走査型透過電子顕微鏡

走査型透過電子顕微鏡(S/TEM)

FEI Titan G2 80-200

 球面収差補正(Cs-corrected)により電子線を非常に小さく収束させ、原子間距離を下回る0.08nmの空間分解能を持つ。単原子レベルでの構造観察や、EDS(Energy Dispersive x-ray Spectroscopy), EELS(Electron Energy-Loss Spectroscopy)等元素分析が可能な高分解能走査型透過電子顕微鏡(S/TEM)です。
Nd2Fe14B[110]のSTEM/HAADF像
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