極限計測ユニット　　　　表面物性計測グループ　　

研究分野：　ナノマテリアル創製のためのナノスケール計測

当グループでは、金属・半導体及び分子などの物質・材料から構成されたナノマテリアルの創製のためのナノスケール計測（構造、物性、機能）の研究を行っています。様々な環境場（極低温、高磁場、応力場、超高真空、高温場など）において低次元ナノマテリアルの構造を解明し、新しい機能や物性を探索することにより、機能性のある材料やデバイスの創製を目指しています。

　主な研究テ−マ

【極低温環境でのSi(100)表面の物性探索】
―STMによるSi(100)表面周期構造の操作―
　
Phys. Rev. Lett. 91, 146103 (2003)/Phys. Rev. B, 71, 245319 (2005)
表面科学 26, 306 (2005).

―Si(100)表面のドーパント分布―

【外部炭素源を使用しない自己再生型カーボンナノワイヤの物性】
　―炭素固溶Ni(111)におけるカーボンナノワイヤの表面析出―

【極微領域における低次元電子波の干渉と局所的フェルミ面】

Topography	dI/dV

―Ge(100)表面の電子定在波―
Topography	dI/dV
	Phys. Rev. B72, (2005)

【ナノスケール量子構造の創製】
―Si（100）表面における一次元量子井戸の創製―
Topography
dI/dV
	Appl. Phys. Lett. 88, 203118 (2006)

【応力歪場環境におけるナノスケール計測】
―　外部応力・歪みを印加可能な超高真空走査型トンネル顕微鏡―