2009年度NIMSナノ計測センターシンポジウム

先端電子顕微鏡手法に関するシンポジウム　－新しい結像法と新しい分光法－

開催日 2010/02/05 (金)

近年、収差補正技術をはじめとする様々な革新的技術の開発が著しい透過型電子顕微鏡の研究分野において、新しい結像法と新しい分光法の研究に取り組んでいる国内の研究者による講演と議論・交流の機会を持つことを目的に、本シンポジウムを開催することになりました。
内容：招待講演および一般ポスター発表

概要

プログラム
12:15～	開場　受付
13:00-13:30	収差補正STEMを用いた環状明視野法による軽元素サイトの直接観察奥西栄治日本電子
13：30-14：00	収差補正TEM/STEMによるナノカーボン物質の構造評価佐藤雄太、末永和知産業技術総合研究所
14:00-14:30	収差補正STEMによる界面研究の新展開柴田直哉、Scott D.Findlay、溝口照康、山本剛久、幾原雄一東京大学
14:30-15:00	休憩(コーヒータイム)およびポスターセッションI
15:00-15:30	シリコン結晶中のヒ素ドーパント原子検出大島義文東京工業大学
15:30-16:00	電子線トモグラフィ法による結晶性材料の解析金子賢治九州大学
16:00-16:20	共焦点STEMの開発竹口雅樹物質・材料研究機構
16:20-16:50	休憩(コーヒータイム)およびポスターセッションII
16:50-17:20	TEM内外場制御技術を駆使したマンガン酸化物のナノ構造解析村上恭和東北大学
17:20-17:40	TEM用マイクロカロリメータ型EDS　—特徴と応用例— 原徹物質・材料研究機構
17:40-18:00	走査透過電子顕微鏡による極微小領域の結晶構造解析木本浩司物質・材料研究機構

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