SPM standardization 2017 研究会

テーマ「走査型プローブ顕微鏡の国際標準化」

概要　走査型プローブ顕微鏡（SPM）のISO国際標準化は、ISO TC201 SC9
で議論されている。用語や基本的な校正に関する規格化が行われ、
ナノ物性計測法の標準化の審議が開始されつつある。SPM国際標準化の
最新の進捗と、関連する学術討論を行う。

日時　2017年6月3日（土）　10:00〜17:00
場所：つくばイノベーションプラザ
　茨城県つくば市吾妻1丁目10-1
　つくばエクスプレス　つくば駅から徒歩3分
   http://www.city.tsukuba.ibaraki.jp/2117/007622.html

参加費（当日徴収）：5000円（予稿集代）、学生無料

参加申込：下記の情報を電子メールで送付すること
　　件名　SPM2017研究会申込
　　参加は6月2日12時まで受け付けます。
    宛先　h.itoh@aist.go.jp
　　本文に　氏名、所属、電話番号　を記載のこと

主な講演者
　 Dr. George Orji (NIST)、Dr. Charles Clifford (NPL)
   Prof. Haeseong Lee (JJ Univ.)、Prof Xing ZHU (Peking Univ.)
   Dr. Sang-Joon Cho (Park Systems)、 Dr. Hoon Kyu Shin
   Dr. Chae Ho Shin、Dr. Soo-Bong Choi
   Dr. Daisuke Fujita (NIMS)、Prof. Ken Nakajima (TITECH Univ.)
　 Dr. Hiroshi Itoh (AIST)、  Dr. Kentaro Sugawara(AIST)

主催　SPM standardization 2017 運営委員会　
共催　日本顕微鏡学会　走査型プローブ顕微鏡分科会
共催　NIMS国際標準化委員会
企画担当　井藤（AIST）、大西（NIMS）
URL　http://www.nims.go.jp/project/amcp/spm/