植竹 一蔵 (うえたけ いちぞう)
若手国際研究拠点
特別研究員
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(研究テーマ)
非破壊検査、漏洩磁束探傷試験法
(論文リスト)
Paper in Journal
- 植竹一蔵、長井寿: 全方向きず検出のための回転磁界による漏洩磁束探傷試験法, 非破壊検査, Vol.52, No.5 (2003) pp246-253
- 植竹一蔵 :鋼ブロック片による交流磁束測定法の検討 非破壊検査, Vol.51, No.5 (2002) pp281-288
- 植竹一蔵 :漏洩磁束探傷試験法について, 科学図書出版メンテナンス Mar-97, No.202 (1997) pp5-8
- I. Uetake, T. Saito, Magnetic Flux Leakage by Adjacent Parallel Surface Slots, NDT&E International, Vol.30, No.6 (1997) pp371-376
- 植竹一蔵 :漏洩磁束探傷試験法, 非破壊検査, Vol.43, No.10 (1994) pp621-628
- 植竹一蔵 齋藤鉄哉 :近接している表面割れによる漏洩磁束とその評価法, 非破壊検査, Vol.42, No.8 (1993) pp455-463
- I. Uetake, H. Ito, T. Saito, The relation between Measured Value of Magnetic Flux Leakage and Sensor Size, NONDESTRUCTUVE TESTING AND EVALUATION, Vol.7, No.1-6 (1992) pp347-359
- 植竹一蔵 伊藤秀之 齋藤鉄哉 :漏洩磁束探傷試験における表面欠陥の定量的評価システムについて, 非破壊検査, Vol.41, No.11 (1991) pp657-664
- 植竹一蔵 伊藤秀之 齋藤鉄哉 :漏洩磁束探傷におけるセンサの寸法効果について.(第一報), 非破壊検査, Vol.40, No.5 (1990) pp291-297
- 植竹一蔵 伊藤秀之 :漏洩磁束探傷におけるリフトオフ効果と欠陥寸法評価法, 非破壊検査, Vol.33, No.10 (1984) pp788-797
- 植竹一蔵 桑江良教 伊藤秀之 :渦流探傷試験コイルにおける相互誘導インピーダンスの測定, 非破壊検査, Vol.29, No.5 (1980) pp329-337
- 植竹一蔵 伊藤秀之 :欠陥漏洩磁束に及ぼす磁化方向角度の影響, 非破壊検査, Vol.30, No.9 (1981) pp631-638
- 植竹一蔵 伊藤秀之 木村勝美 :磁粉探傷における磁粉の負客に対する材料の磁化の影響について, 非破壊検査, Vol.23, No.4 (1974) pp189-197
Proceedings
- I.Uetake and K.Nagai, Behavior of Leakage Flux Vector According to Excitation Frequency and Groove Depth, Proceeding of Seventh Workshop on Ultra Steel (2003) pp300-301
- 植竹一蔵 長井寿 :薄層分割モデルによる強磁性体の交流磁化状態の推定 日本非破壊検査協会平成15年度春季講演大会講演概要集 (2003) pp41-42
- 植竹一蔵 長井寿 :励磁周波数及びきず深さによる漏洩磁束ベクトルについて 日本非破壊検査協会平成15年度春季講演大会講演概要集 (2003) pp43-44
- 植竹一蔵、長井寿 :全方向表面きずによる漏洩磁束ベクトルの検討、第6回超鉄鋼ワークショップ概要集 (2002)
- 植竹一蔵、長井寿 : 回転磁界の適用と走査角度による漏洩磁束ベクトルについて、平成14年度春季大会講演概要集 (2002) pp7-8
- 植竹一蔵、長井寿 :溶接部の漏洩磁束探傷試験法適用の検討、溶接構造シンポジウム2002概要集 (2002) 11, pp19-20
- 植竹一蔵、長井寿 :回転磁界プローブの開発と漏洩磁束探傷試験, 保守検査シンポジウム講演論文集 (2001) pp210-215
- 植竹一蔵、長井寿 :漏洩磁束探傷試験における回転磁界の適用, 平成13年度春季大会講演概要集 (2001) pp111-112
- I. Uetake, H. Ito, T. Saito, Quantitative Evaluation of Defects by Magnetic Leakage Flux Testing Using a Sensor Composed of Multiple Magnetic Elements, Non-Destructive Testing (Proceedings of the 12th World Conference on Non Destructive Testing, Amsterdam April 23-28), Vol.1 (1989) pp293-298
Book/Review
- 植竹一蔵: 試験コイルのインピーダンスへの影響因子とインピーダンス変化, 渦流探傷試験III (2003) pp103-111
- 植竹一蔵:金属の電磁気的性質, 渦流探傷試験III, (2003) pp87-102
- 植竹一蔵 :非破壊試験と標準化, 設備と管理 (2002) pp108-110
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