NIMSイブニングセミナー2009後期 ( 8) 「電子顕微鏡による原子識別手法の最前線」

「電子顕微鏡による原子識別手法の最前線」

松井 良夫

ナノ計測センター 先端電子顕微鏡グループ／超高圧電顕共用ステーション　グループリーダー／ステーション長

電子顕微鏡が発明されて約70年が経つが、その性能と応用範囲は日々増大している。電子顕微鏡による原子識別手法とその先端材料への応用について、最新のデータに基づいて紹介する。

2009年11月27日（金）17:00～19:00

「走査型プローブ顕微鏡による物質・材料研究の最前線」

藤田 大介

ナノ計測センター／国際ナノアーキテクトニクス研究拠点(MANA)　センター長／MANA主任研究者

表面の構造や状態を尖鋭なプローブにより直接的に観察する顕微鏡が走査型プローブ顕微鏡である。発明以来26年が経過したが、現在でもなお活発な研究開発が進められており、その応用範囲は基礎科学から産業分野まで多岐にわたる。歴史、原理ならびに最近の研究トピックスについて紹介する。