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 ナノ電気計測グループは、興味深い特性が期待されるナノ構造の物性（特に電気特性）を直接計測することによって、ナノテクノロジー・ナノエレクトロニクスの発展に寄与していきます。具体的には、個々のナノ構造の電気特性を直接計測する新手法として、独立に駆動される２本、３本、４本の探針を持つ「多探針走査トンネル顕微鏡（MP-STM）」を開発しました。既にこれらの装置を用いて、ErSi2ナノワイヤーやフラーレンナノフィルムの電気抵抗計測に成功しています。さらに、ナノ構造の持つ機能性を評価・探索するための新しい多探針走査プローブ顕微鏡の開発を進めていきます。また、様々なナノフィルムやナノワイヤーを構築する手法開発も重要な研究と位置づけ、ナノ構造の構築とその物性計測・機能評価を密接に関連づけた研究を行います。 |
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