利用可能装置例
JEM ARM-1000 超高圧電子顕微鏡
加速電圧1000kVの超高圧電子顕微鏡で、通常のTEMよりも厚い試料の観察を行うことができ、大きく切りだして広い範囲を観察するなどに力を発揮します。 また、独自開発の360度回転試料ホルダーによって、超高圧の高い電子線透過能を生かしたトモグラフィーも可能です。 その他、800度までの加熱ホルダー、液体窒素温度低温ホルダーも利用可能です。
JEOL JEM-2500SES STEM-EELS
200kVの収差補正装置つきSTEMで、エネルギー損失分光(EELS)によって材料の組成や、価数などの情報を得ることができます。 最近では、試料導入チャンバーにグローブバックをつけることにより、大気に暴露することのできない試料の観察も可能となっています。 その他、800度までの高温ホルダーが利用可能です。
JEM-3000F 300kV予備観察電子顕微鏡
300kV の汎用、しかし強力なTEMで、EELSによるイメージフィルター像、EDSスペクトルが取得可能です。 またバイプリズムを装備しており、電子線ホログラフィーによる磁場・電位測定が可能です。 この他、ピエゾ駆動の短針を備えた試料ホルダーや、1200度までの加熱ホルダ一、液体窒素温度冷却ホルダーなどが利用可能です。






