用の現状~ 木村 芳滋 (神奈川県立保健福祉大学)
14 : 50~15 : 10 表面化学分析に関する用語、一般的手順、データ処理
の国際標準化
~表面化学分析に取り組む際の共通する手引きを学ぶ~ 柳内 克昭 (TDK (株) )
15 : 10~15 : 20 休憩
15 : 20~15 : 40 電子分光法 (XPS、AES) の国際標準化
~ピーク分離結果の記録の仕方~ 吉川 英樹 (物質・材料研究機講)
15 : 40~16 : 00 二次イオン質量分析法 (SIMS) の国際標準化
~正しいデータを得るために~ 高野 明雄 ((株) トヤマ)
16 : 00~16 : 20 グロー放電分析法 (GDS) の国際標準化
~極微量元素分析の挑戦~ 我妻 和明 (東北大学金属材料研究所)
16 : 20~16 : 40 走査型プローブ顕微鏡 (SPM) の国際標準化
~ナノスケールでの構造・物性測定ガイドライン~ 井藤 浩志 (産業技術総合研究所)
16 : 40~16 : 45 閉会挨拶 大堀 謙一 ((株)堀場製作所)
