ナノ組織解析グループ

  ナノ組織解析グループでは、集束イオンビーム/走査電子顕微鏡(FIB/SEM)、（走査）透過型電子顕微鏡((S)TEM)や3次元アトムプローブ(3DAP)などを用いて、永久磁石を含む様々な磁性材料やデバイスの微細組織解析研究を行います。解析手法の高度化を進めつつも微細組織と特性の因果関係を詳細に解明することを重視した研究を進め、高特性材料の開発にむけた微細組織の設計指針を提案することで、材料開発の加速に貢献します。

  FIB/SEMやCs補正TEMなどの最新鋭の電子顕微鏡やアトムプローブトモグラフィーを用いて、微細構造をマルチスケールで詳細に解析し、永久磁石やスピントロニクス材料など、さまざまな磁性材料の構造-物性相関を明らかにします。